一种IC料带检验装置制造方法及图纸

本公开揭示了一种IC料带检验装置，包括：装置主体，所述装置主体内设置有控制单元，所述装置主体包括主体上体和主体下体，主体上体上设置有底板，底板上设置有支撑杆，支撑杆向主体上体两侧外延伸，支撑杆上设置有在控制单元控制下用于将待测IC料带展开以进行检测的驱动单元。本公开能够自动将IC料带展开，从而能够减轻作业人员的工作负担。

【技术实现步骤摘要】

本公开属于集成电路测试，具体涉及一种ic料带检验装置。

技术介绍

1、目前，部分ic经过性能测试以及外观检验后，为了方便后续工序作业，需要通过编带机将其编带成卷，并且，为了避免编带机因自动检验异常而导致出现批量性的编带不良品流出，因此在编带后会进行人工抽检。

2、如图1所示，现有的ic料带检验装置一般为手摇式，在进行检验时，需要将一卷待检验产品套入一侧传动轴上，同时在另一侧传动轴上套入一个空卷盘，将待检卷盘内的卷带抽出一截并确认前空数量以及印字后，插入空卷盘的定位槽内，通过摇动手柄，使得待检卷带卷入空卷盘内，并在卷入的过程中对待检卷带中间展开的部分进行检验。

3、由于上述检验工具为手摇式，需要作业人员长时间摇动手柄，导致手臂酸痛无力，从而影响生产效率。另外，现有的检验装置工具无计数功能，无法确认卷带上的ic颗数，同时，由于依赖人眼检测，还存在空包(即卷带凹槽内没有ic)漏检的风险。

技术实现思路

1、针对现有技术中的不足，本公开的目的在于提供一种ic料带检验装置，该装置能够自动将ic料本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种IC料带检验装置，其特征在于，所述装置包括：

2.根据权利要求1所述的IC料带检验装置，其特征在于，所述驱动单元包括第一电机，第一电机上设置有第一传动轴，第一传动轴上设置有第一卷盘座，第一卷盘座上设置有待测IC料带；所述驱动单元还包括第二电机，第二电机上设置有第二传动轴，第二传动轴上设置有第二卷盘座。

3.根据权利要求2所述的IC料带检验装置，其特征在于，所述驱动单元还包括导轨。

4.根据权利要求3所述的IC料带检验装置，其特征在于，所述导轨上设置有感应器。

5.根据权利要求3或4所述的IC料带检验装置，其特征在于，所述导轨上还设置...

【技术特征摘要】

1.一种ic料带检验装置，其特征在于，所述装置包括：

2.根据权利要求1所述的ic料带检验装置，其特征在于，所述驱动单元包括第一电机，第一电机上设置有第一传动轴，第一传动轴上设置有第一卷盘座，第一卷盘座上设置有待测ic料带；所述驱动单元还包括第二电机，第二电机上设置有第二传动轴，第二传动轴上设置有第二卷盘座。

3.根据权利要求2所述的ic料带检验装置，其特征在于，所述驱动单元还包括导轨。

4.根据权利要求3所述的ic料带检验装置，其特征在于，所述导轨上设置有感应器。

5.根据权利要求3或4所述的ic料带检验装...

【专利技术属性】
技术研发人员：马海龙，方琪，孙孝辉，范传敏，卢旭坤，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：新型
国别省市：