一种掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布的分析方法技术

本发明专利技术涉及一种掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布的分析方法，所述方法利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布，所述方法包括：1）在ZnS基质材料表面镀上Cr膜以制备若干Cr含量不同的Cr：ZnS固体标准物质，其中，Cr在Cr：ZnS固体标准物质中均匀分布；2）通过电感耦合等离子体原子发射光谱法或电感耦合等离子体质谱法得到所述固体标准物质中Cr的含量，采用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法测定所述固体标准物质中Cr的响应信号强度，绘制Cr标准工作曲线；3）对待测掺Cr硫化锌晶体材料样品进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱检测，得到待测样品中Cr的含量及分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于分析化学领域，涉及一种固体进样分析掺Cr硫化锌(Cr:ZnS)晶体材料中0含量及分布的激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱分析方法。
技术介绍
作为在常温下可调谐的中红外固体激光材料，Cr:ZnS晶体材料在环境监测、大气遥感、医疗、激光通信等领域有着广泛的应用。掺杂元素Cr的含量及其均匀性是评价晶体性能的重要指标。掺杂元素在材料制备过程中的不均匀/梯度分布一直是困扰材料制备的重要问题，因此准确测定Cr的含量和分布情况对晶体制备及性能评价意义重大。目前，Cr掺杂含量测定主要采用电感耦合等离子体原子吸收光谱(ICP-AES)法和近红外吸收光谱法。这两种方法测定的均是样品中Cr的平均含量，因无法表征样品的均匀性，故影响测定结果的准确性。且ICP-AES法需要预处理将固体样品消解成溶液才能进行测定。激光剥蚀电感耦合等离子质谱(LA-1CP-MS)技术，已是现代固体材料中元素组成分布和同位素分析的最有用方法之一。方法采用直接固体进样分析，没有繁琐的样品预处理和复杂的数据处理过程，且样品几乎是无损的，可用于样品的整体分析和微区原位分析，获得某一特定位置的元素组成和分布特征信息。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布的分析方法，其特征在于，所述方法利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析掺Cr硫化锌晶体材料中Cr的含量及分布，所述方法包括：1）在ZnS基质材料表面镀上Cr膜以制备若干Cr含量不同的Cr：ZnS固体标准物质，其中，Cr在Cr：ZnS固体标准物质中均匀分布；2）通过电感耦合等离子体原子发射光谱法或电感耦合等离子体质谱法得到所述固体标准物质中Cr的含量，采用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法测定所述固体标准物质中Cr的响应信号强度，绘制Cr标准工作曲线；3）对待测掺Cr硫化锌晶体材料样品进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱检测，得到待测样品中Cr的含量及分布。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱燕，汪正，李超宇，张国震，屈海云，寇华敏，
申请(专利权)人：中国科学院上海硅酸盐研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31