本实用新型专利技术提供一种承载装置及其适用的测试机台，包括：框架；第一支撑件，可移动地设置于框架上，并与框架的两相对侧边相连接；第二支撑件，可移动地设置于框架上，并与框架的两相对侧边相连接；以及多个承载模块，分别可移动地设置于第一支撑件及第二支撑件，以承载待测物。借此，本实用新型专利技术可达到节省测试的时间与成本的功效。
【技术实现步骤摘要】
本技术关于一种承载装置，尤指一种承载装置及其适用的测试机台。
技术介绍
随着科技的发展，越来越多的电子产品被生产以及使用，为了有效控管每一项产品的品质及性能，在生产时往往需要进行相对应的测试，其中射频测试是电子领域中普遍应用的产品测试方式之一。—般而言，为了使电子产品于进行射频测试时可固定于射频测试装置上，射频测试装置多设有承载装置以固定电子产品，方便射频测试的进行。同一尺寸的承载装置仅能固定相同尺寸的电子产品，因此，传统上在进行不同尺寸产品的射频测试时，需使用尺寸相对应的承载装置，方能有效的固定电子产品于射频测试装置上。然而，现今电子产品的种类众多，其尺寸各不相同，因此在进行不同产品的射频测试时，需要耗费时间更换相对应的承载装置，才能够继续进行测试。除此的外，电子产品从研发至生产以至于产品寿命结束的周期极短，每次新产品的开发，都需要针对新产品设计新的承载装置以满足测试需求，射频测试的成本便随的增加。故此，如何发展一种有别于往的承载装置及其适用的测试机台，以改善常用技术中的问题与缺点，并能节省射频测试的时间与成本，实为目前
中的重点课题。
技术实现思路
本技术的主要目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，俾解决先前技术中，每次开发新产品时均须重新设计并制造测试治具，所导致的耗费时间及成本的缺点。本技术的另一目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，通过可移动的支撑件及承载模块的设置，当进行测试时，可调整承载装置所能承载的尺寸大小，以节省测试时更换相对应的承载装置的时间，并减少生产承载装置的成本。本技术的另一目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，通过可移动的层板及基板的设置，当进行测试时，可调整测试装置与待测物的间的距离及位置，以寻找最佳的测试位置，提高测试的效能。本技术的另一目的为提供一种承载装置及其适用的测试机台，其中承载装置及测试机台所使用的材料均选用非金属材质，可大幅减少对测试性能的干扰。为达上述目的，本技术的一较佳实施例为提供一种承载装置，包括:一框架；一第一支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的两相对侧边相连接;一第二支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的所述两相对侧边相连接；以及多个承载模块，分别可移动地设置于所述第一支撑件及所述第二支撑件，以承载一待测物。在本技术的一个实施例中，所述框架具有多个第一孔洞，所述第一支撑件具有多个第二孔洞，且所述第二支撑件具有多个第三孔洞，其中所述多个第一孔洞沿一第一方向同时形成于所述两相对侧边，所述多个第二孔洞沿一第二方向及一第三方向形成于所述第一支撑件，且所述多个第三孔洞沿所述第二方向及所述第三方向形成于所述第二支撑件，其中所述第二方向与所述第一方向相垂直，且所述第三方向与所述第一方向平行。在本技术的一个实施例中，承载装置还包括多个第一连接件以及多个第二连接件，其中每一个所述第一连接件可选择地穿设于所述多个第二孔洞之一及所述多个第一孔洞之一，以连接所述第一支撑件与所述框架，且每一个所述第二连接件可选择地穿设于所述多个第三孔洞之一及所述多个第一孔洞之一，以连接所述第二支撑件与所述框架。在本技术的一个实施例中，承载装置还包括多个第三连接件，其中每一个所述第三连接件可选择地穿设于所述多个第二孔洞之一或所述多个第三孔洞之一，且每一个所述承载模块以至少一个所述第三连接件与所述第一支撑件或所述第二支撑件相连接。在本技术的一个实施例中，每一个所述承载模块上具有多个穿孔，每一个所述第三连接件可选择地穿设于所述多个穿孔之一及所述多个第二孔洞之一，以连接所述承载模块与所述第一支撑件，或每一个所述第三连接件可选择地穿设于所述多个穿孔之一及所述多个第三孔洞之一，以连接所述承载模块与所述第二支撑件。在本技术的一个实施例中，每一个所述承载模块具有一承载表面及一限位平台，其中所述限位平台自部分的所述承载表面延伸而出，用以对承载于所述承载表面的所述待测物加以限位。为达上述目的，本技术的另一较佳实施例为提供一种承载装置及其适用的测试机台，包括:一承载装置，包括:一框架;一第一支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的两相对侧边相连接;一第二支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的所述两相对侧边相连接；以及多个承载模块，分别可移动地设置于所述第一支撑件及所述第二支撑件，以承载一待测物。多个支柱，分别与所述框架相连接;一层板，与所述多个支柱相连接；以及一基板，可移动地设置于所述层板上，用以承载一测试装置。在本技术的一个实施例中，测试机台还包括多个第四连接件，所述层板具有多个第四孔洞，所述基板具有多个第五孔洞，其中每一个所述第四连接件可选择地穿设于所述多个第五孔洞之一及至少一个所述第四孔洞，以连接所述基板与所述层板。在本技术的一个实施例中，所述层板设置于所述框架的下方，且所述层板通过多个调整元件与所述多个支柱相连接，并因应所述多个调整元件的调整沿所述多个支柱上下移动。在本技术的一个实施例中，测试机台还包括一基座及多个隔板，其中所述多个支柱设置于所述基座，每一个所述隔板具有多个穿槽并邻设于至少一个所述支柱，且每一个所述调整元件对应地穿设于所述多个穿槽之一。本技术提供的一种承载装置及其适用的测试机台，通过可移动的支撑件及承载模块的设置，当进行测试时，可调整承载装置所能承载的尺寸大小，以节省测试时更换相对应的承载装置的时间，并节省生产承载装置的成本。同时，通过可移动的层板及基板的设置，当进行测试时，可调整测试装置与待测物的间的距离及位置，以寻找最佳的测试位置，提高测试的效能。其中承载装置及测试机台所使用的材料均选用非金属材质，可大幅减少对测试性能的干扰。【附图说明】图1显示本技术较佳实施例的承载装置的结构示意图。图2显示图1所示的承载模块的结构示意图。图3显示本技术较佳实施例的承载装置及其适用的测试机台结构示意图。图4显示图3所示的层板及基板的结构示意图。图5显示本技术另一较佳实施例的承载装置及其适用的测试机台结构示意图。其中，附图标记说明如下:1:承载装置10:框架100:第一孔洞101、102:相对侧边11:第一支撑件110:第二孔洞12:第二支撑件120:第三孔洞13:承载模块130:穿孔131:承载表面132:限位平台2、7:测试机台 20、70:支柱21、71:层板22、72:基板210:第四孔洞220:第五孔洞3:待测物41:第一连接件42:第二连接件43:第三连接件44:第四连接件5:测试装置6:调整元件61:下齿轮型螺丝62:上齿轮型螺丝73:基座74:隔板740:穿槽741:刻度【具体实施方式】体现本技术特征与优点的一些典型实施例将在后段的说明中详细叙述。应理解的是本技术能够在不同的态样上具有各种的变化，其均不脱离本技术的范围，且其中的说明及图示在本质上当作说明之用，而非架构于限制本技术。请参阅图1、图2及图3，其中图1显示本技术较佳实施例的承载装置的结构示意图，图2显示图1所示的承载模块的结构示意图，图3显示本技术较佳实施例的承载装置及其适用的测试机台结构示意图。如图1、图2及图3所示，本技术较佳实施例的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种承载装置，其特征在于，包括：一框架；一第一支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的两相对侧边相连接；一第二支撑件，可移动地设置于所述框架上，并与所述框架的所述两相对侧边相连接；以及多个承载模块，分别可移动地设置于所述第一支撑件及所述第二支撑件，以承载一待测物。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张庆，
申请(专利权)人：仁宝电脑工业股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71
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