一种储层分析的方法及其应用技术

本发明专利技术涉及一种利用孔隙结构参数进行储层分析的方法，包括：1)对目标层进行岩心采样并测定多个孔隙结构参数；2)获得目标层全井段的孔隙度和渗透率数据，并取得全井段的渗透率与孔隙度比值曲线；3)针对步骤1)测定的每个孔隙结构参数，进行拟合；4)挑选出步骤3)中的拟合程度好的孔隙结构参数，以及孔隙结构参数的拟合出的函数关系；5)计算得到目标层全井段的优选孔隙结构参数的指示曲线；6)建立孔隙结构指示曲线(Rc)的计算公式；以及7)计算出目标层的全井段的孔隙结构指示曲线，以此来对全井段目标层进行分析。本发明专利技术还涉及上述方法在油气勘探和/或开发中的应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种储层分析方法，尤其涉及一种利用孔隙结构参数来进行的储层分析方法。本专利技术还涉及该方法在油气勘探和/或开发领域的应用。
技术介绍
储层分析一直是油气勘探、开发中的基础和重点。目前，常见的利用孔隙结构参数进行储层分析的基本思路是，通过对取心段的岩心或地面岩石样品进行采样后，在实验室通过压汞、铸体薄片、扫描电镜及核磁共振等手段，来确定其储层的孔隙结构参数，进而以点代面的来确定某一目标层的储层孔隙结构参数，以此来指导储层分析。《储层岩石微观孔隙结构研究方法与理论综述》(郝乐伟等，2013.10)和《致密储层孔隙隙结构研究方法概述》(彭攀等，2014.2)对储层岩石微观孔隙结构研究方法进行了总结和分析，从中可见目前的利用孔隙结构参数进行储层分析的方法基本都是基于数量有限的样品的孔隙结构参数对整个目标层进行分析的，这些方法对于取心资料较多的、且储层非均质性较弱的地区还比较适用，但是对于储层非均质性较强的致密砂岩储层则不太适用，主要存在如下两个方面的问题:(I)由于钻井取心成本等的限制，不可能在钻井过程中进行大规模的取心，由于沉积环境、后期成岩作用和构造运动等因素的变化，储层在纵向上的分布存在着很大的非均质性，即使取心很多，也不可能把取全所有类型的储层样品。由于较大的非均质性，在分析整个储层时，准确性较低。(2)由于分析测试工作量和成本等因素的限制，也不可能进行高密度的、大量的铸体薄片、电镜扫描和压汞等分析测试。因此，利用数量有限的样品孔隙结构参数来对目标层进行储层分析具有很大的局限性。因此，本领域亟需一种可操作性更强和/或更加准确的方法来进行储层分析。
技术实现思路
为了解决上述现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种新的利用孔隙结构参数进行储层分析的方法，包括如下步骤:I)对目标层进行岩心采样，并对采样的每块岩心分别进行多个孔隙结构参数的测定;2)获得测井专业计算的目标层全井段的孔隙度(Φ)和渗透率(k)数据，并且取全井段的渗透率与孔隙度比值曲线(k/Φ)；3)针对步骤I)测定的每个孔隙结构参数，进行下列处理:将步骤I)测定得到的每个样品的该孔隙结构参数与对应的步骤2)计算得到的渗透率/孔隙度比值、孔隙度或者渗透率进行交会，拟合出该孔隙结构参数与渗透率/孔隙度比值、孔隙度或者渗透率的函数关系；4)挑选出步骤3)中的拟合程度好的孔隙结构参数，以及孔隙结构参数的拟合出的函数关系；5)将步骤2)中获得的全井段的孔隙度和/或渗透率分别代入步骤4)中得到的挑选出的孔隙结构参数的挑选出的拟合出的函数关系中，计算得到目标层全井段的挑选出的孔隙结构参数的指示曲线；6)通过数学变换的方法，根据步骤4)中得到的挑选出的孔隙结构参数，建立孔隙结构指示曲线(Re)的计算公式；以及7)根据孔隙结构指示曲线(Re)的计算公式，利用步骤5)中得到的全井段的每个挑选出的孔隙结构参数的指示曲线，计算出目标层的全井段的孔隙结构指示曲线，以此来对全井段目标层进行分析。其中，除非在逻辑上是必要的之外，上述步骤I)至7)并不一定需要顺序地依次进行。本专利技术的步骤I)中对目标层进行岩心采样，本领域的技术人员可以理解的是，优选选取最能够反映目标层的岩性组合以及储层特性的岩心。在本专利技术的一个优选的实施方式中，步骤I)中所述孔隙结构参数包括喉道半径(Rth)、孔隙半径(Rp)、最终进汞饱和度(Shg)、主流喉道半径、平均毛管半径、喉道半径方均根值、孔喉半径比平均值、微观均值系数、分选系数、最大连通喉道半径、排驱压力、总孔隙进汞饱和度、总喉道进汞饱和度、总孔/喉体积比和可动流体百分比等中的两种或多种，优选包括喉道半径(Rth)、孔隙半径(Rp)和最终进汞饱和度(Shg)。步骤3)中的通过分析所述孔隙结构参数与渗透率/孔隙度比值、孔隙度或者渗透率之间具备何种函数关系(如一次函数关系、二次函数关系、对数关系、指数关系等)，以其相关系数最高者为原则来进行所述拟合。在本专利技术的一个优选的实施方式中，步骤4)中挑选得到的孔隙结构参数包括喉道半径(Rth)、孔隙半径(Rp)和/或最终进汞饱和度(Shg)。本专利技术的专利技术人经过实验发现，利用喉道半径(Rth)、孔隙半径(Rp)和/或最终进汞饱和度(Shg)能更加准确地反映储层的储藏油气情况，使得分析结果更加准确、客观。在本专利技术的一个优选的实施方式中，步骤4)中挑选出的函数关系包括喉道半径与渗透率/孔隙度比值的函数关系、孔隙半径与孔隙度的函数关系和/或最终进汞饱和度与渗透率/孔隙度比值的函数关系。在本专利技术的一个优选的实施方式中，所述喉道半径与渗透率/孔隙度比值的函数关系为一次函数关系。在本专利技术的一个优选的实施方式中，所述孔隙半径与孔隙度的函数关系为一次函数关系。在本专利技术的一个优选的实施方式中，最终进汞饱和度与渗透率/孔隙度比值的函数关系为二次函数关系或一次函数关系，更加优选为二次函数关系。本专利技术的专利技术人经过实验发现，利用上述优选的函数关系能更加准确地反映储层的储藏油气情况，使得分析结果更加准确、客观。在本专利技术的一个优选的实施方式中，以对步骤4)挑选得到的孔隙结构参数中影响储层性能较大的参数进行放大，对影响储层性能较小的参数进行缩小的方式来建立步骤6)中所述的孔隙结构指示曲线(Re)的计算公式。这样能够使得分析结果更加直观。例如，在一个优选的实施方式中，在步骤5)中得到目标层全井段的喉道半径指示曲线、最终进汞饱和度指示曲线和孔隙半径指示曲线。在此情况下，由于岩石储层的储集空间主要由孔隙和喉道组成，储层中流体的流动能力主要取决于喉道的大小，而孔隙半径与喉道半径大小往往存在2至3个数量级的级差，最终进汞饱和度主要反映了储层中流动能力和流体饱和度，因此，在建立孔隙结构指数时，对喉道半径进行放大，对孔隙半径和最终进汞饱和度进行缩小，最终使好储层、差储层及非储层的孔隙结构指数曲线呈现出较明显的差异，以达到利用孔隙结构指示曲线较直观的分析储层好坏的目的。因此，本专利技术的优选的实施方式是，利用数学变换的方法，对第五步中得到的全井的喉道半径指示曲线进行放大，对孔隙半径指示曲线和最终进汞饱和度指示曲线进行缩小，来建立孔隙结构指示曲线(Re)计算公式。在本专利技术的一个优选的实施方式中，使用步骤7)中计算出的目标层的全井段的孔隙结构指示曲线，参考测井解释的储层类型、储层中流体性质及测试产能，来对全井段目标层进行分析。在本专利技术的一个优选的实施方式中，利用已知的能够进行储层分析的孔隙结构参数和/或孔隙结构参数与渗透率和/或孔隙度的函数关系，作为步骤4)中挑选出的孔隙结构参数和/或孔隙结构参数的拟合出的函数关系，从而省略步骤4)中的相应步骤，和/或省略步骤3)中相应的不挑选出的步骤。本专利技术的当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用孔隙结构参数进行储层分析的方法，包括：1)对目标层进行岩心采样，并对采样的每块岩心分别进行多个孔隙结构参数的测定；2)获得测井专业计算的目标层全井段的孔隙度和渗透率数据，并且取得全井段的渗透率与孔隙度比值曲线；3)针对步骤1)测定的每个孔隙结构参数，进行下列处理：将步骤1)测定得到的每个样品的该孔隙结构参数与对应的步骤2)计算得到的渗透率/孔隙度比值、孔隙度或者渗透率进行交会，拟合出该孔隙结构参数与渗透率/孔隙度比值、孔隙度或者渗透率的函数关系；4)挑选出步骤3)中的拟合程度好的孔隙结构参数，以及孔隙结构参数的拟合出的函数关系；5)将步骤2)中获得的全井段的孔隙度和/或渗透率分别代入步骤4)中得到的挑选出的孔隙结构参数的挑选出的拟合出的函数关系中，计算得到目标层全井段的挑选出的孔隙结构参数的指示曲线；6)通过数学变换的方法，根据步骤4)中得到的挑选出的孔隙结构参数，建立孔隙结构指示曲线的计算公式；以及7)根据孔隙结构指示曲线的计算公式，利用步骤5)中得到的全井段的每个挑选出的孔隙结构参数的指示曲线，计算出目标层的全井段的孔隙结构指示曲线，以此来对全井段目标层进行分析。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：肖开华，冯动军，王丹丹，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11