本发明专利技术涉及一种分析孔隙度的方法。该方法在建立已知储层的测井参数和岩心分析孔隙度的对应关系过程中快速识别并排除异常点，挑选能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体趋势的特征数据快速建立较为准确的建立已知储层的测井参数和岩心分析孔隙度的对应关系，并利用该关系，通过待解释储层的测井参数来准确分析待解释储层的孔隙度。由于本发明专利技术方法每次只删除一个异常数据，不影响测井参数与岩心分析孔隙度的整体关系趋势，避免了误删数据，提高了工作效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于石油地球物理勘探
，涉及一种分析储层孔隙度的方法，该方法用于测井资料处理解释和储量分析中的孔隙度分析。
技术介绍
孔隙度分析是测井解释和储量计算中的重要环节，通常利用测井参数与岩心分析孔隙度建立数理统计关系，并由此进行孔隙度分析。由于测井资料质量受井眼状况、测量仪器工作状态等因素的影响，同时岩心分析实验也存在一定的测量误差，因此建立测井参数与岩心分析孔隙度数理统计关系时常存在一些异常点，这些异常点不符合测井参数与岩心分析孔隙度的整体关系趋势，如何准确地识别并放弃这些异常点，从而得到能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体关系趋势的特征数据，是孔隙度建模面临的一个重要问题。当前测井解释人员常用的方法是先利用全部数据建模，然后凭借肉眼一次删除一个或几个在游离于整体关系趋势之外的异常点，之后再利用剩下的数据点来建立测井参数与岩心分析孔隙度数理统计关系，再次删除异常点，如此多次，直到得到自己觉得满意的孔隙度模型。这个过程较繁复，又依赖于测井解释人员的判断。因此目前需要研究开发一种方法，能快速自动识别异常点，挑选出能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体趋势的特征数据来准确建立测井参数与岩心分析孔隙度数理统计关系，从而能够由测井参数准确的对孔隙度进行分析。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种分析储层孔隙度的方法。该方法在建立储层的岩心分析孔隙度和测井参数的对应关系过程中快速识别并排除异常点，挑选能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体趋势的特征数据快速建立较为准确的建立储层的岩心分析孔隙度和测井参数的对应关系，并利用该对应关系通过待解释储层的测井参数来准确分析待解释储层的孔隙度。为此，本专利技术提供了一种分析储层孔隙度的方法，其包括：步骤A，通过测井资料获取储层的测井参数；步骤B，测量储层中n个深度的岩心分析孔隙度；步骤C，建立储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；步骤D，利用步骤C中所建立的储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系通过测井参数来确定待解释储层的孔隙度。本专利技术中，所述测井参数包括测井实测值和/或测井计算值。所述测井实测值包括声波时差测井值、密度测井值、中子测井值中的至少一个。所述测井计算值由声波时差测井值、密度测井值、中子测井值中的至少一个计算得到。例如，测井计算值包括但不限于由声波时差测井值计算得到的声波孔隙度、密度测井值计算得到的密度孔隙度、中子测井值计算得到的中子孔隙度、中子测井值与密度测井值（或声波时差测井值）计算得到的平均孔隙度等。本专利技术中，n为正整数。根据本专利技术，步骤C包括：步骤K，以测井参数为横坐标，以岩心分析孔隙度为纵坐标，建立平面直角坐标系，并将n对岩心分析孔隙度和相同深度的测井参数所对应的n个数据点绘制于坐标系内，并且所述数据点的坐标为（xj，yj），其中，xj为测井参数值；yj为岩心分析孔隙度；j=1、2、…、n-i；i=0、1、2、…n-1；步骤L，对n-i对岩心分析孔隙度和相同深度的测井参数所对应的n-i个数据点进行线性拟合获得如式（Ⅰ）所示的拟合直线；y=ai·x+bi 式（Ⅰ）其中，ai为所述拟合直线的斜率，bi为所述拟合直线的截距，ai和bi均为步骤L直线拟合过程中直接获得；步骤M，通过式（Ⅱ）计算各数据点与步骤L中的拟合直线的距离；dj=|ai·xj-yj+bi|(ai2+1)]]> 式(II)步骤N，依据各数据点与步骤L中的拟合直线的距离判断是否存在异常点，并确定储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系。根据本专利技术，在步骤N中，依据各数据点与步骤L中的拟合直线的距离对n-i个数据点进行排序，选出距离排序最大的数据点和距离排序中部的数据点，通过式（Ⅲ）计算距离排序最大的数据点和距离排序中部的数据点的距离倍数，然后将其与距离倍数界限值进行比较，并且，当所计算的距离倍数大于距离倍数界限值时，则判断该距离排序最大的数据点为异常点，剔除该数据点，i值加1，重复步骤L到N，直到所计算的距离倍数大于距离倍数界限值，则判断为无异常数据点，步骤L中所拟合的直线即为储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；l=lenmax/len50 式（Ⅲ）其中，l为距离最大的数据点的距离倍数；lenmax为距离最大的数据点的距离；len50为排序在中部的数据点的距离，该数据点的排序为（n-i）/2。在本专利技术的一个实施例中，所述距离倍数界限值为2-5。本专利技术中有测井参数、岩心分析孔隙度数据共n对，被剔除的异常数据点i对，i初始值为0。在本专利技术的一个优选实施方式中，可以进一步利用计算机程序来进行本专利技术步骤K-N的操作，利用计算机程序可以在建立已知储层的测井参数和岩心分析孔隙度的对应关系过程中自动识别并排除异常数据，挑选能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体关系趋势的数据进行孔隙度建模，可以避免人工孔隙度建模时对经验的依赖。利用计算机进行本专利技术步骤K-N的操作，可以自动识别异常数据，比人工识别异常数据快速、准确。本专利技术所提供的一种分析储层孔隙度的方法在建立储层的岩心分析孔隙度和测井参数的对应关系过程中快速识别并排除异常点，挑选能代表岩心分析孔隙度与测井参数整体趋势的特征数据，快速建立较为准确的岩心分析孔隙度和测井参数的对应关系，并利用该对应关系通过待解释储层的测井参数来准确分析待解释储层的孔隙度。由于本专利技术方法每次只删除一个异常数据，不影响岩心分析孔隙度与测井参数的整体关系趋势，避免了误删数据。特别地，利用计算机进行本专利技术步骤K-N的操作，可以自动识别并排除孔隙度建模中的异常数据，挑选能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体关系趋势的数据进行孔隙度建模，避免了人工孔隙度建模时对经验的依赖，提高了工作效率，具有广阔的应用前景。附图说明下面将结合附图来说明本专利技术。图1为本专利技术方法步骤L-N的流程图。图2为实施例1中向坐标系中载入测井参数和岩心分析孔隙度数据图。图3为实施例1中挑选出异常数据点后所建立的储层的岩心分析孔隙度与经泥质校正的密度孔隙度的对应关系效果图。具体实施方式为使本专利技术更加容易理解，下面将结合实施例和附图来详细说明本专利技术，这些实施例仅起说明性作用，并不局限于本专利技术的应用范围，下列实施例中未提及的具体实本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种分析储层孔隙度的方法，其包括：步骤A，通过测井资料获取储层的测井参数；步骤B，测量储层中n个深度的岩心分析孔隙度；步骤C，建立储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；步骤D，利用步骤C中所建立的储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系通过测井参数来确定待解释储层的孔隙度。
【技术特征摘要】
1.一种分析储层孔隙度的方法，其包括：
步骤A，通过测井资料获取储层的测井参数；
步骤B，测量储层中n个深度的岩心分析孔隙度；
步骤C，建立储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；
步骤D，利用步骤C中所建立的储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关
系通过测井参数来确定待解释储层的孔隙度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测井参数包括测井实测
值和/或测井计算值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测井实测值包括声波时
差测井值、密度测井值、中子测井值中的至少一个。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测井计算值由声波时差
测井值、密度测井值、中子测井值中的至少一个计算得到。
5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，步骤C包括：
步骤K，以测井参数为横坐标，以岩心分析孔隙度为纵坐标，建立平面直角
坐标系，并将n对岩心分析孔隙度和相同深度的测井参数所对应的n个数据点绘
制于坐标系内，并且所述数据点的坐标为（xj，yj），
其中，xj为测井参数值；
yj为岩心分析孔隙度；
j=1、2、…、n-i；
i=0、1、2、…n-1；
步骤L，对n-i对岩心分析孔隙度和相同深度的测井参数所对应的n-i个数据
点进行线性拟合获得如式（Ⅰ）所示的拟合直线；
y=ai·x+bi 式（Ⅰ）
其中，ai为所述拟合直...
【专利技术属性】
技术研发人员：张军，李军，武清钊，苏俊磊，南泽宇，王晓畅，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11
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