识别储层的方法以及识别储层中流体类型的方法技术

技术编号:14618985 阅读:159 留言:0更新日期:2017-02-10 10:29
本发明专利技术公开了一种用于识别储层的方法和用于识别储层中流体类型的方法,其中,识别储层的方法包括:岩性识别步骤,根据获取到的待分析地层段的预设测井曲线,确定待分析地层段中各个地层的岩性;异常点确定步骤,获取各个地层的电性参数,并根据各个地层的岩性和电性参数确定各个地层的异常点;储层确定步骤,根据异常点确定待分析地层段中的储层。相较于现有的储层识别方法,本方法的识别结果更为准确、可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及油气勘探开发
,具体地说,涉及一种用于识别储层及储层中流体类型的方法。
技术介绍
致密复杂储层往往具有埋藏深、岩性复杂、低孔低渗、孔隙结构复杂、非均质性强等特点,这也就造成了有效储层和非有效储层难以划分、油气水层无法准确判断的问题。现有的储层识别方法大都是采用建立研究区经验表达式的方式,这虽然解决了一些实际问题,但是解释精度并不理想,使得致密复杂储层的有效识别和流体的准确判别一直是油气勘探开发领域的行业难题。近年来核磁、成像等测井新技术的发展,很大程度上促进和提高了对这类储层的研究程度,但这些新技术的应用成本很高,往往一个研究区只有几口关键井的数据,所以最后的评价工作还是主要依靠常规测井的方法。基于上述情况,亟需一种能够方便、准确地进行储层识别的方法。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提供了一种用于识别储层的方法,所述方法包括:岩性识别步骤,根据获取到的待分析地层段的预设测井曲线,确定所述待分析地层段中各个地层的岩性;异常点确定步骤,获取各个地层的电性参数,并根据所述各个地层的岩性和电性参数确定各个地层的异常点;储层确定步骤,根据所述异常点确定所述待分析地层段中的储层。根据本专利技术的一个实施例,所述岩性识别步骤包括:获取所述待分析地层段的地下岩石样品和预设测井曲线,依据所述地下岩石样品标定同一深度位置的预设测井曲线;根据各个岩石类型的预设测井曲线的响应特征,确定所述待分析地层段中各个地层的岩性。根据本专利技术的一个实施例,所述岩性包括泥岩、砂岩和砂砾岩中的任一项或几项。根据本专利技术的一个实施例,所述预设测井曲线包括自然伽马曲线和电阻率曲线。根据本专利技术的一个实施例,如果地层的自然伽马值小于或等于第一预设伽马阈值,且其电阻率值大于或等于第一电阻率阈值,则判断该地层为砂砾岩地层;如果地层的自然伽马值大于第一预设伽马阈值而小于第二预设伽马值,且其电阻率值小于第一电阻率阈值而大于第二预设电阻率阈值,则判断该地层为砂岩地层;如果地层的自然伽马值大于或等于第二预设伽马阈值,且其电阻率值小于或等于第二电阻率阈值,则判断该地层为泥岩地层。根据本专利技术的一个实施例,所述第一预设伽马阈值的取值范围包括[30,40],所述第二预设伽马阈值的取值范围包括[70,80],所述第一预设电阻率阈值的取值范围包括[95,115],所述第二预设电阻率阈值的取值范围包括[20,30]。根据本专利技术的一个实施例,所述异常点确定步骤包括:泥岩地层异常点确定步骤,获取各个泥岩地层的纯泥岩点,根据各个纯泥岩点的电性参数获取电性参数异常的纯泥岩点,作为泥岩地层的异常点;和/或,砂岩地层异常点确定步骤,获取各个砂岩地层的纯砂岩点,根据各个纯砂砾岩点的地层参获取电性参数异常的纯砂砾岩点,作为砂岩地层的异常点;和/或,砂砾岩地层异常点确定步骤,获取各个砂砾岩地层的纯砂砾岩点,根据各个纯砂砾岩点的地层参获取电性参数异常的纯砂砾岩点,作为砂砾岩地层的异常点。根据本专利技术的一个实施例,获取各个纯泥岩地层的纯泥岩点的步骤包括:对于每个泥岩地层,从该泥岩地层中获取厚度不小于预设厚度阈值、且所述预设测井曲线的波动在预设波动范围内的地层,作为纯泥岩地层;获取所述纯泥岩地层的特征点,作为该泥岩地层的纯泥岩点。根据本专利技术的一个实施例,在所述泥岩地层异常点确定步骤中:根据各个泥岩地层的纯泥岩点的电性参数,构建泥岩地层的正常压实趋势线;获取各个纯泥岩点到所述泥岩地层的正常压实趋势线的距离,并将与所述泥岩地层的正常压实趋势线的距离大于第一预设距离阈值的纯泥岩点作为泥岩地层的异常点。根据本专利技术的一个实施例,所述电性参数包括声波时差。根据本专利技术的一个实施例,在所述储层确定步骤中:根据所述泥岩地层的异常点,确定所述待分析地层段中的储层,得到第一识别结果;根据所述砂岩地层和砂砾岩地层的异常点,确定所述待分析地层段中的储层,得到第二识别结果;根据所述第一识别结果和第二识别结果,确定所述待分析地层段中的储层。根据本专利技术的一个实施例,统计所述第一识别结果和第二识别结果的交集,将得到的地层作为所述待分析地层段中的储层。本专利技术还提供了一种用于识别储层中流体类型的方法,所述方法包括:储层识别步骤,根据如上所述的用于识别储层的方法,识别待分析地层段中的储层;含水饱和度确定步骤,基于所述储层的电阻率和胶结指数,根据预设模型获取所述储层的含水饱和度;地层流体识别步骤,根据所述储层的含水饱和度,确定所述储层中所含流体的类型。根据本专利技术的一个实施例,所述预设模型包括:其中,Sw表示含水饱和度,n表示饱和度指数,a和b分别表示与地层因素和电阻率增大率相关的系数,Rw表示地层水电阻率,表示测井孔隙度,m表示胶结指数,Rt表示地层电阻率。根据本专利技术的一个实施例,所述胶结指数为常数。根据本专利技术的一个实施例,所述胶结指数与地层电阻率成函数关系。根据本专利技术的一个实施例,在所述地层流体识别步骤中:如果所述储层的含水饱和度小于或等于第一预设含水饱和度阈值,则判断所述储层为气层;如果所述储层的含水饱和度大于第一预设含水饱和度阈值,且小于第二预设含水饱和度阈值,则判断所述储层为气水同层;如果所述储层的含水饱和度大于或等于第二预设含水饱和度阈值,则判断所述储层为水层。根据本专利技术的一个实施例,所述第一预设含水饱和度阈值的取值范围包括[45%,55%],所述第二含水饱和度的取值范围包括[60%,70%]。本专利技术所提供的储层识别方法基于地层压实原理,通过分析能够反映地层压实特性的电性曲线随深度的变化趋势,获取地层的欠压实区,即地层孔隙度偏离正常趋势线增大的区域,这样也就确定了油气储层的位置。相较于现有的储层识别方法,本专利技术所提供的方法能够更加方便、准确地进行储层识别。同时,本专利技术利用地层“双异常”,即最终得到的储层利用泥岩地层进行分析时出现压实异常,而利用砂岩和砂砾岩地层分析是出现孔隙度异常,这样有效弥补了利用泥岩地层压实原理进行地层段识别的盲区。泥岩压实异常和砂岩孔隙异常两种分析也可以相互验证,有助于提高地层段的识别率。这种立足于地层压实原理,利用泥岩地层压实异常和砂岩、砂砾岩孔隙异常分析来识别地层段的手段,大幅度改善了致密复杂地层段和流体识别评价精度,提高了测井解释符合率。本专利技术所提供的储层的流体类型识别方法大幅度提高了含水本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于识别储层的方法,其特征在于,所述方法包括:岩性识别步骤,根据获取到的待分析地层段的预设测井曲线,确定所述待分析地层段中各个地层的岩性;异常点确定步骤,获取各个地层的电性参数,并根据所述各个地层的岩性和电性参数确定各个地层的异常点;储层确定步骤,根据所述异常点确定所述待分析地层段中的储层。

【技术特征摘要】
1.一种用于识别储层的方法,其特征在于,所述方法包括:
岩性识别步骤,根据获取到的待分析地层段的预设测井曲线,确定所述待分
析地层段中各个地层的岩性;
异常点确定步骤,获取各个地层的电性参数,并根据所述各个地层的岩性和
电性参数确定各个地层的异常点;
储层确定步骤,根据所述异常点确定所述待分析地层段中的储层。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述岩性识别步骤包括:
获取所述待分析地层段的地下岩石样品和预设测井曲线,依据所述地下岩石
样品标定同一深度位置的预设测井曲线;
根据各个岩石类型的预设测井曲线的响应特征,确定所述待分析地层段中各
个地层的岩性。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述岩性包括泥岩、砂岩
和砂砾岩中的任一项或几项。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设测井曲线包括自然伽
马曲线和电阻率曲线。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,
如果地层的自然伽马值小于或等于第一预设伽马阈值,且其电阻率值大于或
等于第一电阻率阈值,则判断该地层为砂砾岩地层;
如果地层的自然伽马值大于第一预设伽马阈值而小于第二预设伽马值,且其
电阻率值小于第一电阻率阈值而大于第二预设电阻率阈值,则判断该地层为砂岩
地层;
如果地层的自然伽马值大于或等于第二预设伽马阈值,且其电阻率值小于或
等于第二电阻率阈值,则判断该地层为泥岩地层。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一预设伽马阈值的取值
范围包括[30,40],所述第二预设伽马阈值的取值范围包括[70,80],所述第一预
设电阻率阈值的取值范围包括[95,115],所述第二预设电阻率阈值的取值范围包
括[20,30]。
7.如权利要求3~6中任一项所述的方法,其特征在于,所述异常点确定步

\t骤包括:
泥岩地层异常点确定步骤,获取各个泥岩地层的纯泥岩点,根据各个纯泥岩
点的电性参数获取电性参数异常的纯泥岩点,作为泥岩地层的异常点;和/或,
砂岩地层异常点确定步骤,获取各个砂岩地层的纯砂岩点,根据各个纯砂砾
岩点的地层参获取电性参数异常的纯砂砾岩点,作为砂岩地层的异常点;和/或,
砂砾岩地层异常点确定步骤,获取各个砂砾岩地层的纯砂砾岩点,根据各个
纯砂砾岩点的地层参获取电性参数异常的纯砂砾岩点,作为砂砾岩地层的异常
点。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,获取各个纯泥岩地层的纯泥岩
点的步骤包括:
对于每个泥岩地层,从该泥岩地层中获取厚度不小于预设厚度阈值、且所述
预设测井曲线的波动在预设波动范围内的地层,作为纯泥岩地层;
...

【专利技术属性】
技术研发人员:李浩王丹丹魏修平冯琼
申请(专利权)人:中国石油化工股份有限公司中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
类型:发明
国别省市:北京;11

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