一种分析储层非均质性的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种分析储层非均质性的方法和装置，包括：根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造；根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析；根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析。通过本发明专利技术的方案，基于岩心刻度电成像测井资料和核磁共振测井资料，对储层进行宏观非均质性和微观非均质性的分析，由于电成像测井资料和核磁共振测井资料纵向连续，且精度高，因此，提高了分析储层非均质性的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种分析储层非均质性的方法和装置
本专利技术涉及测井地质领域，尤指一种分析储层非均质性的方法和装置。
技术介绍
储层非均质性是指储层的各种性质随其空间位置而变化的属性。主要表现在岩石物质组成的非均质和孔隙空间的非均质。 目前识别储层非均质性的方法主要包括综合地质分析方法、储层地质建模法和实验室分析法等。 其中，综合地质分析方法利用渗透率变异系数、渗透率极差及单层突击系数等参数来综合分析储层非均质性；储层地质建模法是通过地质统计学方法，利用已知数据实现对油气储层非均质性的表征和刻画；综合地质分析方法和储层地质建模法仅从宏观上识别储层非均质性，且其孔隙度和渗透率资料来自于常规测井资料，而常规测井资料精度较低。 实验室分析法主要利用岩心薄片或铸体薄片鉴定、扫描电镜以及压汞识别等方法识别储层非均质性。实验室识别法，重点是对储层微观非均质性进行研究，又因岩心少、零散，无法对储层进行系统、连续和全面的非均值性识别。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提出了一种分析储层非均质性的方法和装置，能够提高分析精度。 为了达到上述目的，本专利技术提出了一种分析储层非均质性的方法，包括: 根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造； 根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析； 根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析。 优选地，所述根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析包括: 根据储层的岩性和层理构造将储层划分为不同的岩性相单元，根据各岩性相单元的岩性相对所述储层的宏观非均质性进行分析。 优选地，所述根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析包括: 根据核磁共振测井资料分析所述储层的孔隙结构，根据所述储层的孔隙结构对所述储层的微观非均质性进行分析。 优选地，所述根据核磁共振测井资料分析储层的孔隙结构包括: 根据所述储层的核磁共振测井资料获取所述各岩性相单元的横向弛豫时间和孔隙度之间的对应关系，根据获得的对应关系分析所述各岩性相单元的孔隙结构。 本专利技术还提出了一种分析储层非均质性的装置，至少包括: 识别模块，用于根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造； 第一分析模块，用于根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析； 第二分析模块，用于根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析。 优选地，所述第一分析模块具体用于: 根据储层的岩性和层理构造将储层划分为不同的岩性相单元，根据各岩性相单元的岩性相对所述储层的宏观非均质性进行分析。 优选地，所述第二分析模块具体用于: 根据核磁共振测井资料分析所述储层的孔隙结构，根据所述储层的孔隙结构对所述储层的微观非均质性进行分析。 优选地，所述第二分析模块具体用于: 根据所述储层的核磁共振测井资料获取所述各岩性相单元的横向弛豫时间和孔隙度之间的对应关系，根据获得的对应关系分析所述各岩性相单元的孔隙结构。 与现有技术相比，本专利技术包括:根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造；根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析；根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析。通过本专利技术的方案，基于岩心刻度电成像测井资料和核磁共振测井资料，对储层进行宏观非均质性和微观非均质性的分析，由于电成像测井资料和核磁共振测井资料纵向连续，且精度高，因此，提高了分析储层非均质性的精度。 【附图说明】 下面对本专利技术实施例中的附图进行说明，实施例中的附图是用于对本专利技术的进一步理解，与说明书一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术保护范围的限制。 图1为本专利技术分析储层非均质性的方法的流程图； 图2为本专利技术岩性识别的示意图； 图3为本专利技术层理构造识别的示意图； 图4为本专利技术岩性相识别的示意图； 图5为本专利技术储层的横向弛豫时间和孔隙度之间的对应关系的示意图； 图6为本专利技术各孔隙类型的孔隙度占总孔隙度百分比的示意图； 图7为本专利技术分析储层非均质性的装置的结构组成示意图。 【具体实施方式】 为了便于本领域技术人员的理解，下面结合附图对本专利技术作进一步的描述，并不能用来限制本专利技术的保护范围。 参见图1，本专利技术提出了一种分析储层非均质性的方法，包括: 步骤100、根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造。 本步骤中，具体可以采用现有方法来识别储层的岩性和层理构造，并不用于限定本专利技术的保护范围，这里不再赘述。例如，申请号为“CN201210089632.0”，专利技术名称为“一种碎屑岩岩性识别方法及系统”的中国专利技术专利中详细记载了识别岩性的方法，申请号为CN201210095243.9，专利技术名称为“一种层理构造识别方法及系统”的中国专利技术专利中详细记载了识别层理构造的方法。 图2为岩性识别的示意图，如图2所示，第一列为岩心照片，第二列为大比例尺深度刻度，第三列为电成像静态图像，第四列为深度小比例尺深度刻度，第五列为自然伽马曲线，第六列为通过岩性识别所建立的岩性剖面。第六列中，虚线的方框表示岩性为泥岩，两边为实心圆点，中间为空心圆点的方框表不岩性为含碌粗砂岩，两边为空心圆点，中间为实心圆点的方框表示岩性为砂砾岩，那么，从图中可以看出，识别出储层包含有3种岩性，分别为泥岩、含砾粗砂岩及砂砾岩。 图3为层理构造识别的示意图，如图3所示，第一列为深度刻度，第二列为电成像动态图像示意图，第三列为倾角矢量，第四列为岩心照片，识别出储层的层理构造为下切型板状交错层理。 步骤101、根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析。 本步骤中，根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析包括: 根据储层的岩性和层理构造将储层划分为不同的岩性相单元，根据各岩性相单元的岩性相对储层的宏观非均质性进行分析。 其中，在识别岩性与层理构造的基础上，根据不同的岩性与层理构造组合可以将储层划分为不同的岩性相单元，每一个岩性相单元对应一种岩性相，由于储层的岩性相反映了储层的沉积环境水动力条件，水动力条件越强，代表沉积时水体能量越高，形成的储层物性越好。因此，从地质成因上或宏观上看不同的岩性相单元其储集物性有差异，图4为岩性相识别的示意图，如图4所示，第一列为深度刻度，第二列为自然伽马曲线，第三列为通过岩性识别所建立的岩性剖面，第四列为电成像静态图像示意图，第五列为电成像动态图像示意图，第六列为倾角矢量，第七列为T2谱，第八列为识别出的岩性相，第九列为孔隙度，第十列为渗透率，第三列中三个实心圆点的方框表示岩性为粗砂岩，那么，3756-3761.5米(m)深的砂体可以划分出3种岩性相，分别为板状交错层理砂砾岩、槽状交错层理砂砾岩和块状层理粗砂岩。 槽状交错层理砂砾岩沉积时水体能量最高，岩心实验室分析孔隙度为17.1%，渗透率为25.5毫达西(md)，储集物性最好，板状交错层理砂砾岩沉积时水体能量稍低，岩心实验室分析孔隙度为14.9%，渗透率为14.2md，储层物性较差，块状交错层理粗砂岩沉积时水体能量最弱，岩心实验室分析孔隙度为13.8%，渗透率为8.8md，储层物性最差。 上述对储层的宏观非均质性分析结果与实验室分析结果相吻合，说明该分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分析储层非均质性的方法，其特征在于，包括：根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造；根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析；根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析。

【技术特征摘要】
1.一种分析储层非均质性的方法，其特征在于，包括: 根据岩心刻度电成像测井资料识别储层的岩性和层理构造； 根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析； 根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据储层的岩性和层理构造对储层的宏观非均质性进行分析包括: 根据储层的岩性和层理构造将储层划分为不同的岩性相单元，根据各岩性相单元的岩性相对所述储层的宏观非均质性进行分析。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据核磁共振测井资料对储层的微观非均质性进行分析包括: 根据核磁共振测井资料分析所述储层的孔隙结构，根据所述储层的孔隙结构对所述储层的微观非均质性进行分析。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据核磁共振测井资料分析储层的孔隙结构包括: 根据所述储层的核磁共振测井资料获取所述各岩性相单元的横向弛豫时间和孔隙度之间的对应关系，根据获得的对应关系分析所述各岩性...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔维平，杨玉卿，
申请(专利权)人：中国海洋石油总公司，中海油田服务股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11