本发明专利技术公开了一种应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征的方法，通过地层因素公式，将每个深度点沿井周分布的电阻率成像测井数据转换为孔隙度，统计不同深度孔隙度数据的分布可以得到非均质特征谱，对非均质特征谱的形态特征进行分析，计算均值、均质系数、方差、峰值大小和品质因子等储层非均质特征参数，进行岩性识别、储层有效性分类和剩余油分布等研究。本发明专利技术提高了测井资料对储层非均质特征评价的能力，获得了能够反应地层非均质特征的大量参数，具有单纯应用常规测井资料评价储层非均质性无法比拟的优势，有较高推广价值和社会效益。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及地质勘探资料处理方法领域中的一种应用电阻率成像测井资料连续 定量评价储层非均质特征的方法。
技术介绍
储层非均质性研究开始于20世纪70~80年代，针对改善开发效果及预测剩余油 分布而展开，近几年由于成藏机理研究的深入，储层非均质性特征对油气成藏的影响也逐 渐引起人们的重视。储层非均质性是指储层在形成过程中受沉积环境、成岩作用和构造作 用的影响，在空间分布及内部各种属性上都存在不均匀的变化，这种变化也是影响地下油 气水的流动特征的主要因素。传统的储层非均质性表征一般是单参数表征，通过渗透率变 异系数、渗透率级差及单层突进系数等参数来反映，上述参数仅能从一个侧面或某一角度 来描述储层非均质性，包含的信息量少，不足以描述复杂储层内部的复杂程度，而且通常会 遇到各种参数表征的非均质程度不一致的问题。 电阻率成像测井是一种重要的井壁成像方法，它利用多极板上的多排纽扣状的小 电极向井壁地层发射电流，由于电极接触的岩石成分、结构及所含流体的不同，由此引起电 流的变化，电流的变化反映井壁各处的岩石电阻率的变化，具有覆盖面积大、分辨率高的特 点，得到的沿井周分布的地层的岩石图像，可以与岩心柱进行详细对比，这种图像包含了大 量地层岩石结构的信息。利用电阻率成像测井资料进行储层非均质特征分析，可以提高测 井资料对储层非均质特征评价的能力，获得反应地层非均质特征的大量参数。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服应用常规测井资料评价储层非均质性参数单一，不能全 面反映储层非均质的技术难题，提出了一种应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非 均质特征的方法，充分利用电阻率成像测井资料覆盖面积大、分辨率高的特点。 本专利技术按如下技术方案实现： 本专利技术的总体方案是： 首先应用地层因素公式将电阻率成像数据转换为孔隙度，然后统计每个深度沿井 周分布的孔隙度，形成非均质特征谱，提取反应储层非均质特征的定量参数。 具体步骤如下： 步骤（1)将电阻率成像测井资料得到的地层电阻率信息代入地层因素公式，在常 规孔隙度测井资料约束下，将每个深度点沿井周分布的电阻率数据转换为孔隙度； 步骤（2)剔除孔隙度异常数据，将孔隙度大小在0-40%范围内进行等分，统计每个 深度点孔隙度分布在不同区域内的百分比，建立分布直方图，形成非均质特征谱； 步骤（3)对非均质特征谱分析，提取每个深度点沿井周分布的非均质特征参数，反 应储层沿井周分布的非均质特征； 最后应用建立的非均质特征谱和非均质特征参数进行岩性识别、储层有效性分类 和剩余油分布的分析和研究。 其中：步骤（3)中提取每个深度点沿井周分布的非均质特征参数包括非均质特征 谱的均值、均质系数、方差、峰值大小和品质因子参数。 步骤（2)剔除孔隙度异常数据包括由于坏电极因素引起的孔隙度异常数据。 本专利技术克服应用常规测井资料评价储层非均质性参数单一不能全面反映储层非 均质的技术难题，引入电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征，对储层岩性特 征评价、剩余油分布研究以及油田开发方案编制等方面具有重要意义。【附图说明】 图1是本专利技术实施流程图； 图2是储层非均质特征评价成果图； 图3是不同岩性非均质特征效果图。【具体实施方式】下面结合附图和实例来详细说明本专利技术。参照附图1，本专利技术的总体方案是 首先应用地层因素公式将电阻率成像数据转换为孔隙度，然后统计每个深度点沿 井周分布的孔隙度，形成非均质特征分布直方图，最后通过对直方图特征进行分析，提取反 应储层非均质特征的定量参数。 具体步骤如下： 步骤（1)成像电阻率数据转换 将电阻率成像测井资料得到的地层电阻率信息代入地层因素公式，在常规孔隙度 测井资料约束下，将每个深度点沿井周分布的电阻率数据转换为孔隙度数据，由地层电阻 率计算储层孔隙度的计算公式： (1) 式中：Rt-地层岩石电阻率，Q*111;Rw-地层水电阻率，Q*111;O--地层有效孔隙度，小数；m--岩石的胶结指数，与岩石的孔隙结构和胶结情况密切相关，无量纲；a-岩性系数，无量纲。 步骤（2)建立非均质特征谱 剔除由于坏电极等因素引起的孔隙度异常数据，将孔隙度大小在0-40%范围内进 行等分，统计每个深度孔隙度分布在不同区域内的百分比，建立分布直方图，形成非均质特 征谱。 步骤（3)计算非均质特征参数 对非均质特征谱进行分析，计算每个深度点非均质特征谱的均值、均质系数、方 差、峰值大小和品质因子等参数，反应储层沿井周分布的非均质特征。 ①均值：表征储层孔隙度大小的物理量，均值越大反应某深度点储层孔隙度越大。 (2) 式中：$--某一深度孔隙度平均值； n-电阻率成像测井电极数； ②均值系数：表征储层孔隙度均质程度的物理量，均值系数越大反应某深度点储 层孔隙度分布越集中，非均质性越弱。 (3) 式中：&、小max--某一深度孔隙度平均值和最大值； ③方差：表征储层孔隙度偏离平均孔隙度，即集中程度的物理量，方差越小反应某 深度点储层孔隙度分布越集中，非均质性越弱。 (4) 式中：J--某一深度孔隙度平均值； n-电阻率成像测井电极数； 3 ④峰值大小：某一深度孔隙度分布最集中的位置对应的孔隙度分布谱幅度，表征 储层孔隙度主要分布范围和集中程度的物理量，峰值大小越大反应储层非均质越弱。 Mxf=max(i，i= 1…n) (5) 式中：小i--某一深度孔隙度值；n--电阻率成像测井电极数； ⑤品质因子：储层总孔隙度中除去含泥质含量和高电阻率地层得到的孔隙度部分 后占总孔隙度的百分比，表征储层孔隙度集中程度和有效孔隙的多少，数值越大说明储层 非均质性越弱。 (6) 式中：小i--某一深度孔隙度值； a、b-有效储层起始和终止位置；n--电阻率成像测井电极数；步骤（4)应用建立的非均质特征谱和非均质参数进行岩性识别、储层有效性分类 和剩余油分布等分析研究。图2是具有不同结构储层非均质特征效果图，第三道为非均质特征谱，第四、五、 六、七、八道分别为均值、峰值大小、方差、均质系数和品质因子等非均质特征参数。图3是不同岩性的非均质特征评价结果，从图像可以看出，对于砂砾岩、砂岩、薄 互层和泥岩等岩性非均质特征谱具有不同的形态，且依据非均质特征谱提取的均值、均质 系数、方差、峰值大小和品质因子等参数具有不同的数据分布范围和形态特征，从而说明了 本文提出的应用成像测井资料评价储层非均质特征的独特优势。利用本专利技术对储层非均质特征评价，提高了测井资料对储层非均质特征评价的能 力，获得了能够反应地层非均质特征的大量参数，具有单纯应用常规测井资料评价储层非 均质性无法比拟的优势，具有较高推广价值和社会效益。【主权项】1. 一种，其特征是：首 先应用地层因素公式将电阻率成像数据转换为孔隙度，然后统计每个深度沿井周分布的孔 隙度，形成非均质特征谱，提取反应储层非均质特征的定量参数。2. 根据权利要求1所述的应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征的 方法，其特征是具体步骤如下： 步骤（1)将电阻率成像测井资料得到的地层电阻率信息代入地层因素公式，在常规孔 隙度测井资料约束下，将每个深度点沿井周分布的电阻率数据转换为孔隙度； 步骤（2)剔除孔隙度异常数据，将孔隙度大小在0-40%范围内进本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征的方法，其特征是：首先应用地层因素公式将电阻率成像数据转换为孔隙度，然后统计每个深度沿井周分布的孔隙度，形成非均质特征谱，提取反应储层非均质特征的定量参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张德峰，刘伟，刘海河，潘敏，刘云兰，
申请(专利权)人：中国石油化工集团公司，中石化胜利石油工程有限公司测井公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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