本发明专利技术公开了一种基板颗粒物的取样装置和玻璃基板颗粒物的取样方法，其中，该取样装置包括筒体(1)，该筒体(1)的上端口由透明的盖(2)密封，所述筒体(1)的下端口设置有沿该下端口的整个边缘延伸的黏性物质(3)。该基板颗粒物的取样装置能够使待检测颗粒物不受外界的污染，且方便操作。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及颗粒物的取样装置和取样方法，具体地，涉及一种。
技术介绍
在洁净度要求非常高的玻璃基板生产线中，某些微小颗粒(例如粒径在1?20um之间的颗粒)异物的存在会影响玻璃基板的产品品质，要解决异物的危害就需要对这些微小颗粒异物经行取样，然后经行形貌和成分分析，从根源上解决微小颗粒异物对生产的危害。现有技术中通常使用两种方式来对玻璃基板微小颗粒进行取样:第一种，采用微粒胶带将玻璃基板微小颗粒粘取出来分析，第二种，直接将玻璃大块进行切割，然后再分析玻璃上的微小颗粒。但是上述现有技术中的取样方式存在如下缺陷:第一种，将微小颗粒粘取出来本身在操作上不太方便，而且有的微小颗粒异物易碎，或不能将玻璃内部及粘附在玻璃表面的颗粒物取出，第二种，切成大块的样品，不宜在显微镜查看，而且易受玻璃粉尘的污染。综合以上情况，导致许多玻璃基板上的微小颗粒物引发的问题无法找到根源，影响生产。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种基板颗粒物的取样装置，该基板颗粒物的取样装置能够使待检测颗粒物(例如玻璃基板表面或内部的微小颗粒物)不受外界的污染(例如玻璃粉尘的污染)，且方便操作。本专利技术的另一个目的是提供一种玻璃基板颗粒物的取样方法，该玻璃基板颗粒物的取样方法使用本专利技术提供的基板颗粒物的取样装置，因此能够保证待检测颗粒物(例如玻璃基板表面或内部的微小颗粒物)不受玻璃粉尘的污染，方便玻璃基板颗粒物的取样和转移。为了实现上述一个目的，本专利技术提供一种基板颗粒物的取样装置，其中，该取样装置包括筒体，该筒体的上端口由透明的盖密封，所述筒体的下端口设置有沿该下端口的整个边缘延伸的黏性物质。优选地，所述筒体的内部还形成有沿所述筒体的高度方向与所述盖间隔设置的透明的间隔部，所述间隔部、筒体和所述盖三者围成封闭空间。优选地，所述间隔部形成为所述筒体的底部封端。优选地，所述筒体的上端部通过胶黏物质与所述盖密封连接。优选地，所述筒体的横截面为多变形或圆形。优选地，所述筒体的横截面为圆形，所述黏性物质在所述筒体的下端口的边缘形成为黏性物质环。优选地，所述盖为圆盖，所述盖的直径小于所述筒体的外径并且大于所述筒体的内径，或者所述盖的直径大于所述筒体的外径。优选地，所述筒体和盖由防静电材料制成。优选地，所述黏性物质为环氧树脂或聚丙烯塑胶或乙烯醋酸-乙烯酯，以及/或所述胶黏物质为环氧树脂或聚丙烯塑胶或乙烯醋酸-乙烯酯。优选地，所述筒体的外周表面设置有防滑结构，以及/或所述盖的侧外周表面设置有防滑结构。优选地，所述基板颗粒物的取样装置为玻璃基板颗粒物的取样装置。为了实现上述另一个目的，本专利技术还提供一种玻璃基板颗粒物的取样方法，其中，该取样方法使用上述技术方案所述的基板颗粒物的取样装置，且所述取样方法包括:步骤a，确定玻璃基板上待测颗粒物的位置，并通过所述黏性物质将所述筒体粘接至所述位置，以使得所述位置的颗粒物被封闭在所述玻璃基板、黏性物质和筒体围成的空间内；步骤b，沿着所述筒体的侧周向切割所述玻璃基板，以切割出被取样玻璃基板。优选地，在所述步骤a中，使用两个所述基板颗粒物的取样装置从所述玻璃基板的两侧粘接在所述位置。通过上述技术方案，由于本专利技术提供的基板颗粒物的取样装置包括筒体，且筒体的上端口由透明的盖密封，所述筒体的下端口设置有沿该下端口的整个边缘延伸的黏性物质，所以可以通过黏性物质将筒体粘接玻璃基板的需要检测颗粒物的位置，以使得所述位置的颗粒物被封闭在所述玻璃基板、黏性物质和筒体围成的空间内，防止颗粒物受到外界污染，以保证能够对这些颗粒物进行准确的分析，而且这种装置不需要取走玻璃基板上的颗粒物，而透过透明的盖就可以对玻璃基板颗粒物进行观测(通常通过显微镜观测)，因此操作很方便。此外，本专利技术提供的玻璃基板颗粒物的取样方法不仅同样地具备上述优势，由于沿着筒体的侧周向切割玻璃基板，以切割出取样玻璃基板，所以很方便玻璃基板颗粒物的取样和转移。本专利技术的其它特征和优点将在随后的【具体实施方式】部分予以详细说明。【附图说明】附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的【具体实施方式】一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中:图1是根据本专利技术的实施方式的基板颗粒物的取样装置的正面剖视图。图2是根据本专利技术的实施方式的基板颗粒物的取样装置的仰视图。附图标记说明1筒体 2盖3黏性物质4胶黏物质11间隔部【具体实施方式】以下结合附图对本专利技术的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。参见图1和图2，根据本专利技术的一个方面，提供一种基板颗粒物的取样装置，其中，该取样装置包括筒体1，该筒体1的上端口由透明的盖2密封，筒体1的下端口设置有沿该下端口的整个边缘延伸的黏性物质3。该基板颗粒物的取样装置优选为玻璃基板颗粒物的取样装置，但是，并不代表该基板颗粒物的取样装置只能用于玻璃基板颗粒物取样，如果其他非玻璃基板也需要进行颗粒物检测，在能够操作的情况下，该基板颗粒物的取样装置也能够对非玻璃基板进行颗粒物取样。由于本专利技术提供的基板颗粒物的取样装置包括筒体1，且筒体1的上端口由透明的盖2密封，筒体1的下端口设置有沿该下端口的整个边缘延伸的黏性物质3，所以可以通过黏性物质3将筒体1粘接玻璃基板的需要检测颗粒物的位置，以使得所述位置的颗粒物被封闭在玻璃基板、黏性物质3和筒体1围成的空间内，防止待检测颗粒物受到外界污染，以保证能够对这些颗粒物进行准确的分析，而且这种装置不需要取走玻璃基板上的颗粒物，而透过透明的盖2就可以对玻璃基板颗粒物进行观测(通常通过显微镜观测)，因此操作很方便。根据本专利技术的优选实施方式，筒体1的内部还形成有沿筒体1的高度方向与盖2间隔设置的透明的间隔部11，间隔部11、筒体1和盖2三者围成封闭空间。这样的设置，使得玻璃基板上的颗粒物经过了两层密封(一层为盖2，第二层为该间隔部11)，这样能够更好地当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基板颗粒物的取样装置，其特征在于，该取样装置包括筒体(1)，该筒体(1)的上端口由透明的盖(2)密封，所述筒体(1)的下端口设置有沿该下端口的整个边缘延伸的黏性物质(3)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李志勇，闫冬成，王丽红，李俊峰，张广涛，
申请(专利权)人：东旭科技集团有限公司，东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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