用于测定水分含量的物位测量仪制造技术

技术编号:12781691 阅读:148 留言:0更新日期:2016-01-28 00:42
本发明专利技术涉及物位测量。对回波曲线进行分析,并且根据该回波曲线来测定存储材料的物位和水分含量。物位测量仪以节能方式工作使得通过4...20mA两线式导体回路就足可以向所述仪器供电,该两线式导体回路也用于传输至少一些测量值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术设及物位测量(levelmeasurement)。具体地,本专利技术设及用于测定存储材 料的物位的物位测量仪,且还设及程序和机器可读介质。
技术介绍
目前市场上存在多种用于检测容器中的物位或库存物位的传感器。使用受引导雷 达波或空间自由福射雷达波来检测物位的传感器尤其重要。 运些物位测量仪可按照脉冲通行时间(pulsetransit-time)技术的原理工作。在 运种情况下,电磁脉冲朝向存储材料的表面通行。接着,物位测量仪接收测量信号的在存储 材料的表面处W及适用的其它反射器处被反射的信号分量,由此产生回波曲线,可W分析 该回波曲线W测定物位。 同样已知的是按照调频连续波(Rrequen巧ModulatedContinuousWave,FMCW) 原理工作的物位测量仪。运些物位测量仪也可W使用受引导信号或空间自由福射信号。 阳0化]特别对于粮食加工行业的使用者,而且也对于碎石/混凝±行业的使用者,测量 仪额外地需要连续检测存储在容器中的材料的水分或库存的水分(水分含量)。 如果想要对存储在容器中的材料或库存(存储材料)的水分含量进行测量,那么, 例如如图3所示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测定存储材料的物位的物位测量仪,其包括:射频单元(101、502),其用于产生测量信号(102、512);信号处理单元(106、504),其用于根据所述测量信号的回波曲线(406、507)来测定所述存储材料的物位;及温度测量装置(706、707),其用于测量温度值以便测定温度;其中,所述物位测量仪被额外地设计成根据所述回波曲线来测定所述存储材料的水分含量,并且其中,所述物位测量仪被设计成使用所测量的温度值来改善所述水分含量的测定准确性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:卡尔·格里斯鲍姆约瑟夫·费伦巴赫罗兰·韦勒
申请(专利权)人:VEGA格里沙贝两合公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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