检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法技术

一种用于检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法，所述用于检查光源模块的缺陷的方法包括制备其上安装有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性，并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。还提供了用于检查光源模块的各种其它方法和设备。

【技术实现步骤摘要】
相关申请的交叉引用本申请要求于2014年6月9日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2014-0069234的优先权，该申请的公开以引用方式并入本文中。
本公开涉及一种检查光源模块的缺陷的方法，一种制造光源模块的方法，和一种用于检查光源模块的设备。
技术介绍
在发光二极管(LED)显示和照明领域已采用了消费者之声(VOC)预期，这里，致力于降低与相关器件关联的厚度和成本的受价值工程(VE)影响的设计是重要的。在这点上，透镜是通常满足VE设计的需求的器件元件。这种透镜用于减小LED与目标平面之间的光学距离和增大LED之间的间距(间隔、距离或间隙)。将透镜与LED精确地装配是困难的，并且会带来诸如由于LED的中心与透镜的中心未对准导致的透镜移位的问题和在透镜相对于水平面倾斜的情况下导致的透镜倾斜的问题。这些装配精度缺陷会导致称作水波纹(mura)的光学均匀度缺陷。另外，由于透镜本身的问题或其制造工艺中的问题也会导致光学均匀度缺陷。
技术实现思路
本公开的一方面可提供一种方法，该方法在制造光源模块的过程中检查和去除造成诸如水波纹的光学均匀度缺陷的成因，以提高产品的可靠性及其制造过程的生产力。然而，本公开的各方面不限于此，并且，虽然未明确提及，但是还可包括可从下文中描述的技术方案或实施例识别的各个方面和效果。根据本公开的一方面，一种检查光源模块的缺陷的方法可包括制备其上具有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像以获得透镜的图像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性，并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。计算中心对称性的步骤可包括：在获得的图像中设置检查区；将检查区划分为多个子区；以及基于划分的子区中的每一个的亮度计算中心对称性。在设置检查区的步骤中，可将包括相对于透镜的中心位于预定距离处的区域的区设为检查区。将检查区划分为多个子区的步骤可包括：首先将检查区划分为多个轨道，每个轨道包括相对于透镜的中心位于预定距离范围内的区域；以及其次将所述多个轨道的每一个沿径向划分为多个子区。在接通发光器件的操作中施加的电流可为等于或大于用于驱动发光器件的额定电流的50％的电流。所述方法还可包括步骤：确定安装在板上的发光器件的中心坐标；通过获得的透镜的图像确定透镜的中心坐标；将发光器件的中心坐标与透镜的中心坐标进行比较以计算偏离值；以及将偏离值与参考值进行比较以确定是否发生了透镜未对准。确定透镜的中心坐标的步骤可包括：从获得的图像中识别形成在板上的基准标记和透镜的位置；基于在获得的图像中识别透镜的边缘来确定透镜的中心坐标；以及基于基准标记将透镜的中心坐标转换为实际坐标。可在将发光器件安装在板上之后并且在安装透镜以覆盖发光器件之前执行确定发光器件的中心坐标的步骤。安装在板上的发光器件可为多个发光器件，所述多个发光器件沿着板的纵向排列，并且针对所述多个发光器件中的每个发光器件单独地执行成像、计算和比较步骤。发光器件可为发光二极管(LED)芯片或包括LED芯片的LED封装件。根据本公开的另一方面，一种检查光源模块的缺陷的方法，该方法可包括制备其上具有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像以获得透镜的图像。通过获得的透镜的图像确定透镜的中心坐标。将发光器件的中心坐标与确定的透镜的中心坐标进行比较以计算中心坐标之间的偏离值，并且将偏离值与参考值进行比较以确定是否发生了透镜未对准。所述方法还可包括步骤：确定安装在板上的发光器件的中心坐标，其中可在将发光器件安装在板上之后并且在安装透镜以覆盖发光器件之前执行确定发光器件的中心坐标的步骤。根据本公开的另一方面，一种制造光源模块的方法，该方法可包括确定安装在板上的发光器件的中心坐标。安装透镜以覆盖发光器件，将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对覆盖发光器件的透镜成像以获得透镜的图像，通过获得的透镜的图像确定透镜的中心坐标。将发光器件的中心坐标与透镜的中心坐标进行比较以计算中心坐标之间的偏离值，并且将偏离值与参考值进行比较以确定透镜是否未对准。可利用自动光学检查(AOI)执行确定发光器件的中心坐标的步骤。确定透镜的中心坐标的步骤可包括：从获得的图像中识别形成在板上的基准标记和透镜的位置；基于在获得的图像中识别透镜的边缘来确定透镜的中心坐标；以及基于基准标记将透镜的中心坐标转换为实际坐标。所述方法还可包括确定发光器件是否发生了不对称的发光分布，其中，确定是否发生了不对称的发光分布的步骤可包括：基于获得的图像来计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性；以及将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。可基于相同的获得的图像执行确定发光器件中是否发生了不对称的发光分布的步骤以及确定透镜是否未对准的步骤。透镜的安装步骤可包括利用粘合剂将透镜附着至板。安装在板上的发光器件可包括多个发光器件，并且所述多个发光器件沿着板的纵向布置。在制造光源模块的方法中，可针对所述多个发光器件的各个发光器件单独地执行确定中心坐标、安装透镜、对透镜成像以及计算中心对称性的步骤。附图说明将通过以下结合附图的详细描述更加清楚地理解本公开的以上和其它方面、特征和其它优点，其中：图1是示意性地示出根据本公开中的示例实施例的用于检查光源模块的设备的框图；图2A和图2B是示意性地示出根据本公开中的示例实施例的光源模块的剖视图和平面图；图3是示意性地示出作为检查光源模块的一部分的检查发光分布(或识别不对称的发光分布(光学移位))的方法的流程图；图4是示意性地示出作为检查光源模块中的发光分布的一部分的检查光源模块的透镜未对准(或透镜移位)的方法的流程图；图5是示意性地示出根据本公开中的示例实施例的制造光源模块的方法的流程图；图6A和图6B是示意性地示出安装在板上的发光器件的透视图和剖视图；图7是示意性地示出布置在托架上的板的平面图，每个板具有安装在其上的多个发光器件；图8是示意性地示出用于获得发光器件(本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查光源模块的缺陷的方法，该方法包括步骤：制备其上具有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板；将电流施加至发光器件以接通发光器件；在发光器件接通的情况下对透镜成像以获得透镜的图像；基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性；以及将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。

【技术特征摘要】
2014.06.09 KR 10-2014-00692341.一种检查光源模块的缺陷的方法，该方法包括步骤：
制备其上具有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板；
将电流施加至发光器件以接通发光器件；
在发光器件接通的情况下对透镜成像以获得透镜的图像；
基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性
的中心对称性；以及
将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对
称的发光分布。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，计算中心对称性的步骤
包括：
在获得的图像中设置检查区；
将检查区划分为多个子区；以及
基于划分的子区中的每一个的辉度计算中心对称性。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，在设置检查区的步骤中，
将包括相对于透镜的中心位于预定距离处的区域的区设为检查区。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，将检查区划分为多个子
区的步骤包括：首先将检查区划分为多个轨道，每个轨道包括相对于
透镜的中心位于预定距离范围内的区域；以及其次将所述多个轨道的
每一个沿径向划分为多个子区。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，在接通发光器件的操作
中施加的电流是等于或大于用于驱动发光器件的额定电流的50％的
电流。
6.根据权利要求1所述的方法，还包括步骤：
确定安装在板上的发光器件的中心坐标；
通过获得的透镜的图像确定透镜的中心坐标；
将发光器件的中心坐标与透镜的中心坐标进行比较以计算偏离
值；以及
将偏离值与参考值进行比较以确定是否发生了透镜未对准。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，确定透镜的中心坐标的
步骤包括：
从获得的图像中识别形成在板上的基准标记和透镜的位置；
基于在获得的图像中识别透镜的边缘来确定透镜的中心坐标；
以及
基于基准标记将透镜的中心坐标转换为实际坐标。
8.根据权利要求6所述的方法，其中，在将发光器件安装在板
上之后并且在安装透镜以覆盖发光器件之前执行确定发光器件的中
心坐标的步骤。
9.根据权利要求1所述的方法，其中，安装在板上的发光器件
是多个发光器件，所述多个发光器件沿着板的纵向排列，并且针对所
述多个发光器件中的每个发光器件单独地执行成像、计算和比较步骤。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述发光器件是发光
二极管芯片或包括发光二极管芯片的发光二极管封装件。
11.一种检查光源模块的缺陷的方法，该方法包括步骤：
制备其上具...

【专利技术属性】
技术研发人员：池元秀，权五锡，朴大绪，K·李，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR