透射式缺陷检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种透射式缺陷检查装置。该透射式缺陷检查装置具备：线状照明装置，其向光学显示面板射出光；多个面阵相机，其排列成线状并与线状照明装置相对地安装，接收来自线状照明装置的光透射过光学显示面板后的透射光，并对光学显示面板进行拍摄；图像处理部，其处理利用面阵相机拍摄的光学显示面板的图像；控制部，其根据光学显示面板的移动速度控制面阵相机的拍摄时机，面阵相机以如下方式进行拍摄，即，第n(n≥1)次拍摄的光学显示面板的图像与第n+1次拍摄的光学显示面板的图像在光学显示面板的移动方向上部分重合。利用该透射式缺陷检查装置，能够防止缺陷的漏检，高效地检测缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种透射式缺陷检查装置。
技术介绍
为了实现光学显示面板的显示功能，必须根据需要贴合各种光学膜。在此，对于贴合有光学膜的显示面板，需要检查是否存在缺陷。通常情况下，对例如液晶面板这样的显示面板进行缺陷检查时，是对液晶面板的一个表面照射照明光，利用传感器检测其透射光或利用照相机进行拍摄，由此进行液晶面板的缺陷检查。—般而言，照相机包括面阵相机(area camera)和线性传感器照相机，如专利文献I所述，线性传感器照相机在拍摄对象物移动的状态下进行拍摄，面阵相机需要使拍摄对象物停止而进行拍摄。例如在专利文献2中，记载有利用面阵相机检查液晶面板的缺陷时，使液晶面板停止而进行拍摄，在专利文献3中，记载有利用线性传感器照相机检查液晶面板的缺陷时，一边输送液晶面板一边进行拍摄。现有技术文献专利文献I日本特开2011-197281专利文献2日本特开2008-051755专利文献3日本特开2010-091714
技术实现思路
然而，根据对比文件2中的检查方法，需要使液晶面板静止，进行液晶面板的检查时，必须暂时停止生产线。因此，难以提高生产效率。另一方面，根据对比文件3中的通常利用线性传感器照相机的检查方法，由于利用线性传感器照相机对液晶面板的宽度方向的规定宽度进行拍摄，必须使得到的图像完全首尾相连。因此，前后得到的图像不连续时，难以无遗漏地检查液晶面板的整个表面。而且，液晶面板的表面上附着的异物、以及向图像处理装置发送数据造成的噪音等导致了出现误检时，根据专利文献I?3中的任意一种检查方法都只能对对象物进行一次检查，因此，即使对象物是合格品，在发生了误检的情况下，也会将其判断为不良品。本技术是为了解决上述问题而做出的，其利用面阵相机对正在移动的光学显示面板进行拍摄，通过以使前后拍摄的图像部分重合的方式进行拍摄，能够不需要停止光学显示面板的输送而简单、高精度地检测出光学显示面板上存在的缺陷。本技术提供一种透射式缺陷检查装置，其特征在于，其在光学显示面板移动过程中检测该光学显示面板的缺陷，其具备:线状照明装置，其向所述光学显示面板射出光；多个面阵相机，其与所述线状照明装置相对地排列成线状并安装，接收来自所述线状照明装置的光透射过所述光学显示面板后的透射光，并对所述光学显示面板进行拍摄；图像处理部，其处理利用所述面阵相机拍摄的光学显示面板的图像；控制部，其根据所述光学显示面板的移动速度控制所述面阵相机的拍摄时机，所述面阵相机第η (η ^ I)次拍摄的所述光学显示面板的图像与第η+1次拍摄的所述光学显示面板的图像在所述光学显示面板的移动方向上部分重合。根据本技术，能够在光学显示面板移动的同时利用面阵相机对其进行拍摄，因此，进行缺陷检查时不需要使光学显示面板暂时停止，能够大幅度提高生产效率。而且，根据本技术，面阵相机第η (η ^ I)次拍摄的所述光学显示面板的图像与第η+1次拍摄的所述光学显示面板的图像在所述光学显示面板的移动方向上部分重合。由此，通过对光学显示面板的整个表面无遗漏地进行拍摄，能够防止缺陷的漏检。而且，通过使图像重合，能够对同一位置进行多次检查，能够减少前述误检导致的不良品判定。而且，在本技术中，优选所述多个面阵相机被配置为各自的拍摄范围在所述光学显示面板的宽度方向上彼此部分重合。由此，面阵相机的拍摄范围不仅在光学显示面板的移动方向上部分重合，在其宽度方向上也部分重合，能够更加切实地防止缺陷的漏检。而且，通过使面阵相机拍摄范围重合，能够对同一位置进行多次检查，能够减少前述误检导致的不良品判定。而且，优选本技术的线状照明装置是被安装为跨越所述光学显示面板的整个宽度的线光源，或由沿所述光学显示面板的宽度方向排列成线状的多个点光源构成。而且，优选所述线状照明装置是金属齒化物灯或LED灯。由此，能够均匀地利用光对光学显示面板的整个宽度方向进行照明，能够确保面阵相机的拍摄效果。本技术的透射式缺陷检查装置优选还具备遮光机构，其设置在线状照明装置的上方，仅使从线状照明装置射出的光中朝向面阵相机的正面的光通过。由此，可以防止散射光造成的面阵相机拍摄图像产生亮度不均。另外，所述遮光机构优选为具有沿线状照明装置的长度方向的狭缝的带缝遮光板，或在与多个面阵相机分别对应的位置上具有开口部的带孔遮光板。本技术提供一种利用上述透射式缺陷检查装置检测光学显示面板上的缺陷的透射式缺陷检查方法。该缺陷检查方法的特征在于，在光学显示面板通过线状照明装置和面阵相机之间的过程中，面阵相机接收从线状照明装置射向光学显示面板并透射的光，在光学显示面板移动的同时，依次对其规定范围进行拍摄，被拍摄的多个图像数据被发送到图像处理部，并被合成为光学显示面板的整体图像，面阵相机第η(η多I)次拍摄的光学显示面板的图像与第η+1次拍摄的光学显示面板的图像在光学显示面板的移动方向上部分重合。而且，虽然能够适当调整图像的重合部分的面积，但优选面阵相机第η (η ^ I)次拍摄的光学显示面板的图像与第η+1次拍摄的光学显示面板的图像以面阵相机的拍摄范围的1/2以上的面积重合。由此能够切实地对光学显示面板的整个表面进行多次拍摄。【附图说明】图1是本技术的透射式缺陷检查装置的立体图。图2是本技术的透射式缺陷检查装置的侧面图。图3是本技术的透射式缺陷检查装置的平面图。图4是显示利用本技术的透射式缺陷检查装置拍摄的光学显示面板的影像的说明图。图5是说明没有遮光机构时来自光源的光的入射情况的示意图。图6是说明在本技术的透射式缺陷检查装置中设置有遮光机构时来自光源的光的入射情况的不意图。图7是利用本技术的透射式缺陷检查装置的液晶面板的生产线的示意图。附图标记说明Pl液晶面板Fl偏光膜11透射式缺陷检查装置21线光源31面阵相机41 框架51输送部件61图像处理装置71遮光机构【具体实施方式】以下参照附图对本技术的实施方式进行详细说明。需要说明的是，在以下的实施方式中，对作为光学显示面板的一个例子的液晶面板进行缺陷检查的情况进行说明。如图1所示，本技术的透射式缺陷检查装置11具备:框架41，其具有两根柱子并形成为框状；作为线状照明装置的一个线光源21，其在该框架41的下部架设在两根柱子之间；多个面阵相机31，其安装在架设于该框架41的上部的梁上，与线光源21相对地排列成线状。如图1?3所不，两个表面上贴合有偏光膜Fl的液晶面板Pl由输送部件51输送而通过线光源21和面阵相机31之间。此时，线光源21向与其相对的面阵相机31射出光。这样，液晶面板Pl通过线光源21和面阵相机31之间时，从线光源21射出的光向液晶面板Pl投射，并透射过液晶面板Pl而到达面阵相机31。面阵相机31根据未图示的控制部的指令，对正在通过的液晶面板Pl进行拍摄。根据液晶面板的移动速度适当调整拍摄时机，后文对此进行详细说明。将被拍摄的图像数据发送到图6所示的图像处理部61，在此处进行图像合成，判断是否存在缺陷。液晶面板的缺陷一般是液晶层内部的气泡、异物等、偏光膜内的损伤、以及偏光膜和液晶单元的贴合面上的杂质等。如果不检测这些缺陷而原封不动地使液晶面板出厂，液晶面板由于缺陷会发生显示不良，因此会对产品的品质造本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透射式缺陷检查装置，其特征在于，其在光学显示面板的移动过程中检测该光学显示面板的缺陷，其具备：线状照明装置，其向所述光学显示面板射出光；多个面阵相机，其与所述线状照明装置相对地排列成线状并安装，接收来自所述线状照明装置的光透射过所述光学显示面板后的透射光，并对所述光学显示面板进行拍摄；图像处理部，其处理利用所述面阵相机拍摄的光学显示面板的图像；控制部，其根据所述光学显示面板的移动速度控制所述面阵相机的拍摄时机，所述面阵相机第n次拍摄的所述光学显示面板的图像与第n+1次拍摄的所述光学显示面板的图像在所述光学显示面板的移动方向上部分重合，其中，n≥1。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：由良友和，小盐智，北田和生，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：新型
国别省市：日本;JP