本实用新型专利技术涉及一种二极管测试工装，包括第一导电测试片、第二导电测试片、第一导电测试座、第二导电测试座和固定座；所述第一、二导电测试座均包括相应的导电衔接片和用来支撑二极管一个引脚的导电托座；所述第一导电测试座的第一导电衔接片的一端和第一导电测试片的一端分别插入固定座内，且第一导电衔接片的一端与第一导电测试片的一端搭接，第一导电测试片的另一端位于固定座外；所述第二导电测试座的第二导电衔接片的一端和第二导电测试片的一端分别插入固定座内，且第二导电衔接片的一端与第二导电测试片的一端搭接，第二导电测试片的另一端位于固定座外。本实用新型专利技术能增大与二极管引脚的接触面积，且能形成良好欧姆接触。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试工装，具体涉及一种二极管测试工装。
技术介绍
现有的二极管的封装尺寸越来越小，产品在出厂前都需要进行电性能测试，待测试合格后才能出厂。有的二极管的封装尺寸较小，且该类的二极管的两个引脚分别从绝缘胶壳的两端伸出后折弯后位于绝缘胶壳的背面，已有的测试工装是将二极管的两个引脚架空在由两个测试片构成的呈V型状的槽内实施测试的，但是该种测试工装使得二极管折弯处的引脚与测试片是点接触的，而二极管在模压工序中会造成绝缘胶溢流到引脚上，这样二极管在高温测试时，就使得测试片与引脚之间形成不了良好的欧姆接触，造成测试结果不良，也不精确。
技术实现思路
本技术的目的是:提供一种能够增大与二极管引脚的接触面积，且能形成良好欧姆接触的二极管测试工装，以克服现有技术的不足。为了达到上述目的，本技术的技术方案是:一种二极管测试工装，其创新点在于:包括第一导电测试片、第二导电测试片、第一导电测试座、第二导电测试座和固定在工作台上的固定座；所述第一导电测试座包括与其互为一体或固定连接的第一导电衔接片和用来支撑二极管一个引脚的第一导电托座，第二导电测试座包括与其互为一体或固定连接的第二导电衔接片和用来支撑二极管另一个引脚的第二导电托座；所述第一导电测试座的第一导电衔接片的一端和第一导电测试片的一端分别插入固定座内，且第一导电衔接片的一端与第一导电测试片的一端搭接，所述第一导电测试片的另一端位于固定座外；所述第二导电测试座的第二导电衔接片的一端和第二导电测试片的一端分别插入固定座内，且第二导电衔接片的一端与第二导电测试片的一端搭接，所述第二导电测试片的另一端位于固定座外。在上述技术方案中，所述第一导电托座包括互为一体的第一连接片和用来支撑二极管一个引脚的第一水平托台，第二导电托座包括互为一体的第二连接片和用来支撑二极管另一个引脚的第二水平托台。在上述技术方案中，所述第一连接片与第一水平托台之间的夹角控制在115° -125°范围内，第二连接片与第二水平托台之间的夹角控制在115° -125°范围内。在上述技术方案中，所述第一导电测试片和第二导电测试片分别有两片，第一导电测试座和第二导电测试座分别有两个。本技术所具有的积极效果是:采用本技术的二极管测试工装后，使用时，将二极管的一个引脚搭接在第一导电托座上，另一个引脚搭接在第二导电托座上，且二极管的两个引脚与导电托座是面接触，这样就增加了引脚与导电托座的接触面积，而不像已有技术中二极管的引脚与测试片是点接触，使得二极管在高温测试时，二极管的两个引脚与导电托座形成良好的欧姆接触，能够提高测试的精确度。实现了本技术的目的。【附图说明】图1是本技术一种【具体实施方式】的结构示意图；图2是本技术的立体示意图。【具体实施方式】以下结合附图以及给出的实施例，对本技术作进一步的说明，但并不局限于此。如图1、2所示，一种二极管测试工装，包括第一导电测试片2、第二导电测试片3、第一导电测试座4、第二导电测试座5和固定在工作台上的固定座I ;所述第一导电测试座4包括与其互为一体或固定连接的第一导电衔接片4-2和用来支撑二极管一个引脚的第一导电托座4-1，第二导电测试座5包括与其互为一体或固定连接的第二导电衔接片5-2和用来支撑二极管另一个引脚的第二导电托座5-1 ;所述第一导电测试座4的第一导电衔接片4-2的一端和第一导电测试片2的一端分别插入固定座I内，且第一导电衔接片4-2的一端与第一导电测试片2的一端搭接，所述第一导电测试片2的另一端位于固定座I外；所述第二导电测试座5的第二导电衔接片5-2的一端和第二导电测试片3的一端分别插入固定座I内，且第二导电衔接片5-2的一端与第二导电测试片3的一端搭接，所述第二导电测试片3的另一端位于固定座I外。如图1、2所示，为了进一步提高二极管与导电托座的接触面积，使得二极管的引脚的底面与水平托台面接触，且二极管的引脚的侧面与连接片也能接触，所述第一导电托座4-1包括互为一体的第一连接片4-1-2和用来支撑二极管一个引脚的第一水平托台4-1-1，第二导电托座5-1包括互为一体的第二连接片5-1-2和用来支撑二极管另一个引脚的第二水平托台5-1-1。如图1、2所示，为了使得本技术结构更加合理，所述第一连接片4-1-2与第一水平托台4-1-1之间的夹角控制在115° -125°范围内，第二连接片5-1-2与第二水平托台5-1-1之间的夹角控制在115° -125°范围内。这样，连接片和水平托台都能与二极管的引脚相接触，进一步提尚一■极管测试的精确度。如图2所示，为了使得本技术的使用寿命长，所述第一导电测试片2和第二导电测试片3分别有两片，第一导电测试座4和第二导电测试座5分别有两个。使用时，两个第一导电测试座4和两个第二导电测试座5分别通过同轴测试线与测试机电连接，若其中一个导电测试座接触不良或发生损坏，还有另外一个导电测试座可以使用。本技术使用时，将第一导电测试片2和第二导电测试片3分别与测试同轴线的一端电连接，且测试同轴线的另一端与测试机电连接；检测人员将二极管6的两个引脚分别搭接在第一水平托台4-1-1和第二水平托台5-1-1，使得二极管6的两个引脚与水平托台之间为面接触，增大接触面积，使其二者之间形成良好欧姆接触，就可实施电性能测试。本技术不仅结构简单，而且便于夹持工件。本技术小试结果显示，其效果是十分满意的。【主权项】1.一种二极管测试工装，其特征在于:包括第一导电测试片(2)、第二导电测试片(3)、第一导电测试座(4)、第二导电测试座(5)和固定在工作台上的固定座(I); 所述第一导电测试座(4)包括与其互为一体或固定连接的第一导电衔接片(4-2)和用来支撑二极管一个引脚的第一导电托座(4-1)，第二导电测试座(5)包括与其互为一体或固定连接的第二导电衔接片(5-2)和用来支撑二极管另一个引脚的第二导电托座(5-1); 所述第一导电测试座(4)的第一导电衔接片(4-2)的一端和第一导电测试片(2)的一端分别插入固定座(I)内，且第一导电衔接片(4-2)的一端与第一导电测试片(2)的一端搭接，所述第一导电测试片(2)的另一端位于固定座(I)外； 所述第二导电测试座(5)的第二导电衔接片(5-2)的一端和第二导电测试片(3)的一端分别插入固定座(I)内，且第二导电衔接片(5-2 )的一端与第二导电测试片(3 )的一端搭接，所述第二导电测试片(3)的另一端位于固定座(I)外。2.根据权利要求1所述的二极管测试工装，其特征在于:所述第一导电托座(4-1)包括互为一体的第一连接片(4-1-2)和用来支撑二极管一个引脚的第一水平托台(4-1-1)，第二导电托座(5-1)包括互为一体的第二连接片(5-1-2)和用来支撑二极管另一个引脚的第二水平托台(5-1-1)。3.根据权利要求2所述的二极管测试工装，其特征在于:所述第一连接片(4-1-2)与第一水平托台(4-1-1)之间的夹角控制在115° -125°范围内，第二连接片(5-1-2)与第二水平托台(5-1-1)之间的夹角控制在115° -125°范围内。4.根据权利要求1所述的二极管测试工装，其特征在于:所述第一导电测试片(本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种二极管测试工装，其特征在于：包括第一导电测试片（2）、第二导电测试片（3）、第一导电测试座（4）、第二导电测试座（5）和固定在工作台上的固定座（1）；所述第一导电测试座（4）包括与其互为一体或固定连接的第一导电衔接片（4‑2）和用来支撑二极管一个引脚的第一导电托座（4‑1），第二导电测试座（5）包括与其互为一体或固定连接的第二导电衔接片（5‑2）和用来支撑二极管另一个引脚的第二导电托座（5‑1）；所述第一导电测试座（4）的第一导电衔接片（4‑2）的一端和第一导电测试片（2）的一端分别插入固定座（1）内，且第一导电衔接片（4‑2）的一端与第一导电测试片（2）的一端搭接，所述第一导电测试片（2）的另一端位于固定座（1）外；所述第二导电测试座（5）的第二导电衔接片（5‑2）的一端和第二导电测试片（3）的一端分别插入固定座（1）内，且第二导电衔接片（5‑2）的一端与第二导电测试片（3）的一端搭接，所述第二导电测试片（3）的另一端位于固定座（1）外。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，
申请(专利权)人：常州银河世纪微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。