一种测试体及测试工装制造技术

技术编号:15081861 阅读:97 留言:0更新日期:2017-04-07 13:14
本实用新型专利技术公开了一种测试体及测试工装。所述测试体包括:线分辨力及穿透分辨力检测卡;所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括:第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条;所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成,所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间,所述非金属板的另一端设置有缺口,所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。该测试体能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试
,特别涉及一种测试体及测试工装
技术介绍
X光安全检查设备,采用X光扫描成像技术,通过对物品进行扫描,并输出影像以供检查人员判断是否夹带违禁品,在飞机场、地铁站、火车站等需要进行安检的场所得到了广泛的应用。而X光安全检查设备的性能是否符合要求,则依赖于测试体进行测试。现有技术中,X光安全检查设备的测试体是基于《GBT15208.2-2006微剂量X辐射安全检查设备第2部分:测试体》标准规定的固定形态的测试体。随着图像处理技术的发展,产生了成像图像造假的技术,因此,需要测试体能够对X光安全检查设备成像图像的真伪进行辨别。为了对X光安全检查设备的测试体的发展情况有更清楚的了解,以下就相关技术进行简要介绍。1、一种X射线探测器测试仪的开发与应用分析,主要内容:线阵列X射线探测器是X射线安全检查设备的核心部件,X射线探测器测试仪是针对安检设备的基础部件—X射线闪烁探测器的信号增益、本底噪声信号、相邻像素信号串扰等性能指标进行测试而设计的基础部件专用测试仪器。2、一种用于检测货运X射线安全检查设备的测试装置,包括:底座,升降机,第一测试体安装座,第二测试体安装座和控制单元。该测试装置具有定位准确、调整方便、安装牢固、使用安全,整体自动化程度高的特点。3、材料分辨测试体,内容主要涉及测试设备的材料分辨能力,也即为GB15208.2—2006《微剂量X射线安全检查设备》标准中的标准测试体B。4、X射线行李安检机检测装置研制,该项目依据国家标准规定的技术要求和试验方法,结合设备的现场使用条件,通过实验方法研究制订合理可行的X射线行李安检机在线检测方法和检测装置,建立以电离室剂量仪为测量标准、设计制作适合于现场检测要求的图像解析度测试体、材料分辨测试体,并通过现场实验进行完善。项目研究的主要内容有:(1)研制检测X射线行李安检设备图形分辨力和材料分辨力的专用测试体;(2)选择、试验、改进X射线行李安检机输出空气比释动能测量仪器和X射线泄漏剂量测量仪器;(3)X射线行李安检机现场检测方法研究,参与起草X射线安全检查设备国家计量校准规范。5、X光机测试箱GB15208.2,本标准内容涉及测试体包括测试体A和测试体B。测试体A为图像解析度测试体,用于测试设备的线分辨力、穿透分辨力、空间分辨力和穿透力;测试体B为材料分辨测试体,用于测试设备的材料分辨能力。测试体内包含测试卡。测试卡安装在测试体内的固定板上,并用上、下防护衬板封装成一长方形的测试体。测试体的防护衬板采用发泡聚乙烯板。以上技术或专利文献虽然从不同的角度对测试体的技术发展情况进行了介绍,但经过分析发现现有技术中的测试体存在的共通问题是:无法对X光安全检查设备成像图像的真伪进行辨别。
技术实现思路
本技术提供一种测试体及测试工装,能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。一方面,本技术提供一种测试体,包括:线分辨力及穿透分辨力检测卡;所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括:第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条;所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成,所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间,所述非金属板的另一端设置有缺口,所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。优选地,所述第一金属阶梯为铝阶梯,所述非金属板为塑料板。优选地,还包括:穿透力检测卡;所述穿透力检测卡包括:第二检测卡底板、第二金属阶梯和多块铅块;所述第二金属阶梯贴合固定在所述第二检测卡底板上,所述第二金属阶梯具有多个阶梯,每个所述阶梯上放置一块所述铅块。优选地,多块所述铅块的形状相互不同。优选地,所述铅块的底部镶嵌有磁铁。优选地,所述第二金属阶梯为钢阶梯,且每个所述阶梯的厚度设置为不同的预设厚度。优选地,还包括:空间分辨力检测卡;所述空间分辨力检测卡包括:第三检测卡底板和多个检测单元,每个所述检测单元由不同预设直径的漆包铜线构成。另一方面,本技术提供一种测试工装,包括:滑动支架和测试体;所述测试体可拆卸地安装于所述滑动支架上,所述测试体为上述测试体。优选地,所述滑动支架包括底板、固定支座、移动支座和位置调整机构;所述固定支座固定在所述底板上,所述位置调整机构设置在所述底板和所述移动支座之间,所述固定支座和所述移动支座上分别安装一个所述测试体。优选地,还包括:由上箱体和下箱体构成的测试箱体,所述上箱体的一个侧边和所述下箱体的一个侧边固定连接,所述滑动支架和所述测试体容装在所述下箱体中。本技术实施例提供的测试体包括线分辨力及穿透分辨力检测卡;线分辨力及穿透分辨力检测卡包括:第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条;其中,多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成,非金属板的一端设置在第一检测卡底板和第一金属阶梯之间,非金属板的另一端设置有缺口,多块正弦波插条随机并行排布插入缺口中。由于多块正弦波插条的金属丝导体的直径不同,且多块正弦波插条能够随机并行排布,从而得到多种不同组合,能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。下面通过附图和实施例,对本技术的技术方案做进一步的详细描述。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本技术的实施例一起用于解释本技术,并不构成对本技术的限制。在附图中:图1为本技术实施例提供的一种测试体组装前的结构示意图;图2为图1所示的测试体组装后的结构示意图;图3为本技术实施例提供的一种穿透力检测卡的结构示意图;图4为本技术实施例提供的另外一种穿透力检测卡的结构示意图;图5为图3所示的一种铅块的结构示意图;图6为图4所示的另外一种铅块的结构示意图;图7为本技术实施例提供的一种空间分辨力检测卡的结构示意图;图8为本技术实施例提供的一种滑动支架的结构示意图;图9为本技术实施例提供的一种滑动支架的第一安装状态示意图;图10为本技术实施例提供的一种滑动支架的第二安装状态示意图;图11为本技术实施例提供的一种测试工装的结构示意图;图12为本技术实施例提供的另外一种测试工装的结构示意图;图13为图11中下箱体及容装物的俯视图;图14为图12中下箱体及容装物的俯视图;图15为本技术实施例提供的一种箱体的结构示意图;图16为图15所示的箱体的主视图。附图标记:1-线分辨力及穿透分辨力检测卡;11-第一检测卡底板;12-第一金属阶梯;13-非金属板;14-正弦波插条;15-金属丝导体;2-穿透力检测卡;21-第二检测卡底板;22-第二金属阶梯;23-铅块;24-磁铁;3-空间分辨力检测卡;31-第三检测卡底板;32-检测单元;4-滑动支架;41-底板;42-固定支座;43-移动支座;44-位置调整机构;5-测试箱体;51-上箱体;52-下箱体;6-测试工装。具体实施方式以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明,应当理解,此处所本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种测试体,其特征在于,包括:线分辨力及穿透分辨力检测卡;所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括:第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条;所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成,所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间,所述非金属板的另一端设置有缺口,所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。

【技术特征摘要】
1.一种测试体,其特征在于,包括:线分辨力及穿透分辨力检测卡;所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括:第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条;所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成,所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间,所述非金属板的另一端设置有缺口,所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。2.根据权利要求1所述的测试体,其特征在于:所述第一金属阶梯为铝阶梯,所述非金属板为塑料板。3.根据权利要求1所述的测试体,其特征在于,还包括:穿透力检测卡;所述穿透力检测卡包括:第二检测卡底板、第二金属阶梯和多块铅块;所述第二金属阶梯贴合固定在所述第二检测卡底板上,所述第二金属阶梯具有多个阶梯,每个所述阶梯上放置一块所述铅块。4.根据权利要求3所述的测试体,其特征在于:多块所述铅块的形状相互不同。5.根据权利要求3或4任一项所述的测试体,其特征在于:所述铅块的底部镶嵌有磁铁。6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:陶磊张文弘刘琳芦朋赵磊滕旭王磊谢峰韩井玉孙晓冬严瑾靳树娟刘芷伊
申请(专利权)人:公安部第一研究所北京中盾安全技术开发公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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