分子MRI中的磁敏度精确量化制造技术

提供了一种用于磁源磁共振成像的方法和装置。该方法包括从对象收集能量信号，提供所述对象特征的附加信息，以及根据所述能量信号并根据所述附加信息生成图像，使得所述图像包含所述特征的定量估计的显示，例如对磁敏度的定量估计。所述附加信息可包括所述对象的预定特征，由所述对象生成的幅值图像，或者从所述图像和成像系统之间的不同相对方向上收集到的磁信号。基于所收集的信号和所述附加信息，通过反演运算生成所述图像。该反演运算使得代价函数最小化，其中所述代价函数是通过对从所收集的信号和所述对象的附加信息提取出的数据进行组合而得到的。另外，所述图像被用于检测包括微出血、造影剂及类似情况的多种诊断特征。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于提供对象的磁源磁共振成像的方法，所述方法包括：在两个或更多个方向上从所述对象采集磁共振信号；以及利用在所述两个或更多个方向上采集到的磁共振信号，生成所述对象的磁敏度分布的图像。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：王乙，L·德·洛歇福尔，B·克雷斯勒，刘田，P·史宾斯梅勒，
申请(专利权)人：康奈尔大学，
类型：发明
国别省市：美国;US