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基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统技术方案

技术编号:12553207 阅读:53 留言:0更新日期:2015-12-20 22:03
本实用新型专利技术公开了一种基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统。在OCT系统中,使用线聚焦光照明和并行探测,利用OCT成像获得的复解析信号,分析玻璃界面处沿深度方向的复解析信号与标准单一反射界面所产生的复解析信号的差异大小来划定玻璃表面缺陷核心的边界,利用OCT成像获得的玻璃表面的复解析反射信号的相位重构高精度的玻璃表面形貌图,通过比对玻璃表面缺陷核心边界图与玻璃表面形貌图,实现真缺陷和伪缺陷的识别。本实用新型专利技术可以实现高分辨率、高准确率的真伪缺陷识别,可以在有尘生产环境中实时检测玻璃缺陷而不会因灰尘的干扰造成误判。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光学相干测量领域,具体涉及一种基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统。技术背景质量控制在玻璃制造工业中是一个关键问题,玻璃中存在的缺陷会大大降低玻璃的质量。人工检测速度慢,易受检测人员主观因素的影响而对玻璃缺陷造成漏检或误检,已经不能适应现代玻璃工业生产线。目前,自动玻璃缺陷检测已经成为一种趋势。自动玻璃缺陷检测系统主要有激光扫描检测和摩尔干涉检测两种。激光扫描检测对微小缺陷不敏感,抗干扰能力差。摩尔干涉检测可以根据图像灰度变化识别出点缺陷,如结石、锡点等,也可以通过条纹扭曲变化识别出光学缺陷,如气泡、畸变、砸伤、波筋等。然而,不管使用以上哪种方法,都有可能将灰尘等伪缺陷识别为点缺陷,造成误判,而在玻璃生产线上,通常是没有灰尘防控系统的,因此这种误判将会大大降低自动检测的准确率和生产的效率。为解决这一问题,华中科技大学的余文勇等人在摩尔干涉检测的基础上提出通过检测点缺陷周围区域是否存在光学畸变,即点缺陷周围是否存在扭曲的摩尔条纹的方法来区分真缺陷和伪缺陷,依据是点缺陷同时会造成缺陷核心周围区域的光学畸变从而引起摩尔条纹扭曲,而伪缺陷不会引起摩尔条纹扭曲。在对质量要求不高,缺陷尺寸较大的情况下,这一方法一定程度上解决了真伪缺陷的识别问题,但在质量要求更高的情况下,当尺寸更小的缺陷也要求被检出并与灰尘等伪缺陷区分开时,这一方法则无法达到相应的检测和识别要求。原因有以下两点:一是摩尔条纹的灰度变化与缺陷造成的图像灰度变化是叠加在一起的,影响缺陷核心边界划定的准确性,二是当摩尔条纹的变化对微小的光学畸变并不敏感,而微小尺寸的真伪缺陷识别对边界划定的准确性和光学畸变的检测灵敏度都有很高的要求。光学相干层析成像(Optical Coherence Tomography,简称OCT)能够实施非接触、无损伤、高分辨率的三维成像,在生物医学领域已经得到广泛应用,在工业检测领域的应用也正在逐步发展之中。目前的应用于工业检测的OCT技术,主要通过探测样品中的散射物质的背向散射光光强以及样品界面的反射或背向散射光强来获得样品的三维结构信息。由于玻璃是低散射物质,且具有很高的光学均匀性,没有任何缺陷的玻璃在OCT图像中仅有玻璃表面这一界面反射信号;而玻璃中的点缺陷是散射物质,玻璃中的气泡和裂纹等具有反射界面,因此OCT技术可以通过玻璃的三维图像检测到结石、锡点、划痕、气泡、畸变等玻璃缺陷,并且相对于前面提到的几种技术具有高分辨能力的深度分辨能力。然而,仅仅利用OCT的三维成像能力仍然会将灰尘误识为玻璃表面的点缺陷,无法排除灰尘等伪缺陷。
技术实现思路
本技术针对现有技术的不足,提出一种OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统。—种基于OCT复解析信号的识别玻璃缺陷的系统,包括:光源,光束整形模块,用于接收所述光源发出的光,并输出整形光束,分束器,用于将所述整形光束分成第一光束和第二光束,参考臂模块,用于将所述第一光束聚焦在参考反射镜上,并使所述参考反射镜反射的光返回所述分束器,样品臂模块,用于将所述第二光束聚焦在玻璃上,并使所述玻璃反射的光返回所述分束器,其中,所述参考反射镜反射的光和所述玻璃反射的光形成干涉光,成像光谱仪模块,用于接收所述干涉光,形成干涉光谱信号并进行光电转换,以及数据采集及处理模块,用于接收所述光电转换的干涉光谱信号;边界图单元,用于根据玻璃界面处沿深度方向的干涉复解析信号与标准单一反射界面所产生的干涉复解析信号的差异,确定玻璃缺陷的边界图,形貌图单元,用于根据玻璃的干涉复解析信号的相位重构玻璃表面形貌图,识别单元,用于对比玻璃缺陷的边界图和玻璃表面形貌图,从而识别玻璃缺陷是真缺陷或者伪缺陷。所述光源是宽带光源。所述光束整形模块包括:光纤准直器,用于接收所述光源发出的光,并输出准直光束,以及第一柱面透镜,用于接收所述准直光束,并输出柱面波光束。所述参考臂模块包括:第二柱面透镜,用于接收所述第一光束,输出准直光束,以及第一物镜,用于将所述准直光束聚焦在参考反射镜上。所述样品臂模块包括:第二物镜,用于将所述第二光束聚焦在玻璃上。所述成像光谱仪模块包括:衍射光栅,用于将所述干涉光分解为干涉谱信号,以及面阵相机,用于探测所述干涉谱信号并对所述干涉谱信号进行光电转换。与
技术介绍
相比,本技术具有的有益效果是:1、通过使用OCT成像获得具有深度分辨能力的复解析信号,相比于传统的摩尔干涉检测法,缺陷的图像灰度信息与形貌信息是分开且互不影响的,可以更准确地划定缺陷的边界以及测量玻璃表面形貌变化造成的光学畸变,从而更准确地识别真伪缺陷。2、相比于传统的摩尔干涉检测法,通过OCT的干涉相位测量装置可以实现亚波长量级甚至纳米级的深度分辨能量力,更高灵敏度和更高精度地测量玻璃表面形貌变化造成的光学畸变,从而可以识别更小尺寸的真伪缺陷,具有更高的分辨能力。【附图说明】图1是本技术的成像系统示意图;图2是本技术的扫描示意图;图1中:1、宽带光源,2、光纤准直器,3、第一柱面透镜,4、分束器,5、第二柱面透镜,6、第一物镜,7、参考反射镜,8、第二物镜,9、样品,10、电动载物台,11、第一聚焦透镜,12、第二聚焦透镜,13、衍射光栅,14、第三聚焦透镜,15、面阵相机,16、光束整形模块,17、参考臂模块,18、样品臂模块,19、成像光谱仪模块,20、数据采集及处理模块。【具体实施方式】在下文中,“真缺陷”是指在玻璃表面导致形变的缺陷,例如气泡、畸变、砸伤、锡点、结石等;“伪缺陷”是指不会在玻璃表面导致形变的缺陷,例如灰尘。“标准单一反射界面”是指其上没有“真缺陷”或“伪缺陷”的理想平滑的玻璃界面。“深度方向”是指玻璃的厚度方向。“横向”是指与深度方向垂直的方向。本技术的目的在于提供一种基于OCT复解析信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统。本技术:利用OCT成像获得的复解析信号,分析玻璃界面处沿深度方向的复解析信号与标准单一反射界面所产生的复解析信号的差异大小,划定玻璃表面缺陷核心(包括锡点、结石等真缺陷和灰尘等伪缺陷)的准确边界;利用OCT成像获得的玻璃表面的复解析反射信号的相位重构高精度的玻璃表面形貌图;比对玻璃表面缺陷核心边界图与玻璃表面形貌图,识别出真缺陷和伪缺陷。—种基于OCT复解当前第1页1 2 本文档来自技高网
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【技术保护点】
基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统,其特征在于:该系统包括:宽带光源,光束整形模块,用于接收所述光源发出的光,并输出整形光束,分束器,用于将所述整形光束分成第一光束和第二光束,参考臂模块,用于将所述第一光束聚焦在参考反射镜上,并使所述参考反射镜反射的光返回所述分束器,样品臂模块,用于将所述第二光束聚焦在玻璃上,并使所述玻璃反射的光返回所述分束器,其中,所述参考反射镜反射的光和所述玻璃反射的光形成干涉光,成像光谱仪模块,用于接收所述干涉光,形成干涉光谱信号并进行光电转换,以及数据采集及处理模块,用于接收所述光电转换的干涉光谱信号;边界图单元,用于根据玻璃界面处沿深度方向的干涉复解析信号与标准单一反射界面所产生的干涉复解析信号的差异,确定玻璃缺陷的边界图,形貌图单元,用于根据玻璃的干涉复解析信号的相位重构玻璃表面形貌图,识别单元,用于对比玻璃缺陷的边界图和玻璃表面形貌图,从而识别玻璃缺陷是真缺陷或者伪缺陷。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:丁志华陈志彦鲍文李鹏沈毅唐弢
申请(专利权)人:浙江大学
类型:新型
国别省市:浙江;33

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