一种提高逐次逼近模数转换器DNL/INL的位循环方法技术

技术编号:12349961 阅读:289 留言:0更新日期:2015-11-19 01:11
该发明专利技术公开了一种提高逐次逼近模数转换器DNL/INL的位循环方法,涉及微电子学与固体电子学领域,特别是高精度SAR ADC领域。通过设置两种不同的判断码子输出的方法,在ADC码子判断过程中通过这两种方法的依次循环,从而不需要额外DAC,也不需要任何校正算法,只需要在两种位循环模式之间进行切换,即可避免电容失配引入的误差总在同一码字不断累加,从而具有提升DNL和INL的效果。

【技术实现步骤摘要】

涉及微电子学与固体电子学领域,特别是高精度SAR ADC领域。
技术介绍
ADC-般分为全并行模数转换器(Flash ADC)、流水线模数转换器(Pipeline ADC)、过采样模数转换器(2 A ADC)以及逐次逼近模数转换器(SAR ADC)。1994年, 文南犬对不同 ADC 的比较器功耗进行了 分析,结果表明:SAR ADC的结构比Flash ADC和Pipeline ADC更为优越。与Flash ADC相 比,Flash ADC所要用到的比较器数目与精度呈指数关系,而SAR ADC只需要一个比较器。 与Pipeline ADC相比,SAR ADC不需要高性能运放,降低了系统复杂度和功耗。近年来,尤 其在Ultra-Wideband (UWB)通信领域的应用中,高能量效率的时间交织SAR ADC更是成为 优于Flash ADC和Pipeline ADC的选择。SAR ADC -般分为电压型SAR ADC,电流型SAR ADC以及电荷重分配型SAR ADC。电压型SAR ADC简单且容易实现,如图1所示,将数个大 小相同的电阻放置在参考电压 VREF和地之间,再将每一个电阻的端点电压由开关引出,即得到分段参考电压,根 据二进制搜索算法通过开关控制,将相应的分段参考电压送入比较器与输入电压进行比较 就可以得到相应的数字输出码。利用电阻串作为DAC组成的电压型SAR ADC,最大的优势 是能够保证良好的单调性,因此在工业上应用比较广泛。但对于N位SAR ADC,电压型SAR ADC需要2N个单位电阻,即随着SAR ADC精度增加,所需要的电阻和开关数量呈指数增加, 占用大量的芯片面积且消耗静态电流,因此,电压型SAR ADC -般用于精度小于8的场合, 不适用于高精度和低功耗的应用。 电流型SAR ADC利用M0S管构成二进制加权的电流源阵列,如图2所示(从文献 [孙彤, "低功耗逐次逼近模数转换器的研究与设计",清华大学硕士学位论文,2007.]复 制),通常情况下,首先根据二进制搜索算法将电流源的电流进行组合,然后转换成相应的 电压,送入电压比较器与输入电压进行比较,或者可以将输入电压转换成电流,然后与电流 源的组合电流进行比较。电流型SAR ADC的优点是速度快,但是所采用电阻的阻值受温度 和环境因素影响较大,容易引入谐波失真,因此,电流型SAR ADC同样不适用于高精度的应 用。 电荷重分配型SARADC由美国Berkeley大学专利技术,是近年来的研究热点。如 图3所示,它基于电荷守恒原理,通过电容的电荷重分配实现二进制搜索算法,不消耗 静态功耗,只消耗动态功耗。因此,电荷重分配型SARADC是消耗能量最少、品质因子 (FigureofMerit,缩写为F0M)最低的SARADC。在ISSCC2014会议上,文献设计的 10位200kS/s电荷重分配型SAR ADC,FOM值仅0. 85f J/step,为目前世界上最低的FOM值。 文南犬指出: 电荷重分配型SAR ADC受限于电容失配,目前工艺条件下,电容匹配精度一般被限制在 10位以下,因此在精度大于10位的情况下,一般需要采用校正技术来提高其微分非线性 (Differential Nonlinearity,缩写为 DNL)和积分非线性(Integral Nonlinearity,缩 写为INLh早在1984年,加州大学伯克利分校Gray教授研究小组的Lee Hae-seung(现 为MIT教授)就发表了 一款带校正的15位SAR ADC,设计采用6m CMOS工艺,5V电 压供电,前台校正将线性度从初始的10位提高至15位,INL的最大值为1.6LSB。文 献米用前台校正技术,在 45nm CMOS工艺下实现12位500kS/s的SAR ADC,该文献对比较器失调和电容失配进行校 正后,性能有了明显的改善,在500kHz采样时钟,16kHz输入信号下,测试得到DNL的最大值 为 1. 5LSB,INL 的最大值为 1. 4LSB,F0M 为 195f J/stepD 文献采用前台校正技术,在 0? 18m CMOS 工艺下实现精度为10位,采样率为lMS/s的SAR ADC,在奈奎斯特输入信号下测试,校正 前,信号噪声失真比(Signal-to-Noise-and-Distortion ratio,缩写为 SNDR)和无杂 散动态范围(Spurious Free Dynamic Range,缩写为 SFDR)分别为 42. ldB 和 46. 5dB, 校正后,SNDR 和 SFDR 分别为 51. ldB 和 69. 8dB。文献采用后台校正技术在 0. 13m CMOS 工艺下实 现精度为12位,采样率为22. 5MS/s的SAR ADQ在22. 5MHz采样时钟,奈奎斯特输入当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/61/CN105071811.html" title="一种提高逐次逼近模数转换器DNL/INL的位循环方法原文来自X技术">提高逐次逼近模数转换器DNL/INL的位循环方法</a>

【技术保护点】
一种提高逐次逼近模数转换器DNL/INL的位循环方法,包括循环模式1与循环模式2,采用两种循环模式交替判断ADC的输出,其中循环模式1包括:步骤1:通过两组电容对输入电压进行采样,包括比较器的正端输入电压和负端输入电压,每一端电容组包含四位电容:最高位电容、次高位电容、第三位电容、第四位电容;所有电容下极板采样输入电压,上极板接共模电平,所有电容对输入电压采样之后,所有电容上极板断开与共模电平的连接,下极板接共模电平,比较器比较其正、负输入端电压之差是否大于等于0,判断出ADC输出码字的最高位;步骤2:若ADC输出码字的最高位为1,则在步骤1的基础上,将最高位电容悬空,将比较器正端次高位电容下级板连接正参考电压VREFP,负端次高位电容下级板连接负参考电压VREFN,比较器比较输入电压是否大于等于0.5倍基准电压;若ADC输出码字的最高位为0,则在步骤1的基础上,将最高位电容悬空,将比较器正端次高位电容下级板连接负参考电压VREFN,负端次高位电容下级板连接正参考电压VREFP,比较器比较输入电压是否大于等于‑0.5倍基准电压,判断出ADC输出码字的第二位;步骤3:假设ADC输出码字的最高位为1,若输出码字次高位为1,则正端最高位电容、次高位电容接VREFP,负端最高位电容、次高位电容接VREFN,其余电容的接法保持不变,输入电压与0.75倍基准电压进行比较,获得输出码字的第三位;反之,若输出码字次高位为0,则正端次高位电容接VREFP,负端次高位电容接VREFN,正、负端其余所有电容接VCM,输入电压与0.25倍基准电压进行比较,获得输出码字的第三位;步骤4:当ADC输出码字的最高位为1时;若次高位和第三位的输出码字均为1,则在步骤3的基础上,将比较器正端输入第三位电容连接VREFP,负端第三位电容连接VREFN,其余电容的接法保持不变,将输入电压与0.875倍基准电压进行比较,获得第四位输出码字;若次高位的输出码字为1,第三位的输出码字为0,则将比较器正端输入第三位电容连接VREFN,负端第三位电容连接VREFP,其余电容的接法保持不变,将输入电压与0.625倍基准电压进行比较,获得第四位的输出码字;若次高位的输出码字为0,第三位的输出码字为1,则在步骤3的基础上,将比较器正端输入第三位电容连接VREFP,负端第三位电容连接VREFN,其余电容的接法保持不变,将输入电压与0.375倍基准电压进行比较,获得第四位输出码字;若次高位和第三位的输出码字均为0,则在步骤3的基础上,将比较器正端输入第三位电容连接VREFN,负端第三位电容连接VREFP,其余电容的接法保持不变,将输入电压与0.125倍基准电压进行比较,获得第四位输出码字;当ADC输出码字的最高位为0时,获得第四位输出码字的四种情况的连接方法与当ADC输出码字的最高位为1时相比只需将电容与VREFP和VREFN的连接互换。循环模式2包括:步骤1:通过两组电容对输入电压进行采样,包括比较器的正端输入电压和负端输入电压,每一端电容组包含四位电容:最高位电容、次高位电容、第三位电容、第四位电容;所有电容下极板采样输入电压,上极板接共模电平,所有电容对输入电压采样之后,所有电容上极板断开与共模电平的连接,下极板接共模电平,判断输入电压是否大于等于0,判断出ADC输出码字的最高位;步骤2:若ADC输出码字的最高位为1,则在步骤1的基础上,将比较器正端最高位电容下极板连接正参考电压VREFP,负端最高位电容下级板连接负参考电压VREFN,其余电容的接法保持不变,比较器比较输入电压是否大于等于0.5倍基准电压,若ADC输出码字的最高位为0,则在步骤1的基础上,将比较器正端最高位电容下级板连接负参考电压VREFN,负端最高位电容下级板连接正参考电压VREFP,比较器比较输入电压是否大于等于‑0.5倍基准电压,判断出ADC输出码字的第二位;步骤3:假设ADC输出码字的最高位为1,若次高位输出码字为1,则在步骤2的基础上,将正端最高位电容、次高位电容接VREFP,负端最高位电容、次高位电容接VREFN,其余电容的接法保持不变,输入电压与0.75倍基准电压进行比较,获得输出码字的第三位;反之,若输出码字的次高位为0,则在步骤2的基础上,将正端最高位电容接VREFP,次高位电容接VREFN,负端最高位电容接VREFN,次高位电容接VREFP,判断输入电压是否大于0.25倍基准电压,获得第三位的输出码字;步骤4:假设ADC输出码字的最高位为1,若次高位和第三位的输出码字均为1,则在步骤3的基础上,将比较器正端输入第三位电容连接VREFP,负端第三位电容连接VREFN,其余电容的接法保持不变,将输入电压与0.875倍基准电压进行比较,获得第四位输出码字;若次高位的输出码字为1,第三位的输出码字为...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:樊华佛朗哥·马勒博迪
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:四川;51

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