一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法技术方案

本发明专利技术公开了一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法，通过控制器产生方波信号以及发送给信号处理电路的控制信号；功率放大电路激发激励线圈在被测金属表面产生涡流效应；将差动线圈探头中的第一检测线圈和第二检测线圈产生感应信号通过信号处理电路进行做差、放大、滤波和峰值保持处理；输出直流电压信号；移动差动线圈探头的位置，重复上述过程，对被测金属表面进行扫描检测。本发明专利技术的金属表面缺陷检测系统及其检测方法能够对金属表面缺陷以较低的采样速度、较直观的检测结果进行检测，同时能够与漏磁检测方法进行集成复合检测，从而实现管道漏磁检测内外缺陷区分。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及金属表面缺陷的无损检测领域，尤其涉及一种金属表面缺陷检测系统及检测方法。
技术介绍
金属表面或近表面缺陷检测领域，常用涡流法进行检测。在线圈上接通交流电，产生垂直于金属工件的交变磁场，该工件表面感应出涡流同时产生与原磁场方向相反的磁场；若金属工件存在缺陷，将改变涡流场的强度及分布，使线圈阻抗发生变化，检测该变化可判断有无缺陷。涡流检测通常采用阻抗分析法，一般需要采样率很高的设备对线圈的感应电压进行检测，其检测结果不直观，不便与其他检测方法进行集成复合检测。在金属管道腐蚀检测方法中，目前常用的方法之一为管道漏磁内检测方法。漏磁内检测方法仅能实现缺陷检测，不能进行内外壁缺陷区分。而内外壁缺陷区分对管道维修非常重要。因此亟需一种金属表面缺陷检测方法，与漏磁检测方法复合检测，以实现内外壁缺陷区分。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于涡流检测的金属表面缺陷检测系统及检测方法，以较低的采样速度、较直观的检测结果对金属表面缺陷进行检测，同时与漏磁检测方法进行集成复合检测，从而实现内外缺陷区分。根据本专利技术的一个方面，提供一种金属表面缺陷检测系统，所述系统包括控制器、功率放大电路、差动线圈探头、信号处理电路、模拟多路开关及模数转换器模块；其中，控制器用于产生一定频率的方波信号，通过控制信号协助信号处理电路进行信号处理，读取模数转换器转换的数字信号并输出；功率放大电路用于提高方波信号的驱动能力，从而激励差动线圈探头；差动线圈探头用于在激励信号的激发下在被测金属表面产生涡流，并感应输出与涡流效应相关的感应信号；信号处理电路用于将差分探头线圈的输出感应信号调理成易于识别和解释的直流模拟电压信号；模拟多路开关用于将多路信号处理电路的输出模拟电压信号发送到模数转换器进行数字化转换；模数转换器用于将模拟电压信号转换为数字信号。进一步的，系统的各个模块之间通过如下具体方式进行连接:控制器的I/O 口与功率放大电路输入端相连，功率放大电路输出端与差动探头线圈的激励信号输入端相连，差动探头线圈感应信号输出端与信号处理电路的模拟信号输入端相连，信号处理电路的控制信号输入端与控制器的I/o 口相连，信号处理电路的模拟信号输出端与模拟多路开关输入端相连，模拟多路开关的输出端与模数转换器的模拟信号输入端相连，模数转换器的数字信号输出口与控制器数字接口相连。进一步的，所述功率放大电路包括用于方波信号功率放大的数字反相器、用于限制所述差动线圈探头中激励线圈电流的限流电阻、用于调整激励线圈电压过冲的滤波电容以及用于激励线圈续流的续流二极管；其中数字反相器输出端串接限流电阻再接入差动探头线圈，滤波电容和续流二极管在限流电阻与差动探头线圈之间并联接地。进一步的，所述差动线圈探头由第一检测线圈、第二检测线圈、激励线圈以及探头骨架组成，其中第一检测线圈、第二检测线圈在激励线圈两侧对称同轴设置，第一检测线圈设置在离检测表面近的一面，第一检测线圈、第二检测线圈的电气参数设置为完全一致，所述差动线圈探头的第一检测线圈、第二检测线圈、激励线圈均有起头和末头2个线头，共6个线头；其中激励线圈一端接功率放大电路出处端，另一端接地；第一检测线圈和第二检测线圈的一对同名端接入到信号处理电路的供电电源的中点电压平面，另一对同名端接入信号处理电路的输入端。进一步的，所述信号处理电路由差动放大电路、低通滤波电路、放电电路、峰值保持电路、自放电电阻、开关放电电路、缓冲电路、滤波电路组成，其中差动放大器对第一检测线圈的感应信号和第二检测线圈的感应信号进行求差运算；低通滤波电路采用RC低通滤波方式去除高频干扰；放电电路对信号进一步放大；峰值保持电路由二极管和电容组成；自放电电阻和开关放电电路为峰值保持电路的电容提供两种放电回路，可以选用其中一种或者两种并联，开关放电电路由可通过控制器控制闭合和断开的控制开关以及电阻组成；缓冲电路采用运放放大器配置成增益为I的同相放大形式；滤波电路采用RC低通滤波方式使信号平滑。进一步的，差动放大器的同相输入端和反相输入端分别与差动线圈探头的第一检测线圈和第二检测线圈的一对同名端相连，滤波电路输出端与模拟短路开关输入端相连，差动放大电路、低通滤波电路、放电电路、峰值保持电路、自放电电阻、开关放电电路、缓冲电路、滤波电路依次串联连接。根据本专利技术的另一方面，提供一种使用金属表面缺陷检测系统进行检测的方法，包括:通过控制器产生方波信号以及使信号处理电路中的开关放电电路的控制开关断开的控制信号；功率放大电路激发激励线圈在被测金属表面产生涡流效应；将差动线圈探头中的第一检测线圈和第二检测线圈产生感应信号通过信号处理电路进行做差、放大、滤波和峰值保持处理；输出直流电压信号；通过模拟多路开关输出到模数转换器进行A/D转换，并由控制器读取数据，同时控制器停止产生方波信号；控制器产生使信号处理电路中的开关放电电路的控制开关闭合的控制信号，然后控制器输出数字化的检测数据；移动差动线圈探头的位置，重复上述过程，对被测金属表面进行扫描检测。有益效果:本专利技术的金属表面缺陷检测系统及其检测方法方法能够对金属表面缺陷以较低的采样速度、较直观的检测结果进行检测，同时能够与漏磁检测方法进行集成复合检测，从而实现管道漏磁检测内外缺陷区分。【附图说明】下面结合附图和示例对本专利技术【具体实施方式】作进一步详细的说明。图1是本专利技术【具体实施方式】的检测系统示意图；图2是本专利技术【具体实施方式】的功率放大电路示意图；图3是本专利技术【具体实施方式】的差动线圈探头结构示意图；图4是本专利技术【具体实施方式】的信号处理电路示意图；图5是本专利技术【具体实施方式】的时序示意图。【具体实施方式】图1是本专利技术的检测系统示意图，由I个控制器1、2路功率放大电路2、2个差动线圈探头3、2路信号处理电路4、I个模拟多路开关及模数转换器5等模块组成检测系统，其中功率放大电路2、差动线圈探头3、信号处理电路4 一一对应组成涡流检测模块，即配备2通道的涡流检测模块；控制器I和模拟多路开关及模数转换器组成数据采集模块。涡流检测模块输出与被测金属检测表面缺陷较为直观对应的、可以较低采样速度捕获的直流电压信号，数据采集模块对该信号进行A/D转换、采集和输出。I个控制器1、2路功率放大电路2、2路信号处理电路4、I个模拟多路开关及模数转换器5全部配置在一块印制电路板中，2个差动线圈探头3以一定提离距离贴在被测金属的检测表面，通过绕组漆包线与所述印制电路板焊接。模拟多路开关及模数转换器5采用带2通道以上的模拟多路开关的12位以上的模数转换器，采样速度1MHz，与控制器的接口形式是SPI。控制器采用CPLD，产生2路输出到功率放大电路的占空比为50%、频率为200kHz的方波信号以及2路使信号处理电路中的开关放电电路中的放电开关断开和闭合的控制信号，配置有2路速度为20MHz的SPI接口，一路用于与模数转换器接口读取A/D转换数据，另一路对外接口以数字信号的形式输出的数据。由于模拟多路开关及模数转换器5带通道数大于2，除去2路涡流检测模块输出的模拟信号，还能接入其他模拟信号，如漏磁检测的霍尔传感器信号，因此可以很容易与其他类型检测方法集成复合检测。图2是本专利技术的功率放大电路示意图，包括:用于方波信号功率放本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种金属表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括控制器、功率放大电路、差动线圈探头、信号处理电路、模拟多路开关及模数转换器模块；其中，控制器用于产生一定频率的方波信号，通过控制信号协助信号处理电路进行信号处理，读取模数转换器转换的数字信号并输出；功率放大电路用于提高方波信号的驱动能力，从而激励差动线圈探头；差动线圈探头用于在激励信号的激发下在被测金属表面产生涡流，并感应输出与涡流效应相关的感应信号；信号处理电路用于将差分探头线圈的输出感应信号调理成易于识别和解释的直流模拟电压信号；模拟多路开关用于将多路信号处理电路的输出模拟电压信号发送到模数转换器进行数字化转换；模数转换器用于将模拟电压信号转换为数字信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：熊鑫，许振丰，郑莉，庞旭林，高雯，
申请(专利权)人：北京华航无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11