本发明专利技术公开了一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，检测装置用于对设备两个或多个平板形或类帆形部件位置度的自动无接触检测，且采用位移传感器对设备两待测型面同时进行数据采集，提高了测量效率；采用纳米级位移传感器，分辨率高达0.02～0.08μm，保证了测量精度；数控分度盘可实现设备轴向的直线运动以及控制调节位移传感器的高度位置，以检测不同位置处的设备部件，避免了工作过程中对设备的损伤；位移传感器测得的数据传输到相应控制模块对位置精度信息进行实时显示，系统可根据需要控制检测装置，实现检测装置的全自动测量。检测装置结构简单易操作、可调性好，避免了人工手动测量带来的误差和不安全的风险。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，属于机械设计与制造及测试设备领域。
技术介绍
设备部件的相对位置是影响设备运行精度的重要因素，也是判别设备精度的重要参数，位置精度越符合标准的设备，其运行控制精度越有保证，所以在对设备部件位置精度要求高的场合，部件相对位置检测尤为重要。目前应用较多的测量设备部件相对位置技术是在三维坐标测量机进行的，由于该类设备不是测量相对位置的专用设备，且绝大多数是接触式测量，在测量过程中由于接触设备会影响测量精度，容易损伤设备，而且效率不高，因此在实际检测调试中不太实用。另一种测量设备部件相对位置的方法是采用光学成像技术，通过分析图像测得两部件型面的相对位置信息，但这种方法在测试过程中由于生产设备及环境各种干扰因素太多，如激光器的非一致性，光学镜头的像素因素，光环境的变化等都会影响测量结果。
技术实现思路
为了避免现有技术存在的不足，本专利技术提出一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，自动检测装置针对设备两个或多个平板形或类帆形部件位置度的自动无接触检测，且检测装置采用位移传感器对设备两待测型面同时进行数据采集，提高了测量效率，保证测量精度。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:包括基座和控制系统，其中还包括数控分度盘、导轨、丝杠导轨、第一位移传感器、第二位移传感器、X轴电机、旋转方向电机、光电开关、高度调节电机、移动V形支架、固定V形支架，所述基座为其它各部件提供支撑；丝杠导轨和导轨分别固定在基座上，且同轴安装，固定V形支架安装在基座上位于导轨一端，移动V形支架与导轨配合，待测设备位于两个V形支架上；丝杠导轨位于基座端部，数控分度盘与丝杠导轨连接，X轴向电机固定在基座上与丝杠导轨一端连接，X轴向电机控制数控分度盘沿设备轴向移动；数控分度盘一端与旋转方向电机连接，旋转方向电机控制数控分度盘绕设备轴向旋转运动；数控分度盘另一端安装有L形横杆，横杆的中间部位安装有第一位移传感器和光电开关，横杆的一端部安装有高度调节电机和第二位移传感器，位移传感器随数控分度盘移动或转动，实现检测设备两个或多个部件相对位置；所述控制系统控制各电机，位移传感器测得的数据直接传输给控制系统，控制系统通过液晶显示器对设备部件位置精度信息实时显示，实现设备部件相对位置的无接触检测。两个V形支架上表面装有硬塑料板或软金属材料的任意一种。所述基座下部安装有支脚和滚轮，支脚高度可调节。有益效果本专利技术提出的一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，由基座、导轨、V形支架实现设备承载和固定，位移传感器实现设备部件相对位置的非接触测量，伺服电机控制数控分度盘实现位移传感器的移动和转动，且位移传感器的高度可调节，以检测设备不同位置处部件的相对位置，滚轮和支脚用于支撑移动检测装置。自动检测装置用于对设备两个或多个平板形或类帆形部件位置度的自动无接触检测，且检测装置采用位移传感器对设备两待测型面同时进行数据采集，提高了测量效率；采用纳米级位移传感器，分辨率高达0.02?0.08 μ m，保证了测量精度；数控分度盘实现设备轴向的直线运动以及控制调节位移传感器的高度位置，以检测不同位置处的设备部件，避免了工作过程中对设备的损伤；位移传感器测得的数据传输到相应控制系统对位置精度信息进行实时显示，控制系统根据需要控制检测装置，实现检测装置的全自动测量。检测装置用于对设备部件位置精度要求高和非接触自动检测的场合。装置结构简单易操作、可调性好，避免了人工手动测量带来的误差和不安全的风险。【附图说明】下面结合附图和实施方式对本专利技术一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置作进一步详细说明。图1为本专利技术自动检测装置结构示意图。图2为本专利技术自动检测装置的局部放大图。图中:1.基座2.待测设备3.移动V形支架4.导轨5.支脚6.丝杠导轨7.滚轮8.X轴电机9.旋转方向电机10.数控分度盘11.第一位移传感器12.光电开关13.高度调节电机14.第二位移传感器15.固定V形支架【具体实施方式】本实施例是一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置。参阅图1、图2，丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，由控制系统、基座1、数控分度盘10、导轨4、丝杠导轨6、第一位移传感器11、第二位移传感器14、X轴电机8、旋转方向电机9、光电开关12、高度调节电机13、移动V形支架3、固定V形支架15和支脚5、滚轮7组成。基座I为其它各部件提供支撑；丝杠导轨6和导轨4分别固定在基座上，且丝杠导轨6和导轨4同轴安装。固定V形支架15安装在基座I上位于导轨4的一端，移动V形支架3与导轨4配合，待测设备2放置在固定V形支架15和移动V形支架3上；移动V形支架3沿导轨4移动以调整承载待测设备2部位。装置安装时，两个V形支架的中心线与待测设备轴线、导轨4轴线位于同一垂直平面内。V形支架可保证待测设备2安放的重复定位精度；在两个V形支架上表面装有硬塑料板或软金属材料，以保护待测设备2表面不被划伤。基座I下部安装有支脚5和滚轮7车轮，支脚5高度可调节。丝杠导轨6安装在基座I的端部，数控分度盘10与丝杠导轨6连接，X轴向电机8固定在基座I上与丝杠导轨6 —端连接，X轴向电机8控制数控分度盘10沿待测设备2轴向移动；数控分度盘10 —端与旋转方向电机9连接，旋转方向电机9控制数控分度盘10绕待测设备2轴向旋转运动；数控分度盘10另一端安装有L形横杆，横杆的中间部位安装有第一位移传感器11和光电开关12，横杆的一端部安装有高度调节电机13和第二位移传感器14，位移传感器随数控分度盘移动或转动，并带动调节位移传感器的检测部位，实现检测对设备两个或多个平板形或类帆形部件位置度的自动无接触检测，且检测装置采用位移传感器对设备两待测型面同时进行数据采集，提高其测量效率；采用纳米级位移传感器，分辨率高达0.02?0.08 μ m，保证了测量精度；数控分度盘实现设备轴向的直线运动及控制调节位移传感器的高度位置，以检测不同位置处的设备部件，避免对设备的损伤。控制系统对各电机控制，位移传感器测得的数据直接传输给控制系统，控制系统通过液晶显示器对设备部件位置精度信息实时显示，实现设备部件相对位置的全自动、无接触检测。本实施例中安装在数控分度盘10上的横杆有多种形式，位移传感器在横杆上前后安装时，可检测设备前后部件的相对位置；位移传感器在横杆机构上并排安装时，可检测设备并排或在同一圆周上的部件相对位置，操作人员根据部件相对位置更换横杆以适应检测需要。本实施例中位移传感器配置有多个，分前后两组安装在横杆上，以同时检测设备两个或多个部件相对位置，提高检测精度和保证数据采集的稳定性，而且位移传感器支撑架与高度调节电机连接，可控制调节位移传感器的高度位置。【主权项】1.一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，包括基座和控制系统，其特征在于:还包括数控分度盘、导轨、丝杠导轨、第一位移传感器、第二位移传感器、X轴电机、旋转方向电机、光电开关、高度调节电机、移动V形支架、固定V形支架，所述基座为其它各部件提供支撑；丝杠导轨和导轨分别固定在基座上，且同轴安装，固定V形支架安装在基座上位于导轨一端，移动V形支架与导轨配合，待测设备位于两个V形支架上；丝杠导轨位于基座端部，数控分度盘与丝本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种丝束带成型后部件相对位置自动检测装置，包括基座和控制系统，其特征在于:还包括数控分度盘、导轨、丝杠导轨、第一位移传感器、第二位移传感器、X轴电机、旋转方向电机、光电开关、高度调节电机、移动V形支架、固定V形支架，所述基座为其它各部件提供支撑；丝杠导轨和导轨分别固定在基座上，且同轴安装，固定V形支架安装在基座上位于导轨一端，移动V形支架与导轨配合,待测设备位于两个V形支架上；丝杠导轨位于基座端部,数控分度盘与丝杠导轨连接，X轴向电机固定在基座上与丝杠导轨一端连接，X轴向电机控制数控分度盘沿设备轴向移动；数控分度盘一端与旋转方向电机连接，旋转方向电机控制数控分度盘绕设备轴向旋转运动；数控分度盘另一端安装有L形横杆，横杆的中间部位安装有第一位移传感器和光电开关，横杆的一端部安装有高度调节电机和第二位移传感器，位移传感器随数控分度盘移动或转动，实现检测设备两个或多个部件相对位置；所述控制系统控制各电机,位移传感器测得的数据直接传输给控制系统，控制系统通过液晶显示器对设备部件位置精度信息实时显示，实现设备部件相对位置的无接触检测。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：唐虹，潘景朋，谭小群，张宏基，高振涛，山俊骁，张延荣，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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