垂直结构LED芯片及其制造方法技术

技术编号:11723788 阅读:281 留言:0更新日期:2015-07-11 15:25
本发明专利技术揭示了一种垂直结构LED芯片的制造方法。包括:提供前端结构,所述前端结构包括蓝宝石衬底,依次形成于所述蓝宝石衬底上的掺杂氮化镓层、N型氮化镓层、量子阱层和P型氮化镓层;在所述P型氮化镓层上形成功能层,并且将一键合衬底与所述功能层键合,以及去除蓝宝石衬底;进行掺杂氮化镓层的刻蚀,暴露出N型氮化镓层;对暴露出的N型氮化镓层进行表面粗化处理;形成氧化铝层作为保护层。本发明专利技术还提供由该方法获得的垂直结构LED芯片。本发明专利技术能够提高出光率,获得更好的出光角度,提高了垂直结构LED芯片的发光效率,提高了垂直结构LED芯片可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术设及半导体
,特别是设及一种垂直结构L邸巧片及其制造方法。
技术介绍
[000引传统的正装结构LED巧片,P型GaN渗杂困难导致空穴载流子浓度低下和不易长 厚而导致电流不易扩散,当前普遍采用在P型GaN表面制备超薄金属薄膜或ITO薄膜的方 法达到电流得均匀扩散。但是金属薄膜电极层要吸收部分光降低出光效率,如果厚度减薄 反过来又限制电流扩散层在P型GaN层表面实现均匀和可靠的电流扩散。ITO透光率虽然 高达90%,但电导率却不及金属,电流的扩散效果亦有限。而且该种结构的电极和引线做 到出光面,工作时会挡住部分光线。因此,该种P型接触结构制约了L邸巧片的工作电流大 小。另一方面,该种结构的PN结热量通过藍宝石衬底导出,鉴于藍宝石的导热系数很低,对 大尺寸的功率型巧片来说导热路径较长,该种L邸巧片的热阻较大,工作电流也受到限制。为了克服正装led巧片的该些不足,业界提出一种垂直结构L邸巧片。垂直结构L邸巧片通过使用导热导电性很好的衬底W及表面粗化技术可W很好地解决该些难题。W N型氮化嫁层作为出光面,该N型氮化嫁层具有一定的厚度,便于制作表面微结构,W提高 光提取效率。 但由于垂直结构L邸巧片的表面粗化使其表面纯化成为难题。业内目前用PECVD 技术在巧片上长一层Si化作为L邸巧片保护层。但PECVD沉积Si02纯化层侧壁覆盖性较 差,从而垂直结构粗化表面的保护层亟需优化。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,提供一种垂直结构L邸巧片及其制造方法,提高垂直结构LED 巧片的出光效率,提高可靠性。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种垂直结构L邸巧片的制造方法,包括:提供前端结构,所述前端结构包括藍宝石衬底,依次形成于所述藍宝石衬底上的 渗杂氮化嫁层、N型氮化嫁层、量子阱层和P型氮化嫁层;[000引在所述P型氮化嫁层上形成功能层,并且将一键合衬底与所述功能层键合,W及 去除藍宝石衬底; 进行渗杂氮化嫁层的刻蚀,暴露出N型氮化嫁层; 对暴露出的N型氮化嫁层进行表面粗化处理; 形成氧化侣层作为保护层。 可选的,对于所述的垂直结构L邸巧片的制造方法,通过原子层沉积工艺形成所 述氧化侣层。可选的,对于所述的垂直结构L邸巧片的制造方法,所述氧化侣层的厚度为 loA-ioooA。可选的,对于所述的垂直结构L邸巧片的制造方法,所述渗杂氮化嫁层的刻蚀包 括整面刻蚀或者图形化刻蚀。 可选的,对于所述的垂直结构L邸巧片的制造方法,形成功能层包括: 在P型氮化嫁层上形成电流阻挡层 在P型氮化嫁层上电流阻挡层周围形成欧姆接触层; 在电流阻挡层和欧姆接触层上形成反射层; 在反射层上形成键合阻挡层和键合金属层。 可选的,对于所述的垂直结构L邸巧片的制造方法,所述电流阻挡层的材料包括 氧化娃、氧化侣或氮化娃;所述欧姆接触层的材料包括氧化铜锡、氧化锋或渗侣氧化锋;所 述反射层的材料包括银、侣或锭;所述键合阻挡层的材料包括铁-销合金或铁-鹤-销合 金;所述键合金属层的材料包括金、锡或金锡合金。 本专利技术还提供一种垂直结构L邸巧片,包括:[00巧键合衬底; 位于所述键合衬底上的功能层; 位于所述功能层上的P型氮化嫁层、量子阱层和N型氮化嫁层; 位于所述N型氮化嫁层上的氧化侣层,所述氧化侣层作为保护层。 本专利技术提供的垂直结构L邸巧片及其制造方法中,在暴露出的N型氮化嫁层上形 成氧化侣层作为保护层。相比现有技术,氧化侣层作为保护层能够提高出光率,获得更好的 出光角度,提高垂直结构L邸巧片的发光效率;进一步的,通过原子层沉积工艺形成所述氧 化侣层,提高了获得的保护层的质量,提高了垂直结构L邸巧片的可靠性。【附图说明】 图1为本专利技术实施例中垂直结构LED巧片的制造方法的流程图;[002引图2-图8为本专利技术实施例中垂直结构LED巧片的制造方法的过程中器件结构的 示意图。【具体实施方式】 下面将结合示意图对本专利技术的垂直结构L邸巧片及其制造方法进行更详细的描 述,其中表示了本专利技术的优选实施例,应该理解本领域技术人员可W修改在此描述的本发 明,而仍然实现本专利技术的有利效果。因此,下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广 泛知道,而并不作为对本专利技术的限制。 在下列段落中参照附图W举例方式更具体地描述本专利技术。根据下面说明和权利要 求书,本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非 精准的比例,仅用W方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。 本专利技术的核屯、思想在于,提供一种垂直结构LED的制造方法,包括: 步骤S101,提供前端结构,所述前端结构包括藍宝石衬底,依次形成于所述藍宝石 衬底上的渗杂氮化嫁层、N型氮化嫁层、量子阱层和P型氮化嫁层; 步骤S102,在所述P型氮化嫁层上形成功能层,并且将一键合衬底与所述功能层 键合,W及去除藍宝石衬底; 步骤S103,进行渗杂氮化嫁层的刻蚀,暴露出N型氮化嫁层; 步骤S104,对暴露出的N型氮化嫁层进行表面粗化处理; 步骤S105,形成氧化侣层作为保护层。 W下列举所述垂直结构L邸巧片及其制造方法的较优实施例,W清楚说明本专利技术 的内容,应当明确的是,本专利技术的内容并不限制于W下实施例,其他通过本领域普通技术人 员的常规技术手段的改进亦在本专利技术的思想范围之内。[003引请参考图1,并结合图2-图8,其中图1为本专利技术实施例中垂直结构L邸巧片的制 造方法的流程图;图2~图8为本专利技术实施例中垂直结构L邸巧片的制造方法的过程中器 件结构的示意图。 如图1所示,所述垂直结构L邸巧片及其制造方法包括: 首先,请参考图2,执行步骤S101,提供前端结构,所述前端结构包括藍宝石衬底 10,依次形成于所述藍宝石衬底10上的渗杂氮化嫁层扣-GaN) 11、N型氮化嫁层(N-GaN) 12、 量子阱层(MQW) 13和P型氮化嫁层(P-GaN) 14。具体的,所述渗杂氮化嫁层11、N型氮化嫁 层当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种垂直结构LED芯片的制造方法,包括:提供前端结构,所述前端结构包括蓝宝石衬底,依次形成于所述蓝宝石衬底上的掺杂氮化镓层、N型氮化镓层、量子阱层和P型氮化镓层;在所述P型氮化镓层上形成功能层,并且将一键合衬底与所述功能层键合,以及去除蓝宝石衬底;进行掺杂氮化镓层的刻蚀,暴露出N型氮化镓层;对暴露出的N型氮化镓层进行表面粗化处理;形成氧化铝层作为保护层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张宇李起鸣徐慧文
申请(专利权)人:映瑞光电科技上海有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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