一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法技术

本发明专利技术公开一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，测试方法包括如下步骤：A、将PTFE薄膜平整无褶皱地重叠缠绕在厚度测试固定板上，缠绕n(n≥5)圈；B、将磁性金属基体置于水平台面上，叠加上缠好被测PTFE薄膜的厚度测试固定板，在膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度的薄片；C、用连接涂层测厚仪的F1测头测试缠绕的PTFE膜加已知厚度的薄片的总厚度；D、计算PTFE膜厚度。采用本发明专利技术的测试方法，在测试过程中简单快速，测试精度高，同时由于测试仪器精简易携，只要能找到水平的地方即可测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种测试方法，特别是指一种除尘滤料用聚四氟乙烯（PTFE)微孔薄 膜厚度测试方法。
技术介绍
我国环保部公布了最新《火电厂大气污染物排放标准GB13223-2011》。标准中规 定截止到2014年7月1日，无论新旧燃煤电厂其烟尘排放浓度均需小于30 mg /m3，重点地 区排放要求小于20 mg /m3。覆膜滤料独有的"表面过滤"机理在应对排放要求小于20 mg /m3工况中无疑具有明显的优势。而PTFE微孔薄膜作为覆膜滤料生产原料，其孔隙率，孔 径，厚度，透气量等性能指标对生产合格的覆膜滤料具有不可忽视的作用，越来越多的覆膜 滤料生产商开始关注到PTFE薄膜厚度对产品的影响，值得注意的是目前在除尘滤料检测 行业尚无对PTFE薄膜厚度的测试方法。 而目前针对微孔膜厚度的测试方法分三大类：机械法(机械探针法-台阶仪，磨角 染色测微法，磨角电探针法)，电学法(线面电阻法，交流电桥法)，光学法(干涉法，X光法，偏 光法)，该些方法主要问题： 只能应用于硬度较高的薄膜，探头尖端直径较小易将薄膜划伤，损害；测试过程复杂， 测试仪器昂贵，维护费用高，给企业带来较大的经济负担，测试条件复杂，测试周期长.，操 作复杂，对测试人员要求很高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对当前PTFE微孔薄膜厚度检测方法的不足，提供一种PTFE 微孔薄膜厚度测试更为简单经济的方法。 为实现上述目的，本专利技术的解决方案是： 一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，是配合涂层测厚仪实施，该涂层测厚仪包括主机， 与主机连接的Fl测试头，一已知厚度的薄片及一磁性金属基体，其具体步骤为： 步骤1、实验前样品准备：将PTFE微孔薄膜平整无褶皱地缠绕在一厚度测试固定板上， 缠绕η圈，η > 5,置于水平桌面上等待测试； 步骤2、测试前将磁性金属基体固定于水平桌面上，涂层厚度测试仪先进行校准，清 零； 步骤3、在磁性金属基体上叠加缠好PTFE微孔薄膜的厚度测试固定板，在PTFE微孔薄 膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度为D2的薄片； 步骤4、用连接涂层测厚仪主机的Fl测头接触磁性金属基体，缠绕的PTFE微孔薄膜与 已知厚度的薄片重合的地方，主机显示屏上出现的读数即为缠绕的PTFE微孔薄膜与校准 片的厚度之和Dl ; 步骤5、计算PTFE微孔薄膜厚度d，由于缠绕η圈，遂被测试的PTFE微孔薄膜为2η层， 故有：【主权项】1. 一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，是配合涂层测厚仪实施，该涂层测厚仪包括主 机，与主机连接的Fl测试头，一已知厚度薄片及一磁性金属基体，其具体步骤为： 步骤1、实验前样品准备：将PTFE微孔薄膜平整无褶皱地缠绕在一厚度测试固定板上， 缠绕η圈，η > 5,置于水平桌面上等待测试； 步骤2、测试前将磁性金属基体固定于水平桌面上，涂层厚度测试仪先进行校准，清 零； 步骤3、在磁性金属基体上叠加缠好PTFE微孔薄膜的厚度测试固定板，在PTFE微孔薄 膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度为D2的薄片； 步骤4、用连接涂层测厚仪主机的Fl测头接触磁性金属基体，缠绕的PTFE微孔薄膜与 已知厚度薄片重合的地方，主机显示屏上出现的读数即为缠绕的PTFE微孔薄膜与已知厚 度薄片的厚度之和Dl ; 步骤5、计算PTFE微孔薄膜厚度d，由于缠绕η圈，遂被测试的PTFE微孔薄膜为2η层， 故12. 如权利要求1所述的一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，其特征在于：所述厚度测试 固定板为一具有圆形中空区域的方形板，在磁性金属基体上叠加厚度测试固定板时，需确 保磁性金属基体在厚度测试固定板的中空区域内，已知厚度薄片叠加时则需放在PTFE微 孔薄膜与磁性金属基体重合区域。【专利摘要】本专利技术公开一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，测试方法包括如下步骤：A、将PTFE薄膜平整无褶皱地重叠缠绕在厚度测试固定板上，缠绕n(n≥5)圈；B、将磁性金属基体置于水平台面上，叠加上缠好被测PTFE薄膜的厚度测试固定板，在膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度的薄片；C、用连接涂层测厚仪的F1测头测试缠绕的PTFE膜加已知厚度的薄片的总厚度；D、计算PTFE膜厚度。采用本专利技术的测试方法，在测试过程中简单快速，测试精度高，同时由于测试仪器精简易携，只要能找到水平的地方即可测试。【IPC分类】G01B7-06【公开号】CN104729397【申请号】CN201310721510【专利技术人】蔡伟龙, 陈长奕, 乐世平, 郑锦森, 郑智宏, 方国阳, 王巍, 张静云 【申请人】厦门三维丝环保股份有限公司【公开日】2015年6月24日【申请日】2013年12月24日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，是配合涂层测厚仪实施，该涂层测厚仪包括主机，与主机连接的F1测试头，一已知厚度薄片及一磁性金属基体，其具体步骤为：步骤1、实验前样品准备：将PTFE微孔薄膜平整无褶皱地缠绕在一厚度测试固定板上，缠绕n圈，n≥5，置于水平桌面上等待测试；步骤2、测试前将磁性金属基体固定于水平桌面上，涂层厚度测试仪先进行校准，清零；步骤3、在磁性金属基体上叠加缠好PTFE微孔薄膜的厚度测试固定板，在PTFE微孔薄膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度为D2的薄片；步骤4、用连接涂层测厚仪主机的F1测头接触磁性金属基体，缠绕的PTFE微孔薄膜与已知厚度薄片重合的地方，主机显示屏上出现的读数即为缠绕的PTFE微孔薄膜与已知厚度薄片的厚度之和D1；步骤5、计算PTFE微孔薄膜厚度d，由于缠绕n圈，遂被测试的PTFE微孔薄膜为2n层，故有：。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡伟龙，陈长奕，乐世平，郑锦森，郑智宏，方国阳，王巍，张静云，
申请(专利权)人：厦门三维丝环保股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35