【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种确定膜层厚度的方法。
技术介绍
在例如内部处理(内表面的铝化)的镀膜处理中，通过金属学检验获得膜层厚度。为此，在待镀膜元件的典型位置上附着镀膜处理中的金属丝样本，在镀膜处理结束之后，提取该金属丝样本，然后对其进行花费很大的切割和检验。通过同时进行的工作试验检查和记录每次镀膜处理。用这种测量和检验方法无法对不合格的已结束的镀膜处理进行最新的校正。因此，这种保证质量的方式成本高。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题是，提供一种解决上述问题的确定膜层厚度的方法。本专利技术的技术问题是通过这样一种方法解决的，即，象对待处理元件那样对一个传感器进行镀膜处理，并测量由于该镀膜处理而改变的该传感器的电特性，从而可以在进行镀膜处理期间就地确定膜层厚度。本方法尤其适用于渗铝处理，其中将铝加到元件中(磨光)。在此，优选的地采用电阻作为简单的、对镀膜结果来说是典型的电的测量值。所述传感器例如是烧结物(Sinter1ing)，因为烧结物能以典型方式吸收被镀上的镀膜材料(附着速度和扩散速度)，也可以是多孔的，或用待镀膜元件的材料制成，或用金属铬合金(MCrA1y)制成。本方法尤其适用于元件内部的镀膜处理，因为该处理不好进入。附图说明下面结合附图简要描述本专利技术的实施方式。其中示出了 图1为具有待镀膜传感器的元件，其中应用了本专利技术的方法用于确定膜层厚度；和图2为具有按照本专利技术方法的传感器的测量装置。具体实施例方式图1示出了中空的元件1，应当对其例如在内表面4进行镀膜。然而，本方法也可以应用于就地确定外表面的膜层厚度。在内表面4上，借助公知方法...
【技术保护点】
一种用于在镀膜处理期间就地确定膜层厚度的方法，其中通过该镀膜处理这样改变传感器（１０），即由此影响该传感器（１０）的与膜层厚度相关的电特性，并将该电特性的改变用于镀膜。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：乌尔里克巴斯特，罗曼拜尔，拉尔夫赖歇，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]
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