激光头对齐调整机构制造技术

技术编号:11633290 阅读:162 留言:0更新日期:2015-06-21 05:37
本实用新型专利技术提供了一种激光头对齐调整机构。所述激光头对齐调整机构包括固定座、第一转块、第二转块及标准厚度测量片,所述第一转块包括相互垂直设置的第一部及第二部,所述第一部绕X轴转动连接在所述固定座上,所述第二转块的一侧绕Y轴转动连接在所述第二部上,且所述第二转块的另一侧设有水平放置所述标准厚度测量片的支架平台,所述X轴与所述Y轴相互垂直。本实用新型专利技术提供了一种激光头对齐调整机构,可确保两个相对设置的激光头准确对齐。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及激光
,尤其涉及一种激光头对齐调整机构
技术介绍
我们知道,现有的很多激光设备都需要用到两个或两个以上的激光头进行工作,为使得它们之间互相配合工作,一般需在它们工作前进行一定的调试,比如激光测厚仪,其一般通过两个激光头相对设置以对待测量物进行厚度测量,若两个激光头没有对齐,便会导致激光测厚仪测量出来的结果不准确。因此,激光测厚仪在对待测量物进行厚度测量前,首先需对两个激光头是否对齐进行调试,而目前人们普遍采用人眼来判断两个相对设置的激光头是否对齐,这样一来,不仅耗时长久,而且判断结果便会十分依赖技术人员的经验与水准,缺乏科学依据,容易发生偏差,进而影响判断结果的准确率。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术之缺陷,提供了一种激光头对齐调整机构,可确保两个相对设置的激光头准确对齐。本技术是这样实现的:一种激光头对齐调整机构,所述激光头对齐调整机构包括固定座、第一转块、第二转块及标准厚度测量片,所述第一转块包括相互垂直设置的第一部及第二部,所述第一部绕X轴转动连接在所述固定座上,所述第二转块的一侧绕Y轴转动连接在所述第二部上,且所述第二转块的另一侧设有水平放置所述标准厚度测量片的支架平台,所述X轴与所述Y轴相互垂直。作为上述激光头对齐调整机构的改进,所述标准厚度测量片为标准厚度陶瓷片。作为上述激光头对齐调整机构的改进,所述固定座设有第一偏转槽及第一转槽,且所述第一偏转槽与所述第一转槽上下间隔设置,所述第一转槽的轴心与所述X轴重合,所述第一部设有第一偏转轴及第一转轴,所述第一偏转轴对应滑动卡设于所述第一偏转槽中,所述第一转轴对应卡设于所述第一转槽中,使得所述第一部绕X轴转动连接在所述固定座上。作为上述激光头对齐调整机构的改进,所述第二部设有两第二偏转槽及第二转槽,且所述两第二偏转槽与所述第二转槽上下间隔设置,所述第二转槽的轴心与所述Y轴重合,所述第二转块的一侧设有两第二偏转轴及第二转轴,所述两第二偏转轴分别对应滑动卡设于所述两第二偏转槽中,所述第二转轴对应卡设于所述第二转槽中,使得所述第二转块的一侧绕Y轴转动连接在所述第二部上。本技术的有益效果是:本技术提供的激光头对齐调整机构,其主要包括固定座、第一转块、第二转块及标准厚度测量片,该标准厚度测量片水平放置在该第二转块的支架平台上,工作时,先使该标准厚度测量片置于两个需对齐的激光头之间,然后通过该第二转块可使该标准厚度测量片绕Y轴发生一定角度的偏转,再通过两个需对齐的激光头测量此时该标准厚度测量片的厚度值,将该厚度值与标准值对比,若两者相符,表示两个需对齐的激光头已初步对齐。重新使该标准厚度测量片水平放置后,同理,通过该第一转块可使该标准厚度测量片绕X轴发生一定角度的偏转,再通过两个需对齐的激光头测量此时该标准厚度测量片的厚度值,将该厚度值与标准值对比,若两者相符,表示两个需对齐的激光头已完全对齐,可见,本激光头对齐调整机构可确保两个相对设置的激光头准确对齐。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术激光头对齐调整机构一种较佳实施例的整体结构示意图。【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。如图1所示,本实施例提供一种激光头对齐调整机构I。所述激光头对齐调整机构I包括固定座11、第一转块12、第二转块13及标准厚度测量片14。具体地,所述第一转块12为不规则“L”结构,包括相互垂直设置的第一部121及第二部122,所述第一部121绕X轴转动连接在所述固定座11上,所述第二转块13的一侧绕Y轴转动连接在所述第二部122上,且所述第二转块13的另一侧设有水平放置所述标准厚度测量片14的支架平台131,所述X轴与所述Y轴相互垂直。在本实施例中,如图1所示,所述标准厚度测量片14为标准厚度陶瓷片。所述固定座11设有第一偏转槽111及第一转槽112,且所述第一偏转槽111与所述第一转槽112上下间隔设置,所述第一转槽112的轴心与所述X轴重合。所述第一部121设有第一偏转轴1211及第一转轴1212,所述第一偏转轴1211对应滑动卡设于所述第一偏转槽111中,所述第一转轴1212对应卡设于所述第一转槽112中,使得所述第一部121绕X轴转动连接在所述固定座11上。通过所述第一偏转槽111的限制,可使所述第一部121绕X轴偏转一定的角度,进而使得所述标准厚度测量片14绕X轴偏转一定的角度,该偏转角度可为5度到10度之间。所述第二部122设有两第二偏转槽1221及第二转槽1222,且所述两第二偏转槽1221与所述第二转槽1222上下间隔设置,所述第二转槽1222的轴心与所述Y轴重合。所述第二转块13的一侧设有两第二偏转轴131及第二转轴132,所述两第二偏转轴131分别对应滑动卡设于所述两第二偏转槽1221中,所述第二转轴132对应卡设于所述第二转槽1222中,使得所述第二转块13的一端绕Y轴转动连接在所述第二部122上。同理,通过所述两第二偏转槽1221的限制,可使所述第二转块13绕Y轴偏转一定的角度,进而使得所述标准厚度测量片14绕Y轴偏转一定的角度,该偏转角度同样可为5度到10度之间。本实施例提供的激光头对齐调整机构,其主要包括固定座、第一转块、第二转块及标准厚度测量片,该标准厚度测量片水平放置在该第二转块的支架平台上,工作时,先使该标准厚度测量片置于两个需对齐的激光头之间,然后通过该第二转块可使该标准厚度测量片绕Y轴发生一定角度的偏转,再通过两个需对齐的激光头测量此时该标准厚度测量片的厚度值,将该厚度值与标准值对比,若两者相符,表示两个需对齐的激光头已初步对齐。重新使该标准厚度测量片水平放置后,同理,通过该第一转块可使该标准厚度测量片绕X轴发生一定角度的偏转,再通过两个需对齐的激光头测量此时该标准厚度测量片的厚度值,将该厚度值与标准值对比,若两者相符,表示两个需对齐的激光头已完全对齐,可见,本激光头对齐调整机构可确保两个相对设置的激光头准确对齐。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种激光头对齐调整机构,其特征在于,所述激光头对齐调整机构包括固定座、第一转块、第二转块及标准厚度测量片,所述第一转块包括相互垂直设置的第一部及第二部,所述第一部绕X轴转动连接在所述固定座上,所述第二转块的一侧绕Y轴转动连接在所述第二部上,且所述第二转块的另一侧设有水平放置所述标准厚度测量片的支架平台,所述X轴与所述Y轴相互垂直。2.如权利要求1所述的激光头对齐调整机构,其特征在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光头对齐调整机构,其特征在于,所述激光头对齐调整机构包括固定座、第一转块、第二转块及标准厚度测量片,所述第一转块包括相互垂直设置的第一部及第二部,所述第一部绕X轴转动连接在所述固定座上,所述第二转块的一侧绕Y轴转动连接在所述第二部上,且所述第二转块的另一侧设有水平放置所述标准厚度测量片的支架平台,所述X轴与所述Y轴相互垂直。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张孝平林柯
申请(专利权)人:深圳市大成精密设备有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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