本申请的实施例提供一种检测装置，包括基座、检测部和驱动部。驱动部包括转盘和多个物料盘，转盘可绕自身轴线转动，多个物料盘绕转盘的轴线环向间隔设置在转盘上。检测部包括绕转盘的轴线环向间隔设置在基座的多个X光检测组件，转盘转动时物料盘依次通过多个X光检测组件。转盘带动物料盘环向运动，在物料盘环向运动过程中运载物料依次通过各X光检测组件进行检测。物料盘的环向运动为循环过程，当一个物料盘转动一圈并运载物料进行一轮检测后就可以放置下一个物料进行下一轮检测，重复的检测过程中间无需对检测部进行调整。由于多个X光检测组件环向设置，整个检测部整体具有较小的尺寸，能够布局在较狭小的位置。还提供了一种检测系统。种检测系统。种检测系统。
【技术实现步骤摘要】
检测装置及系统
[0001]本申请涉及物料检测领域，具体涉及一种检测装置及系统。
技术介绍
[0002]目前，对物料进行X光检测缺陷的设备，一般采用拉带式结构。这种结构占据较长的空间，对车间布局要求较高，采用复杂的拉带和抓取结构，稳定性差、故障率低。
[0003]而且拉带式结构，传送重复定位精度差，物料检测位置偏差大。拉带式结构，传送效率低下，X光成像时间短。调试、换型复杂，超长的拉带式结构，测试夹具数量多，调试换型复杂。
[0004]拉带式结构难以对电池的边和角进行全面检测。
技术实现思路
[0005]鉴于上述状况，有必要提供一种检测装置及系统，以解决占地较大的问题。
[0006]本申请的实施例提供一种检测装置，包括基座、检测部和驱动部。所述驱动部包括转盘和多个物料盘，所述转盘可绕自身轴线转动，所述多个物料盘绕所述转盘的轴线环向间隔设置在所述转盘上。所述检测部包括绕所述转盘的轴线环向间隔设置在所述基座的多个X光检测组件，以使得所述转盘转动时所述物料盘依次通过所述多个X光检测组件。
[0007]通过转盘带动物料盘环向运动，在物料盘环向运动过程中运载物料依次通过各X光检测组件进行检测。物料盘的环向运动为循环过程，当一个物料盘转动一圈并运载物料进行一轮检测后就可以放置下一个物料进行下一轮检测，重复的检测过程中间无需对检测部进行调整。由于多个X光检测组件环向设置，整个检测部整体具有较小的尺寸，能够布局在较狭小的位置。
[0008]在可能的一种实施方式中，所述X光检测组件具有朝向所述物料盘预设位置的检测头，不同所述检测头检测不同的所述预设位置。
[0009]各X光检测组件的检测头对应物料盘的不同预设位置，使得物料盘在转动一轮并经过各X光检测组件后，多个关键区域能够得到检测。
[0010]在可能的一种实施方式中，所述物料盘的数量大于所述X光检测组件的数量。
[0011]物料盘数量大于X光检测组件的数量，使得其他物料盘都在X光检测组件中进行检测时，能够具有露出的物料盘进行物料的取放。
[0012]在可能的一种实施方式中，相邻两个所述物料盘相对所述转盘的轴线的夹角，与相邻两个所述X光检测组件相对所述转盘的轴线的夹角相等。
[0013]当物料盘转动至一角度，使得一个X光检测组件对应的一个物料盘时，其他X光检测组件也能够对应物料盘进行检测。当物料盘暂停于一位置时，能够有多个X光检测组件对对应的物料盘进行物料检测。
[0014]在可能的一种实施方式中，还包括上料部和下料部。所述上料部用于将物料输送入所述物料盘。所述下料部用于将物料输送出所述物料盘。
[0015]通过上料部将未检测的物料放置到空的物料盘中，通过下料部将已检测的物料取出物料盘以形成空的物料盘。
[0016]在可能的一种实施方式中，所述X光检测组件包括X光探测器和X光发射器。所述X光发射器和所述X光探测器之间形成检测区域，所述物料盘通过所述检测区域时，所述X光探测器能够接收所述X光发射器发射并透过物料的X光。
[0017]通过X光探测器和X光发射器的配合检测物料的表面缺陷或内部缺陷。
[0018]在可能的一种实施方式中，所述基座包括调整组件，所述调整组件包括支撑臂和调节件。所述调节件与所述支撑臂可锁止地滑动配合以靠近或远离所述转盘，所述X光检测组件设置在所述调节件上。
[0019]调整组件能够调整X光检测组件靠近物料或远离物料以调整检测角度，另一方面也可以使得X光检测组件能够检测到物料的不同位置。
[0020]本申请还提供一种检测系统，包括入料运输件、出料运输件和上述的检测装置。所述入料运输件设置于所述检测装置一侧，用于为所述检测装置输送物料。所述出料运输件设置于所述检测装置一侧，用于将物料送离所述检测装置。
[0021]入料运输件可以持续地将物料提供至靠近检测装置，为检测装置持续提供物料。出料运输件又可以及时将已经检测的物料运离检测装置避免物料堆积。
[0022]在可能的一种实施方式中，所述检测系统还包括上料模组。所述上料模组用于抓取物料进入所述入料运输件。
[0023]上料模组能够从物流线抓取物料放到入料运输件，为入料运输件持续提供物料。
[0024]在可能的一种实施方式中，所述检测系统还包括下料模组。所述下料模组包括分拣件、第一出料区和第二出料区，所述分拣件根据所述检测部的检测结果将物料运输至所述第一出料区或所述第二出料区。
[0025]下料模组根据检测部的检测结果将合格的物料和不合格的物料区分开来，分别放置到第一出料区和第二出料区。
附图说明
[0026]图1是本申请的一个实施例中的检测装置的结构示意图。
[0027]图2是图1中A区域的局部放大图。
[0028]图3是本申请的一个实施例中的检测系统的第一视角的结构示意图。
[0029]图4是本申请的一个实施例中的检测系统去除保护罩后的第一视角的结构示意图。
[0030]图5是本申请的一个实施例中的检测系统去除保护罩后的第二视角的结构示意图。
[0031]主要元件符号说明
[0032]检测系统
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001
[0033]检测装置
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010
[0034]物流线
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030
[0035]基座
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100
[0036]支撑臂
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110
[0037]调节件
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130
[0038]检测部
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200
[0039]X光检测组件
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210
[0040]X光发射器
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211
[0041]X光探测器
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213
[0042]驱动部
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300
[0043]转盘
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310
[0044]物料盘
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330
[0045]入料盘
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测装置，包括基座，其特征在于，还包括：驱动部，包括转盘和多个物料盘，所述转盘可绕自身轴线转动，所述多个物料盘绕所述转盘的轴线环向间隔设置在所述转盘上；检测部，包括绕所述转盘的轴线环向间隔设置在所述基座的多个X光检测组件，以使得所述转盘转动时所述物料盘依次通过所述多个X光检测组件。2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述X光检测组件具有朝向所述物料盘预设位置的检测头，不同所述检测头检测不同的所述预设位置。3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述物料盘的数量大于所述X光检测组件的数量。4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，相邻两个所述物料盘相对所述转盘的轴线的夹角，与相邻两个所述X光检测组件相对所述转盘的轴线的夹角相等。5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，还包括：上料部，用于将物料输送入所述物料盘；下料部，用于将物料输送出所述物料盘。6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述X光检测组件包括X光探测器和X光发射器；所述X光发射器...
【专利技术属性】
技术研发人员：张孝平，文青松，莫凡，
申请(专利权)人：深圳市大成精密设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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