本发明专利技术公开了一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，多条沿第一方向排列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，第一方向和第二方向交叉从而限定多个子像素，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿第二方向排列的子像素的颜色不同；多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，避免像素电极对公共电极的影响，提高了测试效果。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，更为具体的说，涉及一种阵列基板、测试方法、显示面 板及显示装置。
技术介绍
液晶显示装置时目前常用的平板显示装置，其中，阵列基板是液晶显示装置中重 要组件之一。现今，在制作液晶显示装置时，为了提高产品的良率，对其阵列基板的测试时 必不可少的，通常将阵列基板和彩膜基板结合为显示面板，而后对阵列基板充入测试信号， 检测显示面板的画面是否正常。但是，在对现有的阵列基板进行测试时，对其测试效果不 佳。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，通过将 间隔的子像素组中相同像素列对应的数据线连接至同一测试端，使得在采用测试方法对阵 列基板测试时，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。 为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案如下： -种阵列基板，包括： 多条沿第一方向排列的栅极线； 多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限 定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列 为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排 列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数； 多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元 的控制端均连接至一控制信号端；以及 多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开 关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其 中，i为小于等于M正整数。 另外，本专利技术还提供了一种测试方法，用于测试上述的阵列基板，包括： 同时控制所述多个开关单元导通； 逐级扫描所述多条栅极线，并同时对相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应 的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和 输出负极性测试信号的测试端的数量相同。 优选的，任意子像素组中相邻两个子像素列分别对应的测试端输出的测试信号的 极性相反。 此外，本专利技术还提供了一种显示面板，包括上述的阵列基板。 最后，本专利技术还提供了 一种显示装置，包括上述的显示面板。 相较于现有技术，本专利技术提供的技术方案至少具有以下优点之一： 本专利技术提供的一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，多条沿第一方向排 列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而 限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素 列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向 排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；多个开关单元，每一开关单元的第 一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及多个 测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与 间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等 于M正整数。 由上述内容可知，本专利技术提供的技术方案，在对阵列基板进行测试时，控制所述多 个开关单元导通；逐级扫描所述多条栅极线，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应 的测试端同时输出测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测 试端的数量相同，即，在扫描一栅极线时，测试端输出测试信号，且对多条数据线中一半输 入了正极性测试信号，而对另一半输入了负极性测试线号，避免了像素电极对公共电极上 的电压的影响，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据 提供的附图获得其他的附图。 图1为本申请实施例提供的一种阵列基板的结构示意图； 图2为本申请实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图； 图3a为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图； 图3b为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图； 图4为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图； 图5为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图； 图6为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图； 图7为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图； 图8为本申请实施例提供的一种测试方法的流程图； 图9为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图； 图10为本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。【具体实施方式】 下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本专利技术保护的范围。 正如
技术介绍
所述，在对现有的阵列基板进行测试时，对其测试效果不佳。专利技术人 研究发现，出现这种问题的主要原因有像素电极影响了公共电极的电压的稳定性。具体的， 在对阵列基板进行测试时，无论测试哪种画面，对多条数据线充入的测试线号中，极性互为 反信号的测试信号的数量不同，当数据线对像素电极输入测试信号后，正极性的像素电极 和负极性的像素电极数量不同，导致像素电极对公共电极的电压干扰不能消除，进而出现 测试效果不佳的现象。 基于此，本申请实施例提供了一种阵列基板，通过将间隔的子像素组中相同像素 列对应的数据线连接至同一测试端，使得在采用测试方法对阵列基板测试时，提高了公共 电极的电压稳定性，具体结合图1至图7所示，对本申请实施例提供的阵列基板进行详细的 说明。 参考图1所示，为本申请实施例提供的一种阵列基板的结构示意图，其中，本申请 实施例提供的阵列基板，包括： 多条沿第一方向Y排列的栅极线1 ; 多条沿第二方向X排列的数据线2,其中，第一方向Y和第二方向X交叉从而限定 多个子像素，其中，每一条数据线2所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列 为一子像素组B，并定义为第1子像素列Pl到第M子像素列Pm,每一子像素组中沿第二方 向X排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数； 多个开关单元3,每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元 的控制端均连接至一控制信号端（未画出）；以及 多个测试端T，每一测试端T与至少两个开关单元的第二端电连接，至少两个开 关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其 中，i为小于等于M正整数。 需要说明的是，上述内容中所述的间隔设置的至少两个子像素组，即为在该至少 两个子像素组之间只设置有一个子像素组。另外，本申请实施例提供的阵列基板还适用于 自电容触控显示装置，即，阵列基板还包括多个触控电极和多条触控电极引线，触控电极为 公共电极分割而成，且每条触控电极引线分别与一触控电极电性连接，其中，触控电极在显 示阶段被施加公共电压，且触控电极在触控阶段被施加触控检测信号。 相应的，本申请实施例还提供了一种测试方法，其特征在于，用于测试上述本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种阵列基板，其特征在于，包括：多条沿第一方向排列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：马从华，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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