一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。本发明专利技术通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。本专利技术通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。【专利说明】一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统
本专利技术涉及用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，属于数控加工设备
。
技术介绍
在现有技术中，在利用数控可转位刀片周边磨床在磨削硬质合金数控刀片时，其加工精度是重要的指标；在加工过程中，B轴是周边磨床最主要的轴之一，他的精度直接影响到加工工件(刀片)的精度；而周边磨床内B轴的位置比较特殊，其体积比较小，因此一般的激光干涉仪等设备都无法安装和测量；从而导致B轴的精度无法检测，加工工件无法保证质量；现有的技术中一般只能通过大量试磨的方法来检验精度，这样会带来一旦出现精度问题，更换和安装都比较困难。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题 为了解决上述问题，本专利技术提出了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并进行适当的补 \-ZX O ( 二 )技术方案 本专利技术的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。 进一步地，所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005。。 进一步地，所述的上位机通过USB 口连接数显变送器。 进一步地，所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。 进一步地，所述的采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。 进一步地，所述的自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。 (三)有益效果 本专利技术与现有技术相比较，其具有以下有益效果:本专利技术通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术的整体流程示意图； 图2为本专利技术的目标设定模块示意图； 图3为本专利技术的采集数据启动模块示意图； 图4为本专利技术的自动数据采集设定模块示意图。 【具体实施方式】 本专利技术通过测量系统和上位机预输入模块的配合，实现对误差适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。 如图1所示，本专利技术的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。 所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005° ;所述的上位机通过USB 口连接数显变送器。 如图2所示，所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。 如图3所示，所述的采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。 如图4所示，所述的自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。 上面所述的实施例仅仅是对本专利技术的优选实施方式进行描述，并非对本专利技术的构思和范围进行限定。在不脱离本专利技术设计构思的前提下，本领域普通人员对本专利技术的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本专利技术的保护范围，本专利技术请求保护的
技术实现思路
，已经全部记载在权利要求书中。【权利要求】1.一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；其特征在于，还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。2.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。3.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述的上位机通过USB 口连接数显变送器。4.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。5.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述的采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。6.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于:所述的自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。【文档编号】G01B11/00GK104165589SQ201410125625【公开日】2014年11月26日 申请日期:2014年3月26日 优先权日:2014年3月26日 【专利技术者】裴忠, 吴建强, 邹伟杰, 金宇立 申请人:天通吉成机器技术有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；其特征在于，还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：裴忠，吴建强，邹伟杰，金宇立，
申请(专利权)人：天通吉成机器技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33