自动产生测试脚本的测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开一种自动产生测试脚本的测试系统及其方法，其通过依据待测物体的规格文件对待测物体进行分析，藉以在产生测试待测物体的测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据后，在生产线上使用测试脚本及测试数据测试待测物体的技术手段，可以在生产线的同一处完成功能测试和集成电路测试，并达成缩短测试时间，提前发现开路/短路错误，及节约产品的测试空间和时间成本的技术功效。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种，其通过依据待测物体的规格文件对待测物体进行分析，藉以在产生测试待测物体的测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据后，在生产线上使用测试脚本及测试数据测试待测物体的技术手段，可以在生产线的同一处完成功能测试和集成电路测试，并达成缩短测试时间，提前发现开路/短路错误，及节约产品的测试空间和时间成本的技术功效。【专利说明】
本专利技术涉及一种测试系统及其方法，特别是指一种依据规格文件自动产生测试脚 本的测试系统及其方法。
技术介绍
生产线的测试平台是一套计算机生产测试系统，其主要用来测试生产线上的产品 的品质是否符合设计的标准。 原本的生产线的测试平台是通过网络对生产线上的产品进行测试。近来，也要对 无法使用网络环境的产品进行测试，因此，生产线的测试平台的开发团队也开发出使用串 行通讯（Serial Communication)的方式对产品进行测试的解决方案。也就是说，目前的生 产线的测试平台可以通过串行通讯或网络通讯对生产线进行产品测试。 目前生产线的测试平台对印刷电路板的测试过程中，若有发现错误，生产线的测 试平台会在完成测试后输出发现错误的信息。例如，即使错误是明显的开路及/或短路错 误，生产线的测试平台仍然会进行完整的分析后才输出错误的信息。另外，目前对印刷电路 板的测试中，需要对印刷电路板分别进行功能测试与集成电路测试，并无法整合功能测试 与集成电路测试。如此一来，在规格文件中同时存在这两种测试要求的情况下，由于需要设 置两个不同的测试区域，且一个印刷电路板需要在不同的测试区域进行功能测试与集成电 路测试，因此，会导致增加了测试的时间成本和空间成本。 综上所述，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
技术实现思路
有鉴于现有技术存在无法整合功能测试与集成电路测试的问题，本专利技术遂揭露一 种，其中： 本专利技术所揭露的依据规格文件产生测试脚本的测试系统，应用于生产线，该测试 系统至少包含：文件读取模块，用以读取预先储存的待测物体的一规格文件；测试数据产 生模块，用以依据规格文件分析待测物体以产生测试脚本及相对应的测试数据；测试数据 发布模块，用以发布测试脚本及测试数据，使生产线依据测试脚本及测试数据测试待测物 体。 本专利技术所揭露的依据规格文件产生测试脚本的测试方法，其步骤至少包括：提供 待测物体的规格文件；依据规格文件分析待测物体以产生测试脚本及相对应的测试数据； 发布测试脚本及测试数据；依据测试脚本及测试数据于生产线上测试待测物体。 本专利技术所揭露的测试系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本专利技术通过依 据待测物体的规格文件分析待测物体以产生测试待测物体的测试脚本以及与测试脚本对 应的测试数据，并依据测试脚本及测试数据在生产线上测试待测物体，藉以解决现有技术 所存在的问题，并可以达成提前发现开路/点路错误，及缩短测试时间的技术功效。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术所提的依据规格文件产生测试脚本的测试系统架构图。 图2为本专利技术所提的依据规格文件产生测试脚本的测试方法流程图。 【符号说明】 101储存媒体 110文件读取模块 120测试数据产生模块 130测试数据发布模块 150结果处理模块 【具体实施方式】 以下将配合图式及实施例来详细说明本专利技术的特征与实施方式，内容足以使任何 熟习相关技艺者能够轻易地充分理解本专利技术解决技术问题所应用的技术手段并据以实施， 藉此实现本专利技术可达成的功效。 本专利技术应用在生产线的测试平台中，测试平台中可以依据待测物体的规格文件产 生测试方案，并在取得测试方案后，对待测物体进行测试。使用者也可以操作终端装置调整 测试方案，及/或查看被测试的待测物体的测试结果，藉以方便的完成待测物体的测试和 发现发生错误的位置。 本专利技术所提的规格文件为记载与待测物体相关的数据的文件，被记载的数据包含 但不限于待测物品所包含的元件的元件信息、待测物品所包含的元件的脚位信息、待测物 品中的测试点信息、待测物品上的电路信息等，其中，元件信息例如元件名称、元件在待测 物体中的位置、元件编号、元件测试结果标准值、元件测试结果期望值等；脚位信息例如脚 位名称、脚位在元件上的位置、与脚位对应的测试点等；测试点信息例如测试点名称或编 号、测试点在待测物体中的位置、测试点所在的电路名称或编号等；线路信息例如线路编号 及/或名称等。 本专利技术所提的测试方案包含测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据。其中，测 试脚本包含一个或多个命令，测试脚本所包含的命令可以被执行而测试待测物体。 以下先以「图1」本专利技术所提的依据规格文件产生测试脚本的测试系统的架构图 来说明本专利技术的系统运作。如「图1」所示，本专利技术的系统含有文件读取模块110、测试数据 产生模块120、以及测试数据发布模块130。 文件读取模块110负责读取待测物体的规格文件。一般而言，文件读取模块110 会至储存媒体101中读取待测物体的规格文件，其中，文件读取模块110所读取的规格文件 通常是由与服务器连接的终端装置所传送，并由储存媒体101储存，藉以提供本专利技术使用， 但本专利技术并不以此为限，例如，文件读取模块110也可以通过网络至本专利技术的系统外部的 储存装置（图中未示）读取规格文件。 测试数据产生模块120负责依据文件读取模块110所读出的待测物体的规格文件 对待测物体进行分析，并在分析后产生测试该待测物体的测试脚本以及与该测试脚本相对 应的测试数据。 测试数据产生模块120会依据规格文件对待测物体进行功能分析以及集成电路 分析，并依据分析结果产生该测试脚本。其中，集成电路分析包含开路分析、短路分析、串并 联分析、元件分析等项目至少其中之一。 开路分析是为了检查待测物体的焊接状况，找出所有任意两点之间的电阻值大于 某个值(如：60欧姆）生成一系列的开路群。当有开路错误时，通过开路分析可以迅速找到 错误，如此便不需要等到元件分析才发现错误。 短路分析是用来检查待测物体中的电路是否断开、焊接不确实等，找出所有任意 两点之间的电阻值小于某个值(如：5欧姆)生成一系列的短路群。当有短路错误时，通过短 路分析可以迅速找到错误，而不需要等到元件分析才发现。 串并联分析是用来找出所有的串联或者并联的元件。 元件分析会列出所有需要测试的元件，根据串并联分析所产生的结果，合并部分 测试、增加隔离点、或跳过一些测试，藉以缩短测试元件的时间，进而生成测试脚本。 测试数据产生模块120所生成的测试脚本至少包含开短路测试单元、电阻测试单 元、电容测试单元、电感测试单元、以及二极管测试单元、三极管测试单元。其中，开短路测 试单元可以测试所有开路群和短路群、电阻测试单元可以测试所有电阻器件、电容测试单 元可以测试所有电容器件、电感测试单元可以测试所有电感器件、二、三极管测试单元可以 测试所有二、三极管器件。 值得一提的是，在本专利技术中，测试脚本被执行后，测试脚本中的各个测试单元通常 会以指令控制测试待测物体的硬件，藉以完成测试待测物体。 测试数据发布模块130负责发布测试数据产生模块120所生成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动产生测试脚本的测试方法，应用于一生产线，其特征在于，该测试方法至少包含下列步骤：提供一待测物体的一规格文件；依据该规格文件分析该待测物体以产生一测试脚本及相对应的一测试数据；发布该测试脚本及该测试数据；及依据该测试脚本及该测试数据于该生产线上测试该待测物体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵书梅，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31