本实用新型专利技术涉及一种集成电路测试系统,包括计算机、多个测试模块和电源及电源驱动报警电路,每个测试模块内均设有接口电路、总线电路、程控电源电路和测试控制电路,测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连,每个测试模块内的总线电路互连;所述测试控制电路内设有AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器,AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换,AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路,微控制器与计算机相连。本实用新型专利技术采集待测集成电路的直流或交流信号,微处理器将采集到的信号进行深化处理分析以输出测试结果。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种集成电路测试系统,包括计算机、多个测试模块和电源及电源驱动报警电路,每个测试模块内均设有接口电路、总线电路、程控电源电路和测试控制电路,测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连,每个测试模块内的总线电路互连;所述测试控制电路内设有AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器,AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换,AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路,微控制器与计算机相连。本技术采集待测集成电路的直流或交流信号,微处理器将采集到的信号进行深化处理分析以输出测试结果。【专利说明】集成电路测试系统
本技术涉及半导体集成电路测试
,尤其涉及一种集成电路测试系 统。
技术介绍
集成电路的可靠性一般是由测试机来测定的,测试机性能的好坏会直接影响到集 成电路的评估结果。目前,国外的测试机在硬件性能、可靠性和软件等方面具有较大的优 势,而且功能齐全,可以针对各种不同功能的产品进行测试,但是引进并使用国外系统,存 在以下几点问题:其一是国外测试机的主流发展方向是混合信号的大型机,而国内大多数 集成电路只需要测试单一功能,购买国外的测试机,不仅价格昂贵,而且浪费了多项功能, 并且多数企业无力购买几十万美元一台的测试机;其次是国外测试机的测试软件一般企业 不容易掌握,易导致测试系统运行效率低;再次是国外的测试系统若出现故障,远距离的维 修会存在一定的困难。 针对上述问题,国内也有生产厂商设计出一种具单一功能的测试机,但仅仅针对 某一类别的集成电路,比如运放比较器测试机、低压差线性稳压器测试机和功率电路测试 机等。这类测试机虽然在精度和稳定度可以达到较好的效果,基本可以满足某一类芯片的 测试需求,但是这种测试机测试的功能不够齐全,无法完全覆盖所有芯片的测试。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对现有国内测试机存在测试功能单一等上 述问题,提供了一种测试功能齐全、并行测试能力强和成本低的集成电路测试系统。 为解决上述问题,本技术的技术方案是: -种集成电路测试系统,其特征在于,所述测试系统包括计算机、多个用于测试集 成电路的测试模块和用于系统供电及电源驱动异常报警的电源及电源驱动报警电路,每个 测试模块分别与计算机和电源及电源驱动报警电路相连;每个测试模块内均设有用于连接 集成电路的接口电路、总线电路、用于输出测试信号与进行信号调理的程控电源电路和用 于集成电路上信号采集处理与控制程控电源电路的测试控制电路,测试控制电路、程控电 源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连,每个测试模块内的总 线电路互连;所述测试控制电路内设有用于采集集成电路上直流或交流信号及将采集到的 电流电压信号进行模数转换的AD模块电路、用于输出任意标准波形到程控电源电路的任 意波信号发生器和用于信号处理及输出测试结果的微控制器,AD模块电路、任意波信号发 生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换,AD模块电路内设有依次相连的AD 采样电路、AD保持电路和AD转换电路,微控制器与计算机相连。 优选地,所述微控制器为USB微控制器,USB微控制器通过USB总线与计算机相连。 相比较于现有技术,本技术的集成电路测试系统在测试控制电路的控制下, 采集待测集成电路的直流或交流信号,微处理器将采集到的信号进行深化处理分析以输出 测试结果,通过多个测试模块,可以同时对多个集成电路进行测试并输出测试结果。本实用 新型的电路设计简单,并通过统一的接口与计算机和待测集成电路相连,无需庞大的主机 柜和连接线览,降低了系统的运行成本。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术集成电路测试系统的电路原理框图。 图2是本技术集成电路测试系统中测试控制电路的电路原理框图。 【具体实施方式】 下面结合附图和实施例进一步详细说明本技术,但本技术的保护范围并 不限于此。 参照图1-2,本技术的集成电路测试系统包括计算机、多个测试模块和电源 及电源驱动报警电路,每个测试模块内设有总线电路、接口电路、程控电源电路和测试控制 电路,测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路 相连,每个测试模块内的总线电路互连,即各个测试模块内的总线电路相连通。其中,接口 电路用于连接集成电路,提供统一的接口;电源及电源驱动报警电路用于系统供电和电源 驱动异常报警;测试模块主要用于控制及完成集成电路的测试,测试控制电路用于集成电 路上信号采集处理与程控电源电路的控制,程控电源电路用于输出测试信号与进行信号调 理。 所述测试控制电路包括AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器,AD模块电 路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换,微控制器与计算 机相连,AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路。其中,微 控制器为USB微控制器,USB微控制器通过USB总线与计算机相连,利用USB总线进行数据 传送,速度传输快。其中,AD模块电路用于采集集成电路上直流或交流信号及将采集到的 电流电压信号进行模数转换,任意波信号发生器用于输出任意标准波形到程控电源电路, 微控制器用于信号处理及输出测试结果。 多个测试模块在图1中标注为测试模块(1)、测试模块(2)……测试模块(η),多个 测试模块由与总线电路相连的电源及电源驱动报警电路供电及进行电源驱动异常报警。在 多个测试模块与计算机连接时,也无需对硬件电路进行更改,USB微控制器中的软件会自动 识别多路控制的USB地址。测量时,多个测试模块同时开始测试,做到真正并行测试在设计 时,可以选择两个测试模块或四个测试模块,也可以按照实际的需求进行设定。 在测试AC (交流)信号时,在微控制器的控制下,任意波信号发生器输出测试需要 的任意标准波形,同时相应产生一个AC(交流)标准,该AC(交流)标准输出到总线电路上, 通过总线电路传输到程控电源电路中,作为程控电源电路中DA转换器的AC基准,通过微处 理器中软件设置,程控电源电路将该AC(交流)信号经由总线电路输出到待测的集成电路 中,作为待测集成电路的AC(交流)输入信号。在测试DC(直流)信号时,微控制器产生一 个DC (直流)标准并输出到总线电路上,通过总线电路传输到程控电源电路中,作为程控电 源电路中DA转换器的DC基准,通过微处理器中软件设置,程控电源电路将该DC (直流)信 号经总线电路输出到待测的集成电路中,作为待测集成电路的DC(直流)输入信号。 计算机作为人机交互界面,用以将用户的测试需求输入到集成电路测试系统中, 测试控制电路将用户的测试需求通过软件转换成测试程序。在微控制器的控制下,微处理 产生的数字信号经程控电源电路中的DA转换器转换成模拟信号,同时由程控电源电路进 行功率放大等处理后,输出到待测集成电路中;待测集成电路输出的信号,先由程控电源电 路进行信号调理,程控电源电路将调理后的信号由总线电路输入到AD模块电路中,本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种集成电路测试系统,其特征在于,所述测试系统包括计算机、多个用于测试集成电路的测试模块和用于系统供电及电源驱动异常报警的电源及电源驱动报警电路,每个测试模块分别与计算机和电源及电源驱动报警电路相连;每个测试模块内均设有用于连接集成电路的接口电路、总线电路、用于输出测试信号与进行信号调理的程控电源电路和用于集成电路上信号采集处理与控制程控电源电路的测试控制电路,测试控制电路、程控电源电路、接口电路和电源及电源驱动报警电路分别与总线电路相连,每个测试模块内的总线电路互连;所述测试控制电路内设有用于采集集成电路上直流或交流信号及将采集到的电流电压信号进行模数转换的AD模块电路、用于输出任意标准波形到程控电源电路的任意波信号发生器和用于信号处理及输出测试结果的微控制器,AD模块电路、任意波信号发生器和微控制器分别与总线电路相连并进行数据交换,AD模块电路内设有依次相连的AD采样电路、AD保持电路和AD转换电路,微控制器与计算机相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:叶剑文,
申请(专利权)人:杭州友旺电子有限公司,
类型:新型
国别省市:浙江;33
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