一种西数硬盘电路板检测设备及检测方法技术

本发明专利技术公开了一种西数硬盘电路板检测设备，包括机壳、检测控制主板、TTL主芯片电路板、两排8芯孔式接口、供电模块、LED显示模块、小键盘输入模块、硬盘状态电指示灯组，检测控制主板上设置有中央处理器，控制主板通过USB接线位和TTL主芯片电路板相连，TTL主芯片电路板和两排8芯孔式接口相连，控制主板通过ATA信号接口线和目标西数硬盘相连，供电模块为西数硬盘电路板检测设备和目标西数硬盘供电，两排8芯孔式接口、供电模块和目标西数硬盘相连，小键盘输入模块和LED显示模块、硬盘状态电指示灯组分别与控制主板相连。还公开了一种西数硬盘电路板检测方法，可以精确判断目标西数硬盘的电路板状态，确定是否可以对目标西数硬盘可以进行深度维修。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种西数硬盘电路板检测设备，包括机壳、检测控制主板、TTL主芯片电路板、两排8芯孔式接口、供电模块、LED显示模块、小键盘输入模块、硬盘状态电指示灯组，检测控制主板上设置有中央处理器，控制主板通过USB接线位和TTL主芯片电路板相连，TTL主芯片电路板和两排8芯孔式接口相连，控制主板通过ATA信号接口线和目标西数硬盘相连，供电模块为西数硬盘电路板检测设备和目标西数硬盘供电，两排8芯孔式接口、供电模块和目标西数硬盘相连，小键盘输入模块和LED显示模块、硬盘状态电指示灯组分别与控制主板相连。还公开了一种西数硬盘电路板检测方法，可以精确判断目标西数硬盘的电路板状态，确定是否可以对目标西数硬盘可以进行深度维修。【专利说明】
本专利技术涉及。
技术介绍
随着手机、MP4、电脑等诸多电子产品的日渐普及，由此带来的电子垃圾污染问题 也日益严重。而在每年产生的巨量的电子垃圾中，有近七成的西数硬盘是可以进行回收并 循环再生利用的，可是由于很多西数硬盘不通电、电机不转动、磁头撞击、无法就绪、大量坏 道、无法读写等故障，特别是新款西数硬盘有一个常见的故障，因为硬盘电路板的ROM信息 出错，导致硬盘通电后，电机是不起转的，如果是外置的ROM芯片就可以直接更换处理，可 是新款的西数硬盘将ROM芯片固化到主芯片中，让用户自己无法单独更换ROM芯片，以致无 法用现有的常规方法维修，很多时候，用户都会把这些硬盘直接报废，本专利技术就是阐述一种 方法，可以精确判断不通电的新款西数硬盘是不是属于这类故障。这类故障是可以进行维 修的，只是目前还没有一种很好的工具能针对这类故障的新款西数硬盘进行可靠性检测、 再生修复，现有的修复过程复杂，再生成本高，进而限制了西数硬盘的回收利用率。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种西数硬盘电路板检测设备 及检测方法，用于实现和西数硬盘的底层通讯，精确判断目标西数硬盘的电路板状态，确定 是否可以对目标西数硬盘可以进行深度维修。 本专利技术采用的技术方案是：一种西数硬盘电路板检测设备，包括机壳以及设置在 机壳内的检测控制主板、TTL主芯片电路板、两排8芯孔式接口、供电模块、LED显示模块、小 键盘输入模块、硬盘状态电指示灯组，所述检测控制主板上设置有中央处理器，所述控制主 板通过USB接线位和TTL主芯片电路板相连，TTL主芯片电路板和两排8芯孔式接口相连， 所述控制主板通过ΑΤΑ信号接口线和目标西数硬盘相连， 所述供电模块为西数硬盘电路板检测设备和目标西数硬盘供电，所述两排8芯孔式接 口、供电模块和目标西数硬盘相连，所述小键盘输入模块和LED显示模块、硬盘状态电指示 灯组分别与控制主板相连。所述TTL主芯片从正面观察，通过右侧第十引脚和第十四引脚 分别和两排8芯孔式接口的RXD端和TXD端相连，所述两排8芯孔式接口连接西数硬盘上 的两排8芯针式插口，通过RXD和TXD端获取西数硬盘底层信息。所述硬盘状态电指示灯 组由就绪灯、读信号灯、写信号灯组成， 另外，还涉及一种西数硬盘电路板检测方法，与西数硬盘电路板检测设备配套的硬盘 电路板检测软件，硬盘电路板检测软件可以精确判断目标西数硬盘的电路板状态，确定是 否可以对目标西数硬盘可以进行深度维修。硬盘电路板检测软件在确定所有接口接触良好 的情况下，先设定虚拟C Ο Μ 口（参数范围3-6)和波特率后(参数范围9600-128000)，观察 硬盘状态电指示灯组的就绪灯是否亮，如果亮，就表示是因为目标西数硬盘的电路板是可 以操作的；如果就绪灯不亮，就必须先更换或者维修电路板后再进行测试。导致就绪灯不 亮的常见故障包括：电路板元件损坏、电路板破裂、电路板的电源接口坏、ROM芯片损坏、电 路板的信号接口坏等。所述深度维修具体包括更换电路板、更换电路板接口、更换磁头、更 换电机、重写ROM、消减磁头数、修复固件、指令修复LBA=0、解除固件锁、重建译码表、处理G 缺陷表和P缺陷表、硬盘密码解锁、磁盘降容、降密度、降速、优化后的SF自校修复。对于就 绪灯亮的西数硬盘先进行ROM信息备份，信息备份时，硬盘状态电指示灯组的读信号灯亮， 代表有ROM信息可以备份，读信号灯不亮，代表没有ROM信息可以备份，或者备份不成功， 不论是否备份成功都进行ROM信息写测试。ROM信息写测试是通过小键盘输入模块输入指 令(参数范围1-3,其中指令1是代表对目标西数硬盘电路板的ROM写入160G的测试ROM 程序；指令2是代表对目标西数硬盘电路板的ROM写入320G的测试ROM程序；指令3是代 表对目标西数硬盘电路板的ROM写入500G的测试ROM程序)，指令执行时，写信号灯会亮， 指令执行后，对目标西数硬盘断电，再通电后，目标西数硬盘电机转动，则证明写测试通过， 可以进行深度维修；指令执行时，写信号灯不亮，指令执行后，对目标西数硬盘断电，再通电 后，目标西数硬盘电机不转动，则证明写测试失败，更换指令参数，继续写测试，全部参数写 测试都失败的西数硬盘进行电路板维修或者更换。 该西数硬盘电路板检测设备及检测方法，用于实现和西数硬盘的底层通讯，精确 判断目标西数硬盘的电路板状态，确定是否可以对目标西数硬盘可以进行深度维修。 【专利附图】【附图说明】 以下结合附图和实例对本专利技术作进一步说明。 图1是本专利技术的一种西数硬盘电路板检测设备的结构示意框图； 图2是西数硬盘两排8芯针式插口以及ΑΤΑ信号接口、ΑΤΑ电源接口示意框图； 图3是本专利技术的西数硬盘电路板检测方法的流程示意图。 其中，图1中的标号所代表为：1为RXD接收数据的引脚，2为TXD发送数据的引 脚，3为接地点，4为就绪灯，5为读信号灯，6端为写信号灯，Α为对接西数硬盘的两排8芯 孔式接口，B为连接硬盘ΑΤΑ信号接口线，C为供电模块，D为西数硬盘两排8芯针式插口， Ε为硬盘ΑΤΑ信号接口，F为硬盘ΑΤΑ电源接口； 图2中的标号所代表为：1为西数硬盘两排8芯针式插口，2为硬盘ΑΤΑ信号接口，3为 硬盘ΑΤΑ电源接口。 【具体实施方式】 参照图1，一种西数硬盘电路板检测设备，包括机壳以及设置在机壳内的检测控制 主板、TTL主芯片电路板、两排8芯孔式接口、供电模块、LED显示模块、小键盘输入模块、硬 盘状态电指示灯组，所述检测控制主板上设置有中央处理器，所述控制主板通过USB接线 位和TTL主芯片电路板相连，TTL主芯片电路板和两排8芯孔式接口相连，所述控制主板通 过ΑΤΑ信号接口线和目标西数硬盘相连，参照图2。所述供电模块为西数硬盘电路板检测 设备和目标西数硬盘供电，参照图2 ;所述两排8芯孔式接口、供电模块和目标西数硬盘相 连，参照图2 ;所述小键盘输入模块和LED显示模块、硬盘状态电指示灯组分别与控制主板 相连。 参照图3,本专利技术还提供了一种西数硬盘电路板检测方法，在确定所有接口接触良 好的情况下，先设定虚拟c Ο Μ 口（参数范围3-6)和波特率后(参数范围9600-128000)，观 察硬盘状态电指示灯组的就绪灯是否亮，如果亮，就表示是因为目标西数硬盘的电路板是 可以操作的；如果就绪灯不亮，就必须先更换或者维修电路板后再进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种西数硬盘电路板检测设备，其特征在于：包括机壳以及设置在机壳内的检测控制主板、TTL主芯片电路板、两排8芯孔式接口、供电模块、LED显示模块、小键盘输入模块、硬盘状态电指示灯组，所述检测控制主板上设置有中央处理器，所述控制主板通过USB接线位和TTL主芯片电路板相连，TTL主芯片电路板和两排8芯孔式接口相连，所述控制主板通过ATA信号接口线和目标西数硬盘相连，所述供电模块为西数硬盘电路板检测设备和目标西数硬盘供电，所述两排8芯孔式接口、供电模块和目标西数硬盘相连，所述小键盘输入模块和LED显示模块、硬盘状态电指示灯组分别与控制主板相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡润泽，蔡杨毅，蔡杰，莫小丽，蔡敏灵，
申请(专利权)人：蔡敏灵，
类型：发明
国别省市：广东;44