一种西数3.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法技术

本发明专利技术公开了一种西数3.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法，采用平推式进入的硬盘安装支架实现了西数硬盘的COM端口自动连接，只需将西数硬盘从硬盘进入口放进平推式导槽中，并推至硬盘安装支架的底部，即可自动实现西数硬盘COM端口与接线面板上COM连接口的连接，无需采用人工进行接线，TTL主芯片通过COM连接口与西数硬盘的COM端口连接，降低了接错线和接触不良的情况出现的几率，更方便了用户，大大提高了接线效率，基于上述故障检测设备而采用的检测方法，能快速有效地获取硬盘的信息，进而检测出西数硬盘的故障问题，便于下一步进行深度的维修，检测准确率高，提高检测维修的效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了，采用平推式进入的硬盘安装支架实现了西数硬盘的COM端口自动连接，只需将西数硬盘从硬盘进入口放进平推式导槽中，并推至硬盘安装支架的底部，即可自动实现西数硬盘COM端口与接线面板上COM连接口的连接，无需采用人工进行接线，TTL主芯片通过COM连接口与西数硬盘的COM端口连接，降低了接错线和接触不良的情况出现的几率，更方便了用户，大大提高了接线效率，基于上述故障检测设备而采用的检测方法，能快速有效地获取硬盘的信息，进而检测出西数硬盘的故障问题，便于下一步进行深度的维修，检测准确率高，提高检测维修的效率。【专利说明】
本专利技术涉及硬盘检测设备及检测方法，尤其是。
技术介绍
每年产生的巨量的电子垃圾中，有近七成的西数硬盘是可以进行回收并循环再生利用的，可是由于很多西数硬盘不通电、电机不转动、磁头撞击、无法就绪、大量坏道、无法读写等故障，特别是新款的西数硬盘(特指西数三角板)有一种常见的故障，通电后硬盘电机不转，好像电路板已经损坏，一般情况下，用户根本无法通过正常的ATA信道口进行操作，都会做废品处理了，然而这是可以进行维修的，只是目前还没有一种很好的工具能对废弃的西数硬盘进行可靠性检测、再生修复，现有的修复过程复杂，再生成本高，进而限制了西数硬盘的回收利用率。由于无法通过ATA信道口读取西数硬盘的数据，因此没有维修基础，但是如果能从硬盘的COM端口中实现西数硬盘的底层通信，获取硬盘的信息进而检测出故障所在，则有可能进行维修。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供，能十分方便地实现硬盘COM的连接，快速准确地检测出硬盘的故障问题，提高维修效率。 本专利技术解决其问题所采用的技术方案是:一种西数3.5寸硬盘故障检测设备，包括硬盘安装支架和TTL主芯片电路板，所述硬盘安装支架包括硬盘进入口和设置于其两侧用于供西数3.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽，所述硬盘安装支架包括设置于后侧的接线面板，所述接线面板上设置有与西数硬盘COM 口位置相对应的COM连接口，所述COM连接口上设置有分别与西数硬盘COM 口内8根插针相对应的上下两排插口，每排插口设置有4个插口，所述TTL主芯片电路板包括TTL主芯片和用于连接PC控制器的USB端口，所述COM连接口的输出端与TTL主芯片连接，所述PC控制器通过COM连接口与西数3.5寸硬盘连接进行串口通讯，并通过PC控制器设置COM端口和串口通讯波特率。 具体地，所述TTL主芯片包括RXD端口、TXD端口和GND端口，所述COM连接口上排左边开始第二、第三根插口分别为与西数硬盘TXD端和RXD端连接的TXD插口和RXD插口，下排左边开始第三根插口为与西数硬盘GND端连接的GND插口，所述TTL主芯片的RXD端口、TXD端口和GND端口分别通过RXD插口、TXD插口和GND插口连接西数硬盘的RXD端、TXD端和GND端，通过RXD、TXD、GND端实现西数硬盘的底层通信。 进一步，所述TTL主芯片通过USB端口连接至PC控制器或直接焊接在PC控制器的通信端口上。 进一步，所述接线面板上还设有与西数硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口和电源插口，所述COM连接口、ATA插口和电源插口位于同一水平线上，接线面板上从左到右依次的排布为COM连接口、ATA插口、电源插口。 进一步，所述硬盘进入口上设置有朝外侧方向打开的活动门，所述硬盘安装支架的后侧底部上还设置有推杆，所述推杆通过连杆与活动门连接，当活动门打开时，推动连杆向硬盘安装支架后侧方向运动，同时联动使推杆向硬盘进入口方向推动，将硬盘推出硬盘进入口，所述硬盘进入口的长为103mm，宽为30mm。 进一步，所述硬盘安装支架的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹。 一种基于上述西数3.5寸硬盘故障检测设备的故障检测方法，包括以下步骤: 步骤A，接收西数硬盘，将西数3.5寸硬盘正面朝上推入平推式导槽中；步骤B，使西数硬盘后方的COM 口与接线面板上COM连接口连接；步骤C，设置选择COM端口和串口通讯波特率，波特率设置为57600Bps ；步骤D，PC控制器通过TTL主芯片的RXD端口和TXD端口与西数硬盘进行串口通讯测试；步骤E，若通过串口通讯测试，则进入步骤F，若串口通讯测试失败，则更换硬盘电路板，重新进行串口通讯测试；步骤F，串口通讯正常，检查硬盘的各项运行参数是否正常；步骤G，若硬盘的各项运行参数检查全部通过，则进入步骤H，若其中某一项参数运行不通过，则判断电路固件或磁头存在故障，需要更换；步骤H，进入盘片检测，全部磁道读取延时都小于50ms，则硬盘检测通过；若存在磁道读取延时大于50ms，则判断存在损坏磁道或危险磁道故障，硬盘测试不通过。 具体的，步骤C中COM端口的选择范围为COM3至C0M15。 优选的，所述COM端口设置为COM3。 上述步骤F和步骤G中，检查硬盘的各项运行参数的过程包括查看硬盘家族和微码信息检测、查看G表、查看P表、查看SMART、磁头检测。 本专利技术的有益效果是:本专利技术采用平推式进入的硬盘安装支架实现了西数3.5寸硬盘的COM端口自动连接，只需将西数3.5寸硬盘从硬盘进入口放进平推式导槽中，并推至硬盘安装支架的底部，即可自动实现西数硬盘COM端口与接线面板上COM连接口的连接，无需采用人工进行接线，TTL主芯片通过COM连接口与西数硬盘的COM端口连接，对比现有设备，降低了接错线和接触不良的情况出现的几率，大大提高了接线效率；基于上述故障检测设备而采用的检测方法，能快速有效地获取硬盘的信息，进而检测出西数硬盘的故障问题，便于下一步进行深度的维修，检测准确率高，提高检测维修的效率。 【专利附图】【附图说明】 下面结合附图和实例对本专利技术作进一步说明。 图1是本专利技术硬盘安装支架的结构示意图；图2是本专利技术硬盘安装支架推开西数硬盘时的使用状态示意图；图3是图1A-A的剖视图；图4是本专利技术硬盘安装支架硬盘进入口的结构示意图； 图5是本专利技术西数硬盘故障检测设备的原理图；图6是本专利技术TTL主芯片的接口示意图；图7是本专利技术西数3.5寸硬盘的故障检测方法的流程图。 【具体实施方式】 参照图1-图6，本专利技术的一种西数3.5寸硬盘故障检测设备，包括硬盘安装支架I和TTL主芯片电路板5，所述硬盘安装支架I包括硬盘进入口 11和设置于其两侧用于供西数硬盘推至后侧底部的平推式导槽12，所述硬盘安装支架I包括设置于后侧的接线面板17，所述接线面板17上设置有与西数硬盘COM端口位置相对应的COM连接口 2，所述COM连接口 2上设置有分别与西数硬盘COM 口内8根插针相对应的上下两排插口，每排插口设置有4个插口 21，所述TTL主芯片电路板5包括TTL主芯片51和用于连接PC控制器6的USB端口 52，所述COM连接口 2内8根插口 21的输出端与TTL主芯片51连接，所述PC控制器6通过COM连接口 2与西数3.5寸硬盘连接进行串口通讯，并通过PC控制器6设置COM端口和串口通讯波特率。 本专利技术采用平推式进入的硬盘安装支架I实现了西数硬盘的COM端口自动连接，只需将西数硬盘从硬盘进入口 11放进平推式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种西数3.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于：包括硬盘安装支架（1）和TTL主芯片电路板（5），所述硬盘安装支架（1）包括硬盘进入口（11）和设置于其两侧用于供西数3.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽（12），所述硬盘安装支架（1）包括设置于后侧的接线面板（17），所述接线面板（17）上设置有与西数硬盘COM口位置相对应的COM连接口（2），所述COM连接口（2）上设置有分别与西数硬盘COM口内8根插针相对应的上下两排插口，每排插口设置有4个插口（21），所述TTL主芯片电路板（5）包括TTL主芯片（51）和用于连接PC控制器（6）的USB端口（52），所述COM连接口（2）的输出端与TTL主芯片（51）连接，所述PC控制器（6）通过COM连接口（2）与西数3.5寸硬盘连接进行串口通讯，并通过PC控制器（6）设置COM端口和串口通讯波特率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡杨毅，蔡杰，莫小丽，莫奕远，蔡敏灵，
申请(专利权)人：江门市未来之星网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44