耐磨性测试设备及底板制造技术

本发明专利技术实施例提供了一种耐磨性测试设备及底板，涉及机械设备，解决了室内照明灯光光线不集中导致的测试结果不准确的问题。本发明专利技术实施例提供的耐磨性测试设备用于测试表面耐磨材料的耐磨性，包括透光的底板，用于承载表面耐磨材料，该耐磨性测试设备还包括一侧开设有观察窗的遮光盒体，遮光盒体内部设置有发光组件，底板覆盖观察窗；发光组件的光线经由底板从观察窗射出。

【技术实现步骤摘要】
耐磨性测试设备及底板
本专利技术涉及机械设备，尤其涉及耐磨性测试设备及底板。
技术介绍
由于产品的外壳表面容易磨损，因此通常需要在外壳的表面覆盖一层耐磨材料来降低外壳表面的磨损程度，评判表面耐磨材料的耐磨性能，需要通过测试来进行。在进行表面耐磨材料的耐磨性能测试时，需要将表面耐磨材料镀覆或涂覆在具有光滑表面的底板上，然后将该底板固定在载样台上，再用摩擦头对表面耐磨材料进行摩擦，当摩擦指定次数后，停止摩擦，最后测试人员取下底板，直接目视判断表面耐磨材料的耐磨性。如果底板是不透明的，通常选择颜色与表面耐磨材料的颜色反差较大的底板。直接目视判断表面耐磨材料的耐磨性时，只需观察底板颜色的裸露情况即可评估表面耐磨材料的耐磨性，裸露区域越大，说明表面耐磨材料的耐磨性越差，反之则说明其耐磨性强。如果底板是透明的，直接目视判断表面耐磨材料的耐磨性时，只需观察底板的透光情况即可评估表面耐磨材料的耐磨性，透光区域越大，说明面耐磨材料的耐磨性越差，反之则说明其耐磨性强。在使用上述方法进行表面耐磨材料的耐磨性能测试时，由于室内的照明灯光光线不集中，当表面耐磨材料在摩擦前后的外观差异较小时，直接目视不易观察到这个差异，从而导致测试结果不准确。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种耐磨性测试设备及底板，解决了室内照明灯光光线不集中导致的测试结果不准确的问题。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：一种耐磨性测试设备，用于测试表面耐磨材料的耐磨性，包括透光的底板，用于承载所述表面耐磨材料，所述耐磨性测试设备还包括一侧开设有观察窗的遮光盒体，所述遮光盒体内部设置有发光组件，所述底板覆盖所述观察窗；所述发光组件的光线经由所述底板从所述观察窗射出。为了便于在遮光盒体内设置底板，所述遮光盒体包括相互配合的前盒体和后盒体，所述观察窗开设在所述前盒体上，所述底板通过固定部固定在所述前盒体内。为了防止发光二极管射出的光线漏出盒体，在所述底板与所述观察窗之间设有密封件。为了提供多种颜色的面光源，所述发光组件包括发光二极管及导光板，所述发光二极管设在所述导光板的侧边处，所述发光二极管为红色发光二极管、蓝色发光二极管、绿色发光二极管中的一种或多种的组合。为了控制发光二极管的发光状况，耐磨性测试设备还包括电路板，所述电路板与所述发光二极管电连接，以根据输入信号控制发光二极管发光。优选地，所述电路板设置在所述遮光盒体内，且位于所述发光组件的远离所述观察窗的一侧。为了对比表面耐磨材料的耐磨性能，所述底板的个数为多个。为了摩擦表面耐磨材料以实现测试表面耐磨材料的耐磨性能，耐磨性测试设备还包括用于摩擦被测物的摩擦头。为了实现自动监测耐磨测试设备的功用，耐磨性测试设备还包括信息处理模块，及与所述信息处理模块电连接的光学检测模块、摄像头；所述光学检测模块用于检测射出所述观察窗的光线的光强变化；所述摄像头用于获取所述底板的出光面的图像；所述信息处理模块用于对所述光学检测模块检测的光强变化及所述摄像头获取的图像进行数据分析，以生成测试报告。一种底板，包括板状本体，及在所述本体上的多个凸起结构，所述多个凸起结构的结构尺寸规律变化。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：多个所述凸起结构均为柱体，相互平行排列，所述柱体的截面形状为三角形，相邻所述柱体峰顶处的倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：多个所述凸起结构均为锥体，所述椎体的截面形状为三角形，所述锥体按同一个方向排列，所述锥体峰顶处的倒圆角半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：多个所述凸起结构均为柱体，相互平行排列，所述柱体的截面形状为梯形，相邻所述柱体顶面的倒圆角的半径相同，所述柱体两侧面相交形成的顶角度数依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：，多个所述凸起结构均为相同壁厚的圆柱形桶，在所述本体上阵列排布，每行所述圆柱形桶均结构相同，相邻列的所述圆柱体桶的顶面与外侧面倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述圆柱形桶的顶面与内侧面倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述圆柱形桶的顶面倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：多个所述凸起结构均为相同壁厚的圆锥形桶且在所述本体上阵列排布，每行所述圆锥形桶均结构相同，相邻列的所述圆锥形桶的顶面与外侧面倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述圆锥形桶的顶面与内侧面倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述圆锥体桶的顶面倒圆角的半径递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的圆锥体桶的顶角度数依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：多个所述凸起结构为相同壁厚的六边体柱形桶且在所述本体上阵列排布，每行所述六边体柱形桶均结构相同，相邻列的所述六边体柱形桶的顶面与外侧壁倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述六边体柱形桶的顶面与内侧壁倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述六边体柱形桶顶面的倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述六边体柱形桶顶面的各条边倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述六边体柱形桶顶面相邻边倒圆角的半径依次递增或依次递减。具体地多个凸起的结构尺寸变化规律为：相邻列的所述六边体柱形桶相邻边夹角度数依次递增或依次递减。本专利技术实施例提供的耐磨性测试设备及底板中，当需要进行表面耐磨材料的耐磨性测试前，需先将表面耐磨材料覆盖在底板上，发光组件设在遮光盒体内部，发光组件的光线经由底板从观察窗射出，说明发光组件上方设有底板，底板又覆盖了观察窗，使发光组件射出的光只能通过观察窗射出，而不会从遮光盒体的其它部分射出，从而提供了一个集中的光源。当测试表面耐磨材料的耐磨性时，测试人员利用发光组件射出的集中的光源更易发现表面耐磨材料的外观差异情况，增加了测试结果的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。图1为本专利技术实施例提供的一种耐磨性测试设备的整体结构示意图；图2为图1的具体结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种耐磨性测试设备中的底板的一种结构示意图；图4为图3的局部放大图；图5本专利技术实施例提供的一种耐磨性测试设备中的底板的另一种结构示意图；图6为本专利技术实施例提供的一种耐磨性测试设备中的底板的第三种结构的局部放大图；图7为本专利技术实施例提供的一种耐磨性测试设备中的底板的第四种结构的局部放大图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。本专利技术实施例提供了一种耐磨性测试设备，如图1和图2所示，用于测试表面耐磨材料的耐磨性，包括透光的底板14，用于承载表面耐磨材料，耐磨性测试设备还包括一侧开设有观察窗1111的遮光盒体11，遮光盒体11内部设置有发光组件13，底板14覆盖观察窗1111；发光组件13的光线经由底板14从观本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种耐磨性测试设备，用于测试表面耐磨材料的耐磨性，包括透光的底板，用于承载所述表面耐磨材料，其特征在于，所述耐磨性测试设备还包括一侧开设有观察窗的遮光盒体，所述遮光盒体内部设置有发光组件，所述底板覆盖所述观察窗；所述发光组件的光线经由所述底板从所述观察窗射出。

【技术特征摘要】
1.一种耐磨性测试设备，用于测试表面耐磨材料的耐磨性，其特征在于，所述耐磨性测试设备包括透光的底板，所述底板用于承载所述表面耐磨材料，所述耐磨性测试设备还包括一侧开设有观察窗的遮光盒体，所述遮光盒体内部设置有发光组件，所述底板覆盖所述观察窗；所述发光组件的光线经由所述底板从所述观察窗射出；所述底板包括板状本体，及在所述本体上的多个凸起结构，所述多个凸起结构的结构尺寸规律变化。2.根据权利要求1所述的耐磨性测试设备，其特征在于，所述遮光盒体包括相互配合的前盒体和后盒体，所述观察窗开设在所述前盒体上，所述底板通过固定部固定在所述前盒体内。3.根据权利要求1或2所述的耐磨性测试设备，其特征在于，在所述底板与所述观察窗之间设有密封件。4.根据权利要求1所述的耐磨性测试设备，其特征在于，所述发光组件包括发光二极管及导光板，所述发光二极管设在所述导光板的侧边处，所述发光二极管为红色发光二极管、蓝色发光二极管、绿色发光二极管中的一种或多种的组合。5.根据权利要求4所述的耐磨性测试设备，其特征在于，还包括电路板，所述电路板与所述发光二极管电连接，以根据输入信号控制发光二极管发光。6.根据权利要求5所述的耐磨性测试设备，其特征在于，所述电路板设置在所述遮光盒体内，且位于所述发光组件的远离所述观察窗的一侧。7.根据权利要求1所述的耐磨性测试设备，其特征在于，所述底板的个数为多个。8.根据权利要求1所述的耐磨性测试设备，其特征在于，还包括用于摩擦所述表面耐磨材料的摩擦头。9.根据权利要求1所述的耐磨性测试设备，其特征在于，还包括信息处理模块，及与所述信息处理模块电连接的光学检测模块、摄像头；所述光学检测模块用于检测射出所述观察窗的光线的光强变化；所述摄像头用于获取所述底板的出光面的图像；所述信息处理模块用于对所述光学检测模块检测的光强变化及所述摄像头获取的图像进行数据分...

【专利技术属性】
技术研发人员：范小利，马雷，董长富，马宝宝，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11