【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种,所述半导体装置包括:半导体基板,其具有第一面;体区,其位于半导体基板中,且与第一面相接;栅绝缘膜,其以与体区相接的方式设置在第一面上;栅电极,其位于栅绝缘膜上;第一绝缘体膜,其覆盖栅电极的侧面的至少一部分;接触区,其以与第一面相接的方式设置在体区内、且对第一面俯视观察时与栅电极不同的位置处;第二绝缘体膜,其包含与第一绝缘体膜的材料不同的材料,且位于体区、栅电极以及第一绝缘体膜上,并且在接触区上具有接触孔。【专利说明】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
作为应对较大功率的M0S晶体管,已知有DMOS (Double Diffused Metal Oxide Semiconductor :双扩散金属-氧化物-半导体)晶体管。 在下述的专利文献1中,记述了一种如下的DM0S晶体管,其具有:栅氧化膜和栅 电极,其位于半导体基板的第一面上;η型源接触区和p型体接触区,其在对该半导体基板 的第一面俯视观察时,以与第一面相接的方式位于与栅电极不同的位置处。在专利文献1 中,在栅电极的侧面上形成有侧壁氧化膜。在覆盖于半 ...
【技术保护点】
一种半导体装置,包括:半导体基板,其具有第一面;体区,其位于所述半导体基板中,且以与所述第一面相接的方式而设置;栅绝缘膜,其以与述体区相接的方式而设置在所述第一面上;栅电极,其位于所述栅绝缘膜上;第一绝缘体膜,其覆盖所述栅电极的侧面的至少一部分;接触区,其以与所述第一面相接的方式设置在所述体区内、且对所述第一面俯视观察时与所述栅电极不同的位置处;第二绝缘体膜,其包含与所述第一绝缘体膜的材料不同的材料,且位于所述体区、所述栅电极以及所述第一绝缘体膜上,并且在所述接触区上具有接触孔。
【技术特征摘要】
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