显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法，该方法包括：给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同，从而可以保证在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，任意两个子像素之间的电压电性相反，提高了所述显示面板的检测能力。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术实施例公开了一种，该方法包括：给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同，从而可以保证在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，任意两个子像素之间的电压电性相反，提高了所述显示面板的检测能力。【专利说明】
本专利技术涉及显示面板检测
，尤其涉及一种显示面板的检测电路、检测方法及包括该检测电路的显示面板。
技术介绍
液晶显示器(LCD)是目前常用的平板显示器，广泛地应用为笔记本电脑或是手机的显示器，且由于市场需求量大，其制程或面板结构的设计方面也有不断的研发改良。为了确保液晶显示器的显示质量，显示面板的制程中，会经过一道点灯测试制程，以确认显示面板的像素是否可以正常显示。但是，现有技术中显示面板的检测能力较弱。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术实施例提供了如下技术方案:一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括:多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，该方法包括:给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，所述检测电路包括:输出端与所述第一像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一信号源；输出端与所述第一像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二信号源；输出端与所述第一像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三信号源；输出端与所述第二像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一选择器，所述第一选择器的第一输入端与第一信号源相连，第二输入端与所述第二信号源相连；输出端与所述第二像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二选择器，所述第二选择器的第一输入端与第二信号源相连，第二输入端与第一信号源或第三信号源相连；输出端与所述第二像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三选择器，所述第三选择器的第一输入端与所述第三信号源相连，第二输入端与第二信号源相连；其中，所述第一信号源和第三信号源输出第一电平信号，所述第二信号源输出第二电平信号，且所述第一电平信号和第二电平信号的电性相反。一种显示面板,包括上述的显示面板检测电路。与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点:本专利技术实施例所提供的技术方案，在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；同时，给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性相反，从而可以保证在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，任意两个子像素之间的电压电性相反，进而可以精确的判断所述显示面板中是否存在相邻子像素间短路的情况，提高了所述显示面板的检测能力。【专利附图】【附图说明】图1为现有技术中显示面板的俯视图；图2为现有技术中对所述显示面板进行检测时，所述显示面板中各像素中一种电压极性示意图；图3为现有技术中对所述显示面板进行检测时，所述显示面板中各像素中另一种电压极性示意图；图4为本专利技术一个实施例中所提供的显示面板的检测方法流程图；图5为本专利技术一个实施例中所提供的显示面板的检测方法对所述显示面板进行检测时，所述显示面板中各像素中一种电压极性示意图；图6为本专利技术另一个实施例中所提供的显示面板的检测方法流程图；图7为本专利技术一个实施例中所提供的显示面板检测电路的电路结构示意图；图8为本专利技术另一个实施例中所提供的显示面板检测电路的电路结构示意图；图9为本专利技术一个实施例中所提供的显示面板检测电路中，二选一选择器的一种电路结构意图；图10为本专利技术又一个实施例中所提供的显示面板检测电路的电路结构示意图；图11为本专利技术图10所提供的显示面板检测电路中，所述控制装置的一种电路结构示意图；图12为本专利技术图10所提供的显示面板检测电路中，所述控制装置的另一种电路结构示意图。【具体实施方式】正如
技术介绍
部分所述，现有技术中显示面板的检测能力较弱。如图1所示，现有技术中的显示面板包括多个像素单元，每个像素单元均包括R像素、G像素和B像素三个子像素,其中，每个子像素均与一根数据线D相连,且所有与R像素相连的数据线电连接，然后统一接收R信号，所有与G像素相连的数据线电连接，统一接收G信号，所有与B像素相连的数据线电连接，统一接收B信号。现有技术中在对所述显示面板进行点灯测试时，主要是通过分别给R像素、G像素和B像素提供驱动信号，当R信号为高电平信号，G信号为低电平信号时，其相应的R像素和G像素的电压电性相反，此时，若B信号为高电平信号，则B像素与R像素电压电性相同，如图2所示，无法判断B像素与R像素是否短接；若B信号为低电平信号，则B像素与G像素电压电性相同，如图3所示，无法判断B像素与G像素是否短接。同理，当R信号为低电平信号，G信号为高电平信号时，也同样存在始终有两个相邻像素的电压电性相同，无法判断其是否短接的问题，从而导致现有技术中显示面板的检测能力较弱。有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括:多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，该方法包括:给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。由此可见，本专利技术实施例所提供的技术方案，在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；同时，给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性相反，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，其中，该方法包括：给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号；对相邻子像素间的短路情况进行检测；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨旭，田娜娜，王徐鹏，任志勇，丁晓源，黄正园，
申请(专利权)人：上海中航光电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31