一种主板键盘接口的测试电路、系统及其测试方法技术方案

一种主板键盘接口的测试电路、系统及其测试方法，测试电路包括依次连接的启动电路、控制电路、开关电路和键盘排线接口；启动电路用于发送启动测试信号；控制电路用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；开关电路用于接收地址信号，并根据地址信号对所述主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。本发明专利技术利用控制电路模拟输出键盘按键对应的地址，再结合开关电路模拟键盘敲击被按下，取代了人工逐个敲击测试，实现了自动全键盘测试的效果。测试效率大幅度提高的同时，可靠性显著提高，且大大降低了人力财力的消耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机测试领域，更具体地说，涉及一种对电脑主板键盘的接口进行自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路、系统及其测试方法。
技术介绍
电脑生产厂商主板的矩阵键盘(KBMX)接口在出厂前必须对其进行全键盘的测试，测试方法为:人工逐个敲击键盘，在测试软件界面观察模拟键盘的各个按键是否全部有效(例如按键颜色由灰色变为绿色)进而判断接口是否合格。这种人工全键盘敲击的方式，需要耗费大量人力资源且效率低下，有些厂商为减少工时，甚至采用人工敲击部分键盘按键测试，但如果有没测的按键接口或EC引脚有空焊或连锡，则会有漏测的风险而导致不良产品流出。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述主板键盘接口测试时的测试效率低、可靠性差、耗时耗力的缺陷，提供一种可以实现自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路、系统及其测试方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，包括依次连接的启动电路、控制电路、开关电路和键盘排线接口 ；所述键盘排线接口用于连接待测试主板键盘接口 ；所述启动电路用于发送启动测试信号；所述控制电路用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；所述开关电路用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。本专利技术所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述控制电路包括型号为STC11F04E的单片机，所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片；所述单片机的P37引脚连接至所述启动电路；所述模拟开关阵列芯片的AXO引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机的PlO引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片的AYO引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P14引脚至P16引脚；所述模拟开关阵列芯片的STB引脚、DAT引脚、RST引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P35引脚、P33引脚、P32引脚。本专利技术所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述键盘排线接口包括第一键盘排线接口和第二键盘排线接口，所述启动电路还连接至所述第一键盘排线接口 ；所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片；所述模拟开关阵列芯片的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口中的24个对应的引脚，所述模拟开关阵列芯片的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚还分别一一对应的连接至所述第二键盘排线接口中的24个对应的引脚。本专利技术所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路包括:一个3脚的排针、连接在所述排针上的短路帽、MOS管、按键开关；所述按键开关的一个引脚接地，所述按键开关的另一个引脚连接至所述MOS管的漏极；所述MOS管的漏极连接至所述控制电路，所述MOS管的源极连接至所述排针的2号引脚，所述MOS管的栅极和所述排针的I号引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口中的2个对应的引脚；测试时，根据主板键盘接口对应的键盘类型选择第一键盘排线接口或第二键盘排线接口:当选择第一键盘排线接口时，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发，进行自动触发时，所述短路帽插接在所述排针的I号引脚和2号引脚上；当选择第二键盘排线接口时，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发。本专利技术所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路还包括用于模拟CAP指示灯的发光二极管；所述发光二极管的负极连接至所述排针的I号引脚，所述发光二极管的正极连接至所述MOS管的栅极。本专利技术所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发；所述启动电路包括按键开关；所述按键开关的一个引脚接地，所述按键开关的另一个引脚连接至所述控制电路。本专利技术还公开了一种主板键盘接口的测试系统，包括具有测试模块的测试台，还包括与所述测试台连接的所述的主板键盘接口的测试电路；所述测试模块用于根据待测试键盘接口的按键引脚的导通情况判断待测试键盘接口是否合格并将测试结果进行显示。本专利技术还公开了一种主板键盘接口的测试方法，使用所述的主板键盘接口的测试电路模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，所述方法包括:S0、将键盘排线接口连接待测试主板键盘接口 ；S1、启动电路发送启动测试信号；S2、控制电路接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号;S3、开关电路接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。本专利技术所述的主板键盘接口的测试方法，其中，所述启动测试信号为低电平，所述控制电路包括型号为STC11F04E的单片机，所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片，键盘中的每个按键对应一个地址信号，所述步骤S2具体包括:S21、单片机的P37引脚接收到低电平；S22、单片机的P32引脚输出高电平的复位信号；针对每个地址信号,逐个执行步骤S23:S23、单片机的PlO引脚至P16引脚并行输出地址信号，单片机的P33引脚发送DAT导通/断开信号作为开关数据，单片机的P35引脚发送STB选通脉冲信号。本专利技术所述的主板键盘接口的测试方法，其中，所述步骤S3具体包括:S31、模拟开关阵列芯片的引脚AXO至引脚AX3以及引脚AYO至引脚AY2并行接收所述地址信号，模拟开关阵列芯片的接口控制逻辑根据所述地址信号产生ADDR地址，并在接收到STB选通脉冲信号时，产生ACT激活脉冲；S32、在ACT激活脉冲激活期间，模拟开关阵列芯片的DAT引脚实时接收输入的开关数据并将其写入由所述ADDR地址译码指定的锁存器，进而实现控制模拟开关阵列芯片内的对应的模拟开关实时地导通或者关闭；S33、模拟开关共同控制对应的XO引脚至X15引脚和YO引脚至Y7引脚的导通和关闭。实施本专利技术的主板键盘接口的测试电路、系统及其测试方法，具有以下有益效果:本专利技术利用控制电路模拟输出键盘按键对应的地址，再结合开关电路输出模拟按键信号以模拟键盘敲击被按下，利用控制电路自动控制键盘的逐个测试，取代了人工逐个敲击测试，实现了自动全键盘测试的效果。测试效率大幅度提高的同时，可靠性显著提高，且大大降低了人力财力的消耗。【附图说明】下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中:图1是本专利技术一种主板键盘接口的测试电路的结构示意图；图2是本专利技术一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的启动电路的电路图；图3是本专利技术一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的控制电路的电路图；图4是本专利技术一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的开关电路的电路图；图5是笔记本电脑键盘矩阵结构示意图；图6是笔记本电脑键盘结构示意图；图7是本专利技术一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的键盘排线接口的结构示意图。【具体实施方式】为了解决现有技术的中主板键盘接口测试时的测试效率低、可靠性差、耗时耗力的缺陷，本专利技术提供一种可以实现自动全键盘测试的主板键盘接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，其特征在于，包括依次连接的启动电路（100）、控制电路（200）、开关电路（300）和键盘排线接口（400）；所述键盘排线接口（400）用于连接待测试主板键盘接口；所述启动电路（100）用于发送启动测试信号；所述控制电路（200）用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；所述开关电路（300）用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。

【技术特征摘要】
1.一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，其特征在于，包括依次连接的启动电路(100)、控制电路(200)、开关电路(300)和键盘排线接口(400)； 所述键盘排线接口(400)用于连接待测试主板键盘接口 ； 所述启动电路(100)用于发送启动测试信号； 所述控制电路(200)用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号； 所述开关电路(300)用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。2.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述控制电路(200)包括型号为STC11F04E的单片机(U1)，所述开关电路(300)包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片(U2)； 所述单片机(Ul)的P37引脚连接至所述启动电路(100)； 所述模拟开关阵列芯片(U2)的AXO引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机(Ul)的PlO引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片(U2)的AYO引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机(Ul)的P14引脚至P16引脚； 所述模拟开关阵列芯片(U2)的STB引脚、DAT引脚、RST引脚分别一一对应的连接至所述单片机(Ul)的P35引脚、P33引脚、P32引脚。3.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述键盘排线接口(400 )包括第一键盘排线接口( KBCONl)和第二键盘排线接口( CONNl)，所述启动电路(100 )还连接至所述第一键盘排线接口(KBC0N1);所述开关电路(300)包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片(U2); 所述模拟开关阵列芯片(U2)的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口(KBCONl)中的24个对应的引脚，所述模拟开关阵列芯片(U2)的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚还分别一一对应的连接至所述第二键盘排线接口(CONNl)中的24个对应的引脚。4.根据权利要求3所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于， 所述启动电路(100)包括:一个3脚的排针(J1)、连接在所述排针(Jl)上的短路帽(JP1)、M0S 管(QN1)、按键开关(SWl)； 所述按键开关(SWl)的一个引脚接地，所述按键开关(SWl)的另一个引脚连接至所述MOS管(QNl)的漏极；所述MOS管(QNl)的漏极连接至所述控制电路(200)，所述MOS管(QNl)的源极连接至所述排针(Jl)的2号引脚，所述MOS管(QNl)的栅极和所述排针(Jl)的I号引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口(KBCONl)中的2个对应的引脚； 测试时，根据主板键盘接口对应的键盘类型选择第一键盘排线接口(KBC0N1)或第二键盘排线接口(CONNl):当选择第一键盘排线接口(KBCONl)时，所述启动电路(100)发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发，进行自动触发时，所述短路帽(JPl)插接在所述排针(J...

【专利技术属性】
技术研发人员：程匹克，冯琦，
申请(专利权)人：合肥宝龙达信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34