本发明专利技术涉及半导体装置。如果作为信号延迟检测电路的组件的异或电路本身已经未能正确地操作，则不能准确地检测到信号延迟。故障预先检测电路12包括用于使与设置在触发器FF0的后续级中的触发器FF1的数据输入端子并行输入的输入数据延迟的延迟电路DL、接收延迟电路DL的输出的触发器FFT、以及将触发器FF1的输出与触发器FFT的输出进行比较的比较器CMP。在用于测试故障预先检测电路12的操作的操作测试模式中将测试数据tv1和测试数据tv2输入到故障预先检测电路12。测试数据tv2被输入到延迟电路DL。在操作测试模式中比较器CMP将测试数据tv1和触发器FFT的输出进行比较。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及半导体装置。如果作为信号延迟检测电路的组件的异或电路本身已经未能正确地操作，则不能准确地检测到信号延迟。故障预先检测电路12包括用于使与设置在触发器FF0的后续级中的触发器FF1的数据输入端子并行输入的输入数据延迟的延迟电路DL、接收延迟电路DL的输出的触发器FFT、以及将触发器FF1的输出与触发器FFT的输出进行比较的比较器CMP。在用于测试故障预先检测电路12的操作的操作测试模式中将测试数据tv1和测试数据tv2输入到故障预先检测电路12。测试数据tv2被输入到延迟电路DL。在操作测试模式中比较器CMP将测试数据tv1和触发器FFT的输出进行比较。【专利说明】半导体装置相关申请的交叉引用将2012年11月30日提交的日本专利申请N0.2012-262826的公开内容(包括说明书、附图以及摘要)通过引用全部并入在本申请中。
本专利技术涉及半导体装置，特别地，涉及具有检测由例如由于温度上升导致的信号延迟所引起的故障风险的功能的半导体装置。
技术介绍
有时候，在半导体装置内的电路中可能出现任何故障，引起电源和地之间的低电阻的短路。结果，温度上升，引起内部电路中的信号传送的延迟。为了检测这种信号延迟，在例如专利文献I (日本公开的未经审查的专利申请N0.2008-256491)中描述的信号延迟检测电路包括一个或更多个延迟检测单元,每个延迟检测单元具有至少一个信号传播延迟电路(I)以及异或电路(exclusive OR circuitXC),该异或电路接收从信号传播延迟电路(I)输出的信号(B)和经过从信号传播延迟电路(I)的输入段分岔出来的信号传送路径的信号C并且输出信号。使用从异或电路(C)输出的数字信号，确定信号传播延迟电路(I)是否表现异常。日本公开的未经审查的专利申请N0.2008-256491
技术实现思路
然而，在专利文献I中，存在如下的问题，即如果作为信号延迟检测电路的组件的异或电路(C)本身未能正确地操作，则不能准确地检测信号延迟。此外，在专利文献I中，没有公开用于检测两个触发器之间的信号延迟的配置。根据在本说明书中的以下描述和附图，其它问题和新颖的特征将变得清晰。根据本专利技术的一个实施例，一种故障预先检测电路包括:延迟元件，用于使与设置在第一触发器的后续级中的第二触发器的数据输入端子并行输入的输入数据延迟；第三触发器，用于接收延迟元件的输出；以及比较器，用于将第二触发器的输出与第三触发器的输出进行比较。在用于测试所述故障预先检测电路的操作的操作测试模式中，第一测试数据和第二测试数据被输入到所述故障预先检测电路，并且第二测试数据被输入到延迟元件。在所述操作测试模式中比较器将第一测试数据和第三触发器的输出进行比较。根据本专利技术的一个实施例，可以检测用于检测信号延迟的电路本身的失效，因此，可以准确地检测由过热等引起的信号延迟。【专利附图】【附图说明】图1是描绘第一实施例的微型计算机的一部分的配置的图。图2是用于说明通常操作模式中的正常操作的图。图3是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的图。图4是描绘第一实施例的微型计算机的配置的图。图5是表示由微型计算机I执行的故障预先检测过程的流程图。图6是表示图5中的步骤S202中的用于检测故障预先检测电路本身的失效的过程的流程图。图7是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。图8是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。图9是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。图10是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。图11是描绘第二实施例的微型计算机的一部分的配置的图。图12是用于说明通常操作模式中的正常操作的图。图13是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的示例的图。图14是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的另一个示例的图。图15是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的又一个示例的图。图16是描绘第三实施例的微型计算机的配置的图。图17是描绘第四实施例的微型计算机的配置的图。【具体实施方式】 在下文中，将通过附图描述本专利技术的实施例。第一实施例图1是描绘第一实施例的微型计算机的一部分的配置的图。参考图1，微型计算机具有用作功能电路的触发器FF0、逻辑电路11、触发器FF1、以及触发器FF2。微型计算机I具有故障预先检测电路12，该故障预先检测电路12被设置在从触发器FFO与触发器FFl之间的路线(route)分岔出来的路线上。故障预先检测电路12具有由选择器SL2、延迟电路DLl和触发器FFT组成的延迟侧路径、通过选择器SLl的参考侧路径、以及比较来自延迟侧路径和参考侧路径的两个信号的比较器CMP。触发器FFO具有在通常操作模式中输入实际数据的数据输入端子、输入时钟CLK的输入端子和输出端子。逻辑电路11接收从触发器FFO的输出端子输出的数据，并且执行数据的逻辑运算坐寸ο逻辑电路11的输出分岔成两个路线，其中的一个耦接到触发器FFl并且另一个耦接到故障预先检测电路12中的选择器SL2。触发器FFl具有在通常操作模式中接收逻辑电路11的输出的数据输入端子、输入时钟CLK的时钟端子、以及输出端子。触发器FFl的输出分岔成两个路线，其中的一个耦接到触发器FF2并且另一个耦接到故障预先检测电路12中的选择器SLl。触发器FF2具有在通常操作模式中接收触发器FFl的输出的数据输入端子、输入时钟CLK的时钟端子、以及输出端子。选择器SL2接收从逻辑电路11输出的数据以及测试数据tv2。当测试模式信号tm被激活时，选择器SL2将测试数据tv2输出到延迟电路DL。当测试模式信号tm被去激活时，选择器SL2将从逻辑电路11输出的数据输出到延迟电路DL。延迟电路DL使选择器SL2的输出信号延迟。由延迟电路DL进行的延迟的量被设定为在操作温度已经变得超出保证操作的温度范围之外的情况下比较器CMP可以通过其确定出现故障的值。触发器FFT具有接收延迟电路DL的输出的数据输入端子、输入时钟CLK的时钟端子、以及输出端子。选择器SLl接收从触发器FFl输出的数据以及测试数据tvl。当测试模式信号tm被激活时，选择器SLl将测试数据tvl输出到比较器CMP。当测试模式信号tm被去激活时，选择器SLl将从触发器FFl输出的数据输出到比较器CMP。比较器CMP是例如XNOR电路；它在选择器SLl的输出信号和触发器FFT的输出信号同相时将比较结果信号DS设定为“高”电平，以及在两个输出信号不同相时将比较结果信号DS设定为“低”电平。更具体地，在测试操作模式中，比较器CMP在测试数据tvl与经过延迟电路DL和触发器FFT的测试数据tv2同相时将比较结果信号DS设定为“高”电平，以及在两个测试数据不同相时将比较结果信号DS设定为“低”电平。在通常操作模式中，比较器CMP在经过触发器FFl的实际数据与经过延迟电路DL和触发器FFT的实际数据同相时将比较结果信号DS设定为“高”电平，以及在两个实际数据不同相时将比较结果信号DS设定为“低”电平。在图1中，选择器SLl被放置在触发器FFl之后。选择器SLl的这个放置使得能够在不影响本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半导体装置，包括：第一触发器；第二触发器，被设置在第一触发器的后续级中；以及故障预先检测电路，被设置在从到第二触发器的数据输入端子的路线分岔出来的路线上，所述故障预先检测电路包括：延迟元件，用于使与第二触发器的数据输入端子并行输入的输入数据延迟；第三触发器，用于接收延迟元件的输出；以及比较器，用于将第二触发器的输出与第三触发器的输出进行比较，其中在用于测试所述故障预先检测电路的操作的操作测试模式中，第一测试数据和第二测试数据被输入到所述故障预先检测电路，并且第二测试数据被输入到延迟元件，以及其中在所述操作测试模式中比较器将第一测试数据和第三触发器的输出进行比较。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：伊藤一幸，城田博史，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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