半导体器件制造技术

技术编号:41313458 阅读:21 留言:0更新日期:2024-05-13 14:55
一种半导体器件,其包括包含多个布线层的布线衬底和包含第一模拟电路的半导体芯片。能够向该第一模拟电路供应第一电源电位的电源电位图案和能够向该第一模拟电路供应第一参考电位的参考电位图案与该第一模拟电路电连接。该电源电位图案设置在该多个布线层之中最接近该布线衬底的下表面的第一布线层中。该参考电位图案设置在该第一布线层之后最接近该下表面的第二布线层中。该电源电位图案和该参考电位图案在彼此相同的方向上延伸,同时在透视平面图中彼此重叠。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及一种半导体器件


技术介绍

1、[专利文献1]日本未审查专利申请公开第2005-340247号

2、存在一种半导体器件,其中半导体芯片通过倒装芯片连接方法安装在包括多个布线层的布线衬底上。例如,专利文献1公开了一种结构,作为对抗布线衬底中的数字信号的串扰噪声的对策,在该结构中,各自用作屏蔽的接地平面和电源平面(“平面”是指大面积导体图案)被布置在其中布置信号传输端子的布线层和其中布置信号传输布线的布线层之间。


技术实现思路

1、为了稳定半导体器件中的电路的操作,随着半导体器件的更高功能化,需要一种用于减少被配置为向电路供电的路径中的噪声的影响的技术。例如,可以在半导体器件中的半导体芯片中提供诸如锁相环(pll)电路的模拟电路以便稳定数字信号的传输质量。与数字电路相比,噪声更容易影响模拟电路中的电路操作,并且因此被配置为向模拟电路供电的路径可以优选地在路径距离上短于其他路径(诸如被配置为向数字电路供电的路径)。

2、然而,随着半导体器件的更高功能性,半导体器件中外部端子的数量趋本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体器件,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体器件,

3.根据权利要求2所述的半导体器件,

4.根据权利要求2所述的半导体器件,

5.根据权利要求4所述的半导体器件,

6.根据权利要求2所述的半导体器件,

7.根据权利要求2所述的半导体器件,

8.根据权利要求1所述的半导体器件,

9.根据权利要求8所述的半导体器件,

10.根据权利要求9所述的半导体器件,

11.根据权利要求10所述的半导体器件,

12.根据权利要求1所述的半导体器件,

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【技术特征摘要】

1.一种半导体器件,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体器件,

3.根据权利要求2所述的半导体器件,

4.根据权利要求2所述的半导体器件,

5.根据权利要求4所述的半导体器件,

6.根据权利要求2所述的半导体器件,

7.根据权利要求2所述的半导体器件,

8.根据权利要求1所述的半导体器件,

9.根据权利要求8所述的半导体器件...

【专利技术属性】
技术研发人员:土屋惠太佃龙明
申请(专利权)人:瑞萨电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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