本发明专利技术涉及电子照相感光构件、其生产方法、处理盒和电子照相设备。电子照相感光构件的电荷输送层包含电荷输送物质、具有特定结构单元的树脂A和具有特定结构单元的树脂C作为树脂以及具有特定结构单元的化合物D，并且电荷输送层包含在包含电荷输送物质和树脂C的基体中的包含树脂A1和/或树脂A2和化合物D的区域。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及电子照相感光构件、其生产方法、处理盒和电子照相设备。电子照相感光构件的电荷输送层包含电荷输送物质、具有特定结构单元的树脂A和具有特定结构单元的树脂C作为树脂以及具有特定结构单元的化合物D，并且电荷输送层包含在包含电荷输送物质和树脂C的基体中的包含树脂A1和/或树脂A2和化合物D的区域。【专利说明】电子照相感光构件、其生产方法、处理盒和电子照相设备
本专利技术涉及电子照相感光构件以及包含电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。
技术介绍
作为包含于电子照相设备的电子照相感光构件，已流行开发包含有机光导电性物质的电子照相感光构件。电子照相感光构件通常包括支承体和形成于支承体且包含有机光导电性物质的感光层。此外，感光层通常为包含依次堆叠于支承体上的电荷产生层和电荷输送层的层压型(顺层型)。在电子照相过程中，使电子照相感光构件的表面与包括显影剂、充电构件、清洁刮板、纸和转印构件的各种材料(以下有时统称为“接触构件”)接触。因此，电子照相感光构件所需的特性之一是源于由这些接触构件引起的接触应力的图像劣化的降低。特别地，近年来，伴随电子照相感光构件耐久性的改善，需要进一步改善源于接触应力的图像劣化的降低效果的持续性和重复使用时电位变化的抑制。关于接触应力的持续缓和及电子照相感光构件重复使用时电位变化的抑制，国际公开W02010/008095提出通过使用其中将硅氧烷结构组装成分子链的硅氧烷树脂而在表面层中形成基体-区域结构的方法。该公开描述了通过使用具有组装的特定硅氧烷结构的聚酯树脂可同时获得接触应力的持续缓和及电子照相感光构件重复使用时电位变化的抑制。虽然国际公开W02010/008095中公开的电子照相感光构件获得接触应力的持续缓和及重复使用时电位变化的抑制两者，然而需要进一步改善以便实现以更高速度可操作并且能够产生大量印刷张数的电子照相设备。作为由本专利技术人进行的研究的结果，已揭示通过使电子照相感光构件在形成基体-区域结构时包含特定化合物可实现进一步改善。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供电子照相感光构件及其生产方法，其中以高水平同时实现接触应力的持续缓和及电子照相感光构件重复使用时电位变化的抑制。另一目的是提供包含电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。本专利技术涉及电子照相感光构件，其包括:支承体；形成于支承体上的电荷产生层；和形成于电荷产生层上的电荷输送层，其中电荷输送层为电子照相感光构件的表面层，并且电荷输送层具有基体-区域结构，所述基体-区域结构具有区域和基体，其中区域包含具有由下式(0-1)表示的结构单元和由下式(0-2)表示的结构单元的化合物D以及选自由具有由下式(A-1)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂Al和具有由下式(A-2)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂A2组成的组的至少一种树脂；和基体包含具有由下式(C)表示的结构单元的树脂C和电荷输送物质，且由式(A-1)表示的结构单元和由式(A-2)表示的结构单元的含量基于树脂Al和树脂A2的总质量为10质量％至40质量％:【权利要求】1.一种电子照相感光构件，其包括:支承体；形成于所述支承体上的电荷产生层；和形成于所述电荷产生层上的电荷输送层；其中所述电荷输送层为所述电子照相感光构件的表面层，和所述电荷输送层具有基体-区域结构，所述基体-区域结构具有如下的区域和基体:所述区域包含:具有由下式(0-1)表示的结构单元和由下式(0-2)表示的结构单元的化合物D ;和选自由具有由下式(A-1)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂Al以及具有由下式(A-2)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂A2组成的组的至少一种树脂；和 所述基体包含:具有由下式(C)表示的结构单元的树脂C ;和电荷输送物质； 其中 由式(A-1)表示的结构单元和由式(A-2)表示的结构单元的含量基于所述树脂Al和所述树脂A2的总质量为10质量％至40质量％， 2.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中在所述电荷输送层中的所述化合物D的含量基于所述树脂Al和所述树脂Α2的总质量为I质量％至50质量％。3.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中R62表示苯基或由式-COOR64表示的基团，其中R64表示氢原子、甲基、2-乙基己基、2-甲氧基乙基或2-羟乙基。4.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中所述化合物D的含量基于所述电荷输送层中包含的全部树脂的总质量为0.1质量％至20质量％。5.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中所述电荷输送物质为选自由三芳胺化合物、腙化合物、丁二烯化合物和烯胺化合物组成的组的至少之一。6.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中所述电荷输送物质的含量基于所述电荷输送层的总质量为25质量％至70质量％。7.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中所述树脂Al和所述树脂Α2的总含量基于所述电荷输送层中包含的全部树脂的总质量为5质量％至50质量％。8.一种电子照相感光构件的生产方法，所述电子照相感光构件包括:支承体、形成于所述支承体上的电荷产生层和形成于所述电荷产生层上的电荷输送层，所述电荷输送层为所述电子照相感光构件的表面层，所述方法包括: 制备电荷输送层用涂布液；和 通过形成所述电荷输送层用涂布液的涂膜并干燥所述涂膜来形成所述电荷输送层， 所述电荷输送层用涂布液包含: 选自由具有由下式(A-1)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂Al以及具有由下式(Α-2)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂Α2组成的组的至少一种树脂； 具有由下式(0-1)表示的结构单元和由下式(0-2)表示的结构单元的化合物D ; 具有由下式(C)表示的结构单元的树脂C ;和 电荷输送物质； 其中由式(A-1)表示的结构单元和由式(Α-2)表示的结构单元的含量基于所述树脂Al和所述树脂Α2的总质量为10质量％至40质量％， 9.一种处理盒，其可拆卸地安装到电子照相设备的主体，其中所述处理盒一体化地支承: 根据权利要求1至7任一项所述的电子照相感光构件，和 选自由充电装置、显影装置、转印装置和清洁装置组成的组的至少一种装置。10.一种电子照相设备，其包括: 根据权利要求1至7任一项所述的电子照相感光构件；和 充电装置、曝光装置、显影装置以及转印装置。【文档编号】G03G5/047GK103852982SQ201310627085【公开日】2014年6月11日 申请日期:2013年11月28日 优先权日:2012年11月30日【专利技术者】丸山晃洋, 大垣晴信, 山本友纪 申请人:佳能株式会社本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子照相感光构件，其包括：支承体；形成于所述支承体上的电荷产生层；和形成于所述电荷产生层上的电荷输送层；其中所述电荷输送层为所述电子照相感光构件的表面层，和所述电荷输送层具有基体‑区域结构，所述基体‑区域结构具有如下的区域和基体：所述区域包含：具有由下式(O‑1)表示的结构单元和由下式(O‑2)表示的结构单元的化合物D；和选自由具有由下式(A‑1)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂A1以及具有由下式(A‑2)表示的结构单元和由下式(B)表示的结构单元的树脂A2组成的组的至少一种树脂；和所述基体包含：具有由下式(C)表示的结构单元的树脂C；和电荷输送物质；其中由式(A‑1)表示的结构单元和由式(A‑2)表示的结构单元的含量基于所述树脂A1和所述树脂A2的总质量为10质量%至40质量%，其中，m11表示0或1，X11表示邻亚苯基、间亚苯基、对亚苯基、具有经亚甲基键合的两个对亚苯基的二价基团或具有经氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团，Z11和Z12各自独立地表示具有1至4个碳原子的亚烷基，R11至R14各自独立地表示具有1至4个碳原子的烷基或苯基，且n11表示括号内的结构的重复数，且所述树脂A1中的n11的平均值在20至150的范围内，其中，m21表示0或1，X21表示邻亚苯基、间亚苯基、对亚苯基、具有经亚甲基键合的两个对亚苯基的二价基团或具有经氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团，Z21至Z23各自独立地表示具有1至4个碳原子的亚烷基，R16至R27各自独立地表示具有1至4个碳原子的烷基或苯基，且n21、n22和n23各自独立地表示括号内的结构的重复数，所述树脂A2中的n21的平均值在1至10的范围内，所述树脂A2中的n22的平均值在1至10的范围内，且所述树脂A2中的n23的平均值在20至200的范围内，其中，m31表示0或1，X31表示邻亚苯基、间亚苯基、对亚苯基、具有经亚甲基键合的两个对亚苯基的二价基团或具有经氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团，Y31表示单键、亚甲基、乙叉基、丙叉基、环己叉基、苯基亚甲基、苯基乙叉基或氧原子，且R31至R38各自独立地表示氢原子或甲基，其中，m41表示0或1，X41表示邻亚苯基、间亚苯基、对亚苯基、具有经亚甲基键合的两个对亚苯基的二价基团或具有经氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团，Y41表示单键、亚甲基、乙叉基、丙叉基、环己叉基、苯基亚甲基、苯基乙叉基或氧原子，且R41至R48各自独立地表示氢原子或甲基，其中，R61表示氢原子或甲基，R62表示苯基、氰基、氨基甲酰基或由式‑COOR64表示的基团，其中R64表示氢原子、甲基、乙基、丙基、异丙基、丁基、异丁基、2‑乙基己基、壬基、异壬基、环己基、2‑甲氧基乙基或2‑羟乙基，R63表示氢原子或甲基，且n61表示括号内的结构的重复数，且所述化合物D中的n61的平均值在1至500的范围内。...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：丸山晃洋，大垣晴信，山本友纪，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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