充电构件和电子照相设备制造技术

本发明专利技术涉及充电构件和电子照相设备。提供一种充电构件，其包括：导电性支承体和表面层，所述表面层在其外表面具有凹部，并且在各凹部中保持有弹性颗粒，弹性颗粒在充电构件的表面露出，并且各凹部的壁的一部分构成充电构件的表面的一部分。

【技术实现步骤摘要】
充电构件和电子照相设备
本专利技术涉及用于电子照相设备的充电构件、和电子照相设备。
技术介绍
在日本专利申请特开No.2003-316111中，作为通过仅施加直流电压能够使如电子照相感光构件等被充电体均匀带电的充电构件，公开了具有附着在其表面层的具有大粒径和小粒径的两种颗粒的充电构件。作为通过本专利技术的专利技术人进行的研究的结果，本专利技术人认识到，在表面具有凸部的充电构件在使被充电体均匀带电方面是有效的。然而，当将此类充电构件长期使用时，污染物会累积在被充电体的表面，从而逐渐改变充电能力(chargeability)。同时，本专利技术人已认识到，在表面不具有凸部的充电构件不容易在被充电体的表面上累积污染物，因此，充电能力不容易改变。然而，此类充电构件的使用可能由于在表面缺少凸部而在使被充电体均匀带电方面是不利的。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面的目的是，提供能够长期发挥稳定的充电性能的充电构件。此外，根据本专利技术的另一方面的目的是，提供能够稳定地形成高品质的电子照相图像的电子照相设备。根据本专利技术的一个方面，提供一种充电构件，其包括：导电性支承体；和表面层，其中：所述表面层在其外表面具有彼此独立的凹部，和在各凹部中保持有弹性颗粒；弹性颗粒在充电构件的表面露出，从而在充电构件的表面形成凸部；其中，当各凹部和保持在各凹部中的弹性颗粒正交投影在支承体的表面上并且获得正交投影图像时，在正交投影图像中，存在其中将源自各凹部的投影图像的外缘和源自各凹部中的弹性颗粒的投影图像的外缘隔开的部位；各凹部的壁的一部分构成充电构件的表面的一部分；弹性颗粒具有70％以上的弹性回复率，和具有0.1N/mm2以上且3.0N/mm2以下的马氏硬度；和与在构成充电构件表面的壁的部分的表面处测量的马氏硬度相比，弹性颗粒的马氏硬度较低。根据本专利技术的另一方面，提供一种包括所述充电构件的电子照相设备。参考附图从以下示例性实施方案的描述中，本专利技术的进一步特征将变得明显。附图说明图1是用于显示充电构件的表面形态的实例的照片。图2A是用于说明充电构件的表面形状的实例的示意图。图2B是用于说明充电构件的表面形状的实例的示意图。图2C是用于说明充电构件的表面形状的实例的示意图。图2D是用于说明充电构件的表面形状的实例的示意图。图3是用于说明充电辊的构造的实例的示意图。图4A是十字头挤出成型机的实例的示意性机构图。图4B是十字头挤出口附近的实例的示意图。图5是用于示意性说明包括充电构件的电子照相设备的实例的构成图。图6A是用于说明凹部的形状的实例的示意图。图6B是用于说明凹部的形状的实例的示意图。图6C是用于说明凹部的形状的实例的示意图。图6D是用于说明凹部的形状的实例的示意图。图6E是用于说明凹部的形状的实例的示意图。图6F是用于说明凹部的形状的实例的示意图。图7是用于说明间隙的重心位置相对于弹性颗粒的重心位置的取向的示意图。具体实施方式现在将根据附图详细描述本专利技术的优选实施方案。根据本专利技术的一个方面的充电构件包括导电性支承体和一般地为导电性的表面层。表面层可以由导电性弹性材料形成。表面层的表面具有凹部。弹性颗粒保持在各凹部中。如本文使用的，术语"凹部"不仅指作为最终制品的充电构件中凹陷的部分，而且还指在包括由弹性颗粒占据的部分的表面层(典型地，导电性弹性材料的表面)中的凹陷。此外，充电构件的表面(特别是，充电构件的存在表面层的部分)具有凸部。凸部各自由弹性颗粒形成。弹性颗粒不包埋在表面层的构成材料(除了弹性颗粒之外)中，而是以从表面层的构成材料(除了弹性颗粒之外)中部分露出的状态突出。此外，在通过将各凹部和保持在凹部中的弹性颗粒正交投影在支承体的表面上而获得的正交投影图像中，存在其中将源自凹部的投影图像的外缘和源自弹性颗粒的投影图像的外缘隔开的部位。在该部位，存在由弹性颗粒的壁和凹部的壁包围的间隙。间隙的深度优选为弹性颗粒的平均粒径的1/3以上。各凹部的壁的一部分构成充电构件的表面的一部分。换言之，各凹部的壁的至少一部分在表面露出而不是被弹性颗粒覆盖。此外，弹性颗粒的马氏硬度为0.1N/mm2以上且3.0N/mm2以下。此外，与在构成充电构件表面的壁的部分(下文中，有时称作"形成间隙的凹部的壁(gap-formingconcaveportionwall)")的表面处测量的马氏硬度相比，弹性颗粒的马氏硬度较低。本专利技术的专利技术人对于根据本专利技术的充电构件尽管具有各自源自弹性颗粒的凸部但还抑制污染的机制推测如下。首先，图1为根据本专利技术的一方面的充电构件的表面的实例的说明。图2A为从沿相对于充电构件的表面的切线方向的视点的投影图(截面图)，和图2B为从沿相对于充电构件的表面的法线方向的视点的投影图。充电构件的表面是指与被充电体接触的表面或与之接近的表面。此外，充电构件通常具有预定的表面粗糙度，并将作为用于定义相对于充电构件的表面的法线方向或切线方向的基准的表面设定为通过表面粗糙度沿高度方向的平均线的表面。作为用于形成表面层的材料的导电性橡胶组合物形成凹部11。以此方式，彼此独立的各凹部存在于表面层的外表面。在各凹部11中，存在弹性颗粒。在从沿相对于充电构件的表面的法线方向的视点的投影图中，弹性颗粒的外缘和其中存在弹性颗粒的凹部的外缘的至少一部分以隔开的状态存在。换言之，在该投影图中，存在其中将源自弹性颗粒的投影图像的外缘和源自凹部的投影图像的外缘隔开的部位。在该部位中，存在由弹性颗粒的壁和凹部的壁包围的间隙。弹性颗粒形成凸部12。在各凹部11中，存在具有0.1N/mm2以上且3.0N/mm2以下的马氏硬度的弹性颗粒。用于本专利技术的弹性颗粒具有70％以上的以马氏硬度测量的弹性回复率。此外，弹性颗粒的马氏硬度低于形成间隙的凹部的壁的马氏硬度。在此类充电构件的情况下，弹性颗粒在充电构件的表面形成凸部12。因此，抵接感光构件即被充电体之前的放电区域可以均匀地带电。在感光构件上，在一些情况下存在由于例如没有通过清洁构件完全除去而无意附着的调色剂。此外，当使调色剂与弹性颗粒接触时，调色剂被压碎以附着，这作为调色剂的附着扩张的起源。结果，点状的图像浓度不均匀(以下称为“点状污染”)可能产生。由具有3.0N/mm2以下的马氏硬度的弹性颗粒形成的凸部在与感光构件的抵接部朝向凹部11的外缘和弹性颗粒的外缘之间形成的间隙沿表面层的表面的切线方向变形。在这种情况下，形成间隙的凹部的壁的马氏硬度比弹性颗粒的高，因此，弹性颗粒可以变形。换言之，源自弹性颗粒的凸部12的高度降低以抑制夹在凸部和感光构件之间的调色剂的破裂。当弹性颗粒在充电构件的表面露出时这种效果是最有效的。当由弹性颗粒的外缘和凹部的外缘的隔开而形成的间隙不存在时，没有当载荷施加于其上时弹性颗粒逃逸(escape)的地方。因此，由载荷所引起的弹性颗粒的应力的增加比存在间隙的情况大，结果调色剂被压碎。然后，在通过与感光构件的抵接辊隙后与感光构件分离之后，凸部12的高度恢复到原始状态，并且充电构件和感光构件之间的距离增大。因此，维持使被充电体均匀带电的性能。如上所述，由于本专利技术的构造，其中凸部的高度可以在当充电构件抵接感光构件时和当充电构件不与其抵接时之间大幅改变，所以感光构件可以均匀地带电并且可以抑制由点状污染产生的图像。此外，当弹性颗本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种充电构件，其特征在于，其包括：导电性支承体；和表面层，其中：所述表面层在其外表面具有彼此独立的凹部，和在各所述凹部中保持有弹性颗粒；所述弹性颗粒在所述充电构件的表面露出，从而在所述充电构件的表面形成凸部；其中，当将各所述凹部和在各所述凹部中保持的所述弹性颗粒正交投影在所述支承体的表面上并且获得正交投影图像时，在所述正交投影图像中，存在将源自各所述凹部的投影图像的外缘和源自各所述凹部中的所述弹性颗粒的投影图像的外缘隔开的部位；各所述凹部的壁的一部分构成所述充电构件的表面的一部分；所述弹性颗粒具有70％以上的弹性回复率，和具有0.1N/mm

【技术特征摘要】
2015.10.26 JP 2015-210021;2016.08.09 JP 2016-156601.一种充电构件，其特征在于，其包括：导电性支承体；和表面层，其中：所述表面层在其外表面具有彼此独立的凹部，和在各所述凹部中保持有弹性颗粒；所述弹性颗粒在所述充电构件的表面露出，从而在所述充电构件的表面形成凸部；其中，当将各所述凹部和在各所述凹部中保持的所述弹性颗粒正交投影在所述支承体的表面上并且获得正交投影图像时，在所述正交投影图像中，存在将源自各所述凹部的投影图像的外缘和源自各所述凹部中的所述弹性颗粒的投影图像的外缘隔开的部位；各所述凹部的壁的一部分构成所述充电构件的表面的一部分；所述弹性颗粒具有70％以上的弹性回复率，和具有0.1N/mm2以上且3.0N/mm2以下的马氏硬度；和与在构成所述充电构...

【专利技术属性】
技术研发人员：寺田健哉，古川匠，渡边宏晓，友水雄也，铃木敏郎，失泽谦一，下所和弘，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP