电子照相感光构件、处理盒以及电子照相设备制造技术

本发明专利技术公开了电子照相感光构件、处理盒以及电子照相设备。一种电子照相感光构件，其具有层压体和在层压体上形成的空穴输送层，其中该层压体依次具有支承体、电子输送层和电荷产生层，并且满足以下表达式(2)和(4)：|Vl2-Vl1|≤0.35...(2)0.10≤|(Vd2-Vl3)/Vd2|≤0.20...(4)。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了电子照相感光构件、处理盒以及电子照相设备。一种电子照相感光构件，其具有层压体和在层压体上形成的空穴输送层，其中该层压体依次具有支承体、电子输送层和电荷产生层，并且满足以下表达式(2)和(4)：|Vl2-Vl1|≤0.35...(2)0.10≤|(Vd2-Vl3)/Vd2|≤0.20...(4)。【专利说明】电子照相感光构件、处理盒以及电子照相设备
本专利技术涉及一种电子照相感光构件、以及具有电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。
技术介绍
作为用于处理盒和电子照相设备的电子照相感光构件，包含有机光导电性物质的电子照相感光构件是目前主要的流行趋势。电子照相感光构件通常具有支承体和在支承体上形成的感光层。然后，在支承体和感光层之间设置底涂层以便抑制由支承体侧到感光层(电荷产生层)侧的电荷注入并且抑制图像缺陷例如起雾的产生。近年来已使用具有更高感光度的电荷产生物质。但是，出现了由于随着电荷产生物质的感光度变得越大，电荷产生量变大，因此电荷易于滞留在感光层中，并且易于产生重影这样的问题。特别地，在印出图像时容易发生其中在之前的旋转时间内仅用光照射的部分浓度变高的所谓正重影的现象。公开了抑制(减少)这种重影现象的技术，其中通过在底涂层中引入电子输送物质而使底涂层成为具有电子输送能力的层(下文中也称作电子输送层)。国际专利申请的国际公开2009-505156公开了一种具有芳香族四羰基二酰亚胺骨架和交联部位的缩合聚合物(电子输送物质)，和包含具有交联剂的聚合物。日本专利申请特开2003-330209公开了将具有非水解性可聚合官能团的电子输送物质的聚合物引入底涂层中。日本专利申请特开2005-189764公开了使底涂层的电子迁移率为10_7cm2/V.sec以上以便改进电子输送能力的技术。 对于电子照相图像品质的要求目前日益提高，且对于正重影的可允许的范围明显变得严格。作为本专利技术人研究的结果揭示，国际专利申请的国际公开2009-505156和日本专利申请特开2003-330209和2005-189764中公开的抑制(减少)正重影的技术在一些情况中提供了并不充分的正重影的减少，其中仍然存在改进的空间。同时，如果使底涂层为电子输送层，并且在电子输送层具有不充分的均一性的情况中，由于重复使用后带电能力易于降低，因此需要抑制这种带电能力的降低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种抑制正重影并且抑制在重复使用之后带电能力降低的电子照相感光构件，以及具有该电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。本专利技术涉及一种电子照相感光构件，其包括层压体和在层压体上形成的空穴输送层，其中层压体包括支承体、在支承体上形成的具有dl 厚度的电子输送层、以及在电子输送层上形成的具有(12厚度的电荷产生层，并且其中层压体满足以下表达式(2)和⑷。V12-V111 ^ 0.35...(2)0.10 ( I (Vd2-V13)/Vd2 | ( 0.20...(4)在表达式(2)和(4)中，Vll表示当使所述电荷产生层的表面带电以致该表面具有由以下表达式(I)表示的Vdl电位，用光照射具有Vdl电位的该电荷产生层的表面，随后在该照射后间隔0.18秒时的所述电荷产生层的表面电位:Vdl=-50X (dl+d2) (I),其中调整所述光的强度以致当照射所述电荷产生层、随后在该照射后间隔0.20秒时的所述表面电位相对于Vdl 衰减20% ；V12表示当使所述电荷产生层的表面带电以致该表面的电位为Vdl ，用光照射具有Vdl电位的该电荷产生层的表面，随后在该照射后间隔0.22秒时的所述电荷产生层的表面电位；和V13表示当使所述电荷产生层的表面带电以致该表面具有由以下表达式(3)表示的Vd2电位，用光照射具有Vd2电位的该电荷产生层的表面，随后在该照射后间隔0.20秒时的所述电荷产生层的表面电位:Vd2=-30X (dl+d2) (3)。本专利技术还涉及处理盒，该处理盒包括以上电子照相感光构件和一体化地支承于处理盒中的选自由充电单元、显影单元、转印单元和清洁单元组成的组的至少一种单元，其中该处理盒可拆卸地安装在电子照相设备的主体上。本专利技术还涉及包括以上电子照相感光构件、充电单元、光照射单元、显影单元和转印单元的电子照相设备。本专利技术可以提供一种抑制正重影并且抑制在重复使用之后带电能力降低的电子照相感光构件，以及具有这种电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。参考附图，从以下示例性实施方案的描述中，本专利技术进一步的特征将变得明显。【专利附图】【附图说明】图1是说明进行根据本专利技术的判定方法的测定设备的轮廓构造的一个实例的图。图2是说明进行根据本专利技术的判定方法的测定设备的轮廓构造的另一个实例的图。图3A是描述Vdl、Vll和V12的示意图。图3B是描述描述Vd2和V13的示意图。图4A和图4B是说明其中不能通过根据本专利技术的判定方法设定带电的比较例的图。图5是描述常规测量方法的示意图。图6是说明具有含电子照相感光构件的处理盒的电子照相设备的轮廓构造的图。图7A是描述用于重影图像评价中的重影评价用图像的图。图7B是描述单点桂马(与国际象棋中的马的移动类似)图案图像的图。图8是说明根据本专利技术的电子照相感光构件的层构造的一个实例的图。【具体实施方式】现在将根据附图详细描述本专利技术优选的实施方案。首先，将描述判定电子照相感光构件是否满足本专利技术以上表达式⑴到⑷的判定方法(下文中还称作“根据本专利技术的判定方法”)。当进行根据本专利技术的判定方法时，温度和湿度条件可以是在使用具有电子照相感光构件的电子照相设备的环境下，并且可以是常温常湿(23° C±3° C，50%±2%RH)的环境。测量方法包括使用具有支承体、在支承体上形成的电子输送层和在电子输送层上形成的电荷产生层的层压体(下文中还称作“判定用电子照相感光构件”)的测量。此时，将空穴输送层从具有层压体和在层压体上形成的空穴输送层的电子照相感光构件上剥离下来，并且层压体可以用作测定目标。剥离空穴输送层的方法包括其中将电子照相感光构件浸溃在溶解空穴输送层并且难以溶解电子输送层和电荷产生层的溶剂中的方法，以及其中研磨空穴输送层的方法。作为溶解空穴输送层且难以溶解电子输送层和电荷产生层的溶剂，可以使用用于空穴输送层用涂布液的溶剂。溶剂的种类将在后面描述。将电子照相感光构件浸溃在空穴输送层用溶剂中以使其溶解在溶剂中，并且之后干燥，由此获得判定用电子照相感光构件。例如，通过经FTIR测量方法中的ATR方法(全反射法)不能观察到空穴输送层的树脂组分，可以证实可以将空穴输送层剥离。研磨空穴输送层的方法包括，例如，使用由Canon Inc.制造的鼓式研磨机和使用研磨带(C2000,Fujifilm Corp.制)。此时,在连续地测量空穴输送层的厚度，以至于不会由于过度地研磨空穴输送层而研磨到电荷产生层同时观察电子照相感光构件的表面，在空穴输送层全部消失时可以进行测量。通过上述方法证实在研磨进行到电荷产生层之后电荷产生层的厚度剩余0.1Oym以上的情况给出与研磨不进行到电荷产生层的情况几乎相同的值。因此，即使并不仅仅是空穴输送层，还有电荷产生层都受到研磨，在其中电荷产生层的厚度为0.10 μ m以上的情况中，仍然可以使用以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子照相感光构件，其包括：层压体，和在所述层压体上形成的空穴输送层，其中所述层压体包括：支承体，在所述支承体上形成的具有d1[μm]厚度的电子输送层，和在所述电子输送层上形成的具有d2[μm]厚度的电荷产生层，并且其中，所述层压体满足以下表达式(2)和(4)：|Vl2?Vl1|≤0.35????(2)，和0.10≤|(Vd2?Vl3)/Vd2|≤0.20????(4)其中，在所述表达式(2)和(4)中，Vl1表示当使所述电荷产生层的表面带电以致所述表面具有由以下表达式(1)表示的Vd1[V]电位，用光照射具有Vd1电位的该电荷产生层的表面，随后在所述照射后间隔0.18秒时的所述电荷产生层的表面电位：Vd1=?50×(d1+d2)????(1)，其中调整所述光的强度以致当照射所述电荷产生层、随后在该照射后间隔0.20秒时的所述表面电位相对于Vd1[V]衰减20％；Vl2表示当使所述电荷产生层的表面带电以致所述表面的电位为Vd1[V]，用光照射具有Vd1电位的该电荷产生层的表面，随后在所述照射后间隔0.22秒时的所述电荷产生层的表面电位；和Vl3表示当使所述电荷产生层的表面带电以致所述表面具有由以下表达式(3)表示的Vd2[V]电位，用光照射具有Vd2电位的该电荷产生层的表面，随后在该照射后间隔0.20秒时的所述电荷产生层的表面电位：Vd2=?30×(d1+d2)????(3)。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：关谷道代，关户邦彦，奥田笃，友野宽之，中村延博，伊藤阳太，加来贤一，石塚由香，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：