集成电路单粒子效应检测装置和系统制造方法及图纸

一种集成电路单粒子效应检测装置和系统，其中装置包括：检测控制器、真空密封腔的转接头、连接线缆、接口板；所述检测控制器的信号通道通过连接线缆与所述真空密封腔的转接头外侧连接，所述真空密封腔的转接头内侧通过连接线缆与所述接口板连接，所述接口板设于真空密封腔内；所述接口板用于连接待测集成电路；所述真空密封腔的转接头，用于隔离外界大气压，并传输检测控制器和待测集成电路之间的信号；所述检测控制器，用于检测待测集成电路是否发生单粒子效应。本发明专利技术方案提高了检测效率，降低了成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测
，特别是涉及一种集成电路单粒子效应检测装置和系统。
技术介绍
空间辐射环境中存在多种高能射线粒子，如质子、电子、α粒子和重离子等。这些粒子束源一般来自地球辐射带（地磁捕获粒子）、太阳和银河宇宙线（瞬态粒子）及次级簇射粒子（宇宙线与地球大气层作用产生），它们都会对在空间运行的卫星、航天器造成威胁，其中高能质子和重离子对集成电路的辐射损伤最大，易发生单粒子效应（SEE），导致器件工作异常或失效。据统计卫星在轨故障中71%是由空间辐射效应引起的，其中单粒子效应引起的占55%。因此，在航天器中使用抗单粒子效应的集成电路，是提高航天器运行可靠性，确保航天器遂行既定任务的关键。当前，以地面模拟为基础，研究各种类型集成电路单粒子效应的检测方法，是研制抗单粒子效应的集成电路的必要过程。随着集成电路特别是大规模集成电路在航天器电子信息系统的广泛应用，集成电路的单粒子效应问题日益得到重视。研究集成电路单粒子效应的检测方法，实现集成电路单粒子效应评估，是开展集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路单粒子效应检测装置，其特征在于，包括：检测控制器、
真空密封腔的转接头、连接线缆、接口板；
所述检测控制器的信号通道通过连接线缆与所述真空密封腔的转接头外侧
连接，所述真空密封腔的转接头内侧通过连接线缆与所述接口板连接，所述接
口板设于真空密封腔内；
所述接口板用于连接待测集成电路；
所述真空密封腔的转接头，用于隔离外界大气压，并传输检测控制器和待
测集成电路之间的信号；
所述检测控制器，用于根据待测集成电路的功能采用电子设计自动化技术
建立仿真模型；根据仿真模型的功能获取仿真向量，并将各仿真向量按照预设
规则进行切割获得对应的测试激励和响应期望值；实时获取待测集成电路的电
流并与阈值比较，判断是否发生闩锁，当没有发生闩锁时向待测集成电路发送
测试激励；获取待测集成电路的响应数据，将待测集成电路的响应数据与对应
响应期望值对比，确定待测集成电路是否发生单粒子效应。
2.根据权利要求1所述的集成电路单粒子效应检测装置，其特征在于，所
述检测控制器通过电源线与所述待测集成电路连接，所述检测控制器还用于当
待测集成电路发生闩锁时，断开与待测集成电路的连接。
3.根据权利要求1所述的集成电路单粒子效应检测装置，其特征在于，所
述接口板包括I/O接口和模拟信号接口，所述检测控制器通过所述接口板的I/O
接口与待测集成电路的I/O接口连接，所述检测控制器通过所述接口板的模拟信
号接口与待测集成电路的模拟信号接口连接。
4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈辉，王晓晗，雷志锋，师谦，肖庆中，
申请(专利权)人：工业和信息化部电子第五研究所，
类型：发明
国别省市：