本申请公开了一种基于强化学习的数字电路自动测试向量生成方法和装置。其中，该方法包括：在利用自动测试向量生成算法ATPG来为待测芯片生成测试向量的过程中，获取面向路径决策的测试生成算法PODEM的历史数据，即对待测芯片进行第一轮的故障敏化...

本申请涉及一种测试向量精简方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请将机器学习引入测试向量静态精简，通过机器学习方法预测故障的易测性，提前预测难测故障与易测故障，只对一小部分难测故障建立局部故障字典，最后基于局部故障字典进行向量精简，大大...

本申请公开了一种基于变长LFSR的测试激励压缩方法、装置及电路。其中，该电路包括：变长的LFSR模块，变长的LFSR模块具有用于接收待测芯片的原始测试向量中原始测试激励的激励输入端、用于接收控制信号的信号输入端，变长的LFSR模块用于根...

本申请涉及一种基于不完备算法进行仿真的方法和装置，方法包括：判断故障列表中是否存在故障；若故障列表中存在故障，则随机选取一个故障作为基准故障，并通过完备的自动测试向量生成算法生成基准故障的基准向量；若故障列表中仍存在故障且故障失败率未达...

本申请涉及一种针对DFF优化的逻辑仿真加速方法和装置，所述方法包括：若电路门的当前输出值和上一次的输出值不一致，则将所述电路门产生的事件加入事件队列；根据所述电路门对应的扇出门的类型，将所述扇出门加入所述事件队列或DFF标识队列，其中，...

本申请公开了一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成方法、装置及系统。其中，该系统包括：管理节点，在云平台中调整计算节点的数量，以与测试需求所需计算资源匹配；将全局队列中的测试任务分发给各计算节点；通过比对历史数据窗口和各计算节点检测到的...

本申请公开了一种面向向量精简的分布式自动测试向量生成方法和系统。该系统包括：采用远程过程调用GRPC框架的主节点和多个从节点，主节点将测试任务下发给从节点，其包括一个待测故障子集合；从节点利用原始测试向量对测试任务进行故障仿真之后，建立...

本申请涉及一种电路的插链方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请提出一套完整的插链流程，从电路解析、用户模块唯一化处理、链数/扫描单元均衡策略到电路层次关系的打平与穿透操作，替代传统的插链方案以提高电路的解析能力和处理速度，在多时钟场景...

本申请公开了一种ATPG系统测试向量生成和精简的方法和装置。该方法包括：从第一故障集合中取出一个未生成有测试向量的作为主要故障，第一故障集合保存所有待测故障；为主要故障生成原始测试立方和第一冲突子句库，第一冲突子句库保存有与主要故障相关...

本申请公开了一种产品的防伪方法、组件及系统。其中，该组件包括：存储模块，用于存储目标产品的唯一身份标识码；第一PUF模块，包括第一PUF电路和与第一PUF电路连接的连接线，连接线的部分固定在目标产品的产品包装上的防伪位置，第一PUF模块...