【技术实现步骤摘要】
本申请涉及仿真，尤其涉及一种基于不完备算法进行仿真的方法和装置。
技术介绍
1、在集成电路设计领域，电子设计自动化(electronic design automation，eda)工具是辅助设计人员完成电路设计工作的大型工业软件。数字集成电路在制造中不可避免的会引入一些缺陷，为了有效测试芯片，需要使用eda工具对电路进行可测性设计(designfor testability，dft)和自动测试向量生成(automatic test pattern generation，atpg)。
2、目前比较有代表性的确定性自动测试向量生成算法有d算法、podem算法、fan算法、socrates算法等。目前的自动测试向量生成方法存在时间过长导致无法在合理时间范围内生成向量的问题，其中一个原因是因为自动测试向量生成需要基于电路和故障位置，进行传播决策和调整决策，当决策发生冲突时，会进行回溯，当决策数量过多，或决策容易发生冲突时，就会导致算法时间过长。
3、总的来说，一个完备的自动测试向量生成方法会尝试所有的决策空间来生成向量...
【技术保护点】
1.一种基于不完备算法进行仿真的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定附加向量的数量达到所述预设数量阈值包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，以所述基准向量为约束，采用不完备的自动测试向量生成算法生成所述附加故障的附加向量，并判断所述故障列表中是否存在故障且故障失败率是否达到失败率阈值，直至所述故障列表中不存在故障或故障失败率达到失败率阈值包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：p>
6.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种基于不完备算法进行仿真的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定附加向量的数量达到所述预设数量阈值包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，以所述基准向量为约束，采用不完备的自动测试向量生成算法生成所述附加故障的附加向量，并判断所述故障列表中是否存在故障且故障失败率是否达到失败率阈值，直至所述故障列表中不存在故障或故障失败率达到失败率阈值包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔺欣瑶，叶靖，
申请(专利权)人：中科鉴芯北京科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。