【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域,具体而言,涉及一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成方法、装置及系统。
技术介绍
1、本部分旨在为权利要求书或说明书中陈述的内容提供背景或上下文,此处描述的内容不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
2、分布式atpg(distributed automatic test pattern generation,简称distributed atpg)是一种在集成电路测试领域日益受到重视的创新技术,其核心目标是通过充分利用分布式计算资源,实现对复杂集成电路ic的高效、准确测试,该技术的引入旨在应对传统测试方法在处理大规模测试和数据时所面临的挑战,为集成电路设计和制造过程带来显著的优势,传统分布式atpg的计算节点数通常是静态固定的,难以应对测试需求的快速变化。
3、现有的分布式atpg方法存在以下6个方面的问题和缺点:
4、1)固定资源配置:普通分布式atpg系统通常需要预先配置一定数量的计算节点和资源,这种固定的资源配置可能导致资源的浪费,因为在低负载时,某些节点可能处于闲置状态
...【技术保护点】
1.一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
3.根据权利要求2所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
4.根据权利要求2所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
5.根据权利要求2所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
6.一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成方法,其特征在于,应用于权利要求1至5中任意一项所述的可动态扩容的分布式自动测试向量生成系统,包括:
7.根据权利要求6所述的方
...【技术特征摘要】
1.一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
3.根据权利要求2所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
4.根据权利要求2所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
5.根据权利要求2所述的分布式自动测试向量生成系统,其特征在于,
6.一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成方法,其特征在于,应用于权利要求1至5中任意一项所述的可动态扩容的分布式自动测试向量生成系统,包括:
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【专利技术属性】
技术研发人员:汪森林,叶靖,
申请(专利权)人:中科鉴芯北京科技有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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