提供和说明了一种具有高性能中继器模式和正常中继器模式的中继器电路，其中高性能中继器模式具有快的复位能力。在一个实施例中，将开关设置到第一开关位置，以在高性能中继器模式下操作中继器电路。在另一个实施例中，将开关设置到第二开关位置，以在正常...

一种用于在线路上辅助信号跃迁的电路及其方法。第一分支电路（１５－２２、６５）使得耦合到该电路的输出（３４）的第一晶体管（１６）在上升跃迁期间导通并驱动输出（３４）至高状态以便在上升跃迁中辅助。第二分支电路（２４－３０、６６）使得耦合到该...

提供和说明了一种具有高性能中继器模式和正常中继器模式的中继器电路。在一个实施例中，将开关设置到第一开关位置，以在高性能中继器模式下操作中继器电路。在另一个实施例中，将开关设置到第二开关位置，以在正常中继器模式下操作中继器电路。

一种在线路上辅助信号跃迁的电路及其方法。该电路包括第一分支电路，该第一分支电路使得耦合到该电路的输出（３４）的第一晶体管（１６）在上升跃迁期间导通并接着断开。第一晶体管（１６）驱动输出（３４）至高状态以便在上升跃迁中辅助。该电路还包括第...

用于减少老化测试期间的温度差异的系统和方法。在一种实施方式中，测量待测试集成电路所消耗的功率。测量与该集成电路相关联的环境温度。通过调整该集成电路的体偏置电压，实现该集成电路的理想结温。通过控制各个集成电路的温度，能够减少老化测试期间的...

描述了用于减少老化测试期间的温度耗散的系统和方法。使多个待测试器件均经受体偏置电压。该体偏置电压减少或基本上最小化与该待测试器件关联的泄漏电流。因此，减少老化期间的散热。

描述了用于减少老化测试期间的温度耗散的系统和方法。待测试器件每个都经受一个体偏置电压。体偏置电压可用于控制结温（例如，在待测试器件处测量的温度）。可以逐器件地调整施加到每个待测试器件的体偏置电压，以便在每个器件处获得基本相同的结温。

公开了根据一个实施例的集成电路，其包括耦合到第一环形振荡器模块的第一受测器件（ＤＵＴ）模块和耦合到第二环形振荡器模块的第二ＤＵＴ模块。在第一模式期间对第一ＤＵＴ的电介质层施加应力，从而在第一电介质层中引起依赖于时间的电介质击穿。维持第二...