本实用新型公开了一种手动导片机，包括导片基座，导片基座上设有推块结构和限位结构，推块结构包含导杆限位块，导杆限位块固定于导片基座的下方，导杆限位块上穿设有导杆，导杆的一端连接有推块连接块，推块连接块的远离导杆端连接有推块，导杆的远离推块...

本实用新型公开了一种晶圆芯片用测试工装，包括测试机机身，测试机机身的下方依次设有上耦合板、下耦合板和芯片座；上耦合板包含测试头固定板，测试头固定板的下表面连接有第一滑块和第二滑块，第一滑块的两端分别设有第一转向连接块和第二转向连接块，第...

本实用新型公开了一种操控简单的晶圆芯片用测试工装，包括下耦合板，下耦合板的中间设有放置槽，放置槽的中间设有导通孔，放置槽的外侧周边设有呈方形阵列设置的四个等高块，每个等高块的远离放置槽中心的一侧均滚子轴承，每个滚子轴承均滚动连接有一个转...

本实用新型公开了一种晶圆芯片用新型测试工装，包括耦合板，耦合板的中间开设有圆形的通孔，耦合板上方沿着通孔的边缘设有多个均匀排列的第一滚子轴承，耦合板的上方设有与多个第一滚子轴承滚动连接的圆形的转环，转环的外侧面开设有配合第一滚子轴承的卡...

本实用新型公开了一种手动晶圆芯片测试装置，包括机台，机台的上方设有下耦合板，下耦合板的上方转动连接有圆形的转环，转环的上方设有多个均匀排列的第二固定块，多个第二固定块的靠近转环中轴线的侧面均设有一个第二滚子轴承，转环的远离其中轴线的侧面...

本实用新型公开了一种晶圆芯片测试用探针塔结构，包括圆形的底盘，底盘上沿其圆周方向开设有两个圆弧形的安装孔，两个安装孔呈中心对称且轴对称设置，底盘上连接有固定套环，两个安装孔内均卡设有一个第一固定块，两个第一固定块的远离底盘的侧面均连接有...

本实用新型公开了一种芯片测试用吸嘴安装结构，包括吸嘴，吸嘴由吸嘴座、吸嘴杆和吸嘴头依次连接组成，吸嘴座安装于压板上，压板的上方中间设有第一安装槽，第一安装槽的中间设有第一定位孔，第一安装槽内设有限位块，压板的上方连接有吸嘴支座，吸嘴支座...

本实用新型公开了一种芯片用测试机械臂，包括机身导杆连接板，机身导杆连接板上连接有第一连接轴，第一连接轴转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二连接轴，第二连接轴连接有第二段臂，第二段臂连接有第三连接轴，第三连接轴转动连接有第三段臂，第...

本实用新型公开了一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构，包括基座，基座的下方连接有固定座，基座的上表面开设有两个第三凹槽和两个第五凹槽，第三凹槽内设有第一安装孔，第五凹槽内设有第二安装孔，固定座上设有两个第三安装孔和两个第四安装孔，第三...

本实用新型公开了一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，包括两个吸嘴，吸嘴由吸嘴座、吸嘴杆和吸嘴头依次连接组成，吸嘴座连接有压板，吸嘴杆连接有限位块，吸嘴头连接有吸嘴支座，压板上设有圆形结构的两个第一安装孔，吸嘴杆上设有限位板，限位块的靠近压...

本发明公开了一种芯片测试用手动调节机械臂，包括依次转动连接的第一段臂、第二段臂和第三段臂，第一段臂连接有导杆连接块，第一段臂与两个导杆连接块之间连接有第一连接轴，第一段臂和第二段臂之间连接有第二连接轴，第二段臂和第三段臂之间连接有第三连...

本发明公开了一种芯片用测试机械臂，包括机身导杆连接板，机身导杆连接板上连接有第一连接轴，第一连接轴转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二连接轴，第二连接轴连接有第二段臂，第二段臂连接有第三连接轴，第三连接轴转动连接有第三段臂，第三段...

本发明公开了一种方便调节高度的芯片测试用探针塔结构，包括基座，基座的下方连接有固定座，基座的上表面开设有两个第三凹槽和两个第五凹槽，第三凹槽内设有第一安装孔，第五凹槽内设有第二安装孔，固定座上设有两个第三安装孔和两个第四安装孔，第三凹槽...

本发明公开了一种手动导片机，包括导片基座，导片基座上设有推块结构和限位结构，推块结构包含导杆限位块，导杆限位块固定于导片基座的下方，导杆限位块上穿设有导杆，导杆的一端连接有推块连接块，推块连接块的远离导杆端连接有推块，导杆的远离推块连接...

本实用新型公开了一种DIP系列芯片测试治具，包括治具连接板、压板、基板，所述治具连接板设置于压板的上方，所述治具连接板上开设有芯片槽，所述压板上固定有插座，所述插座的上方设有挡条，所述压板设置于基板的上方。本实用新型的有益效果是：结构清...

本实用新型公开了一种改良型芯片测试治具，包括基板，所述基板上设有芯片槽、感应槽，所述感应槽前后贯穿基板，所述基板上设有左右排列的挡块，所述挡块的中间位置设有定位柱，所述定位柱的前后两侧均设有螺孔。本实用新型的有益效果是：通过多个芯片槽实...

本实用新型公开了一种自动开盖式金属晶圆盒，包括盖子、盖框，盖子盖设与盖框上，盖框的下端设有对称布置的第一支撑板和第二支撑板，第一支撑板和第二支撑板靠近盖框端连接有对称布置的侧板，第一支撑板和第二支撑板远离盖框端连接有对称布置的加强筋和连...

本发明公开了一种DIP系列芯片测试治具，包括治具连接板、压板、基本，所述治具连接板设置于压板的上方，所述治具连接板上开设有芯片槽，所述压板上固定有插座，所述插座的上方设有挡条，所述压板设置于基板的上方。本发明的有益效果是：结构清晰明朗，...

本实用新型公开了一种浮动式芯片侦测治具，包括感应器调节组件、感应器运动组件、感应器固定组件，所述感应器调节组件设置于感应器运动组件上方，所述感应器运动组件固定于感应器固定组件，所述感应器调节组件包含感应器、感应器安装支架、支架滑块，所述...

本实用新型公开了一种用于芯片低温测试用治具，包括基座、芯片固定座，所述基座上开设有凹槽，所述凹槽的左右两端均设有条形槽，所述条形槽连接有导气条，所述芯片固定座设置于凹槽的中间上方，并和凹槽相连，所述基座内设有气腔，其位于凹槽的下方且盖设...