本发明公开了一种半导体盘类产品的芯片引脚检测方法及装置，其中方法包括在检测到待检测芯片放置于检测区域后，设置于检测装置上的环光亮灯相机被启动用以对所述待检测芯片进行环光2D图像采集；在所述环光2D图像采集完毕后，设置于检测装置上的结构光...

本申请公开了一种角度可调的双激光装置及角度调节系统。该角度可调的双激光装置包括基座，两驱动件，其主体部固定在所述基座上；两调节件，且从所述基座的一侧穿过到另一侧，且其一端分别与所述两驱动件的可转动部相连；两激光器，分别固定在所述两调节件...

本实用新型公开了一种用于半导体QFN芯片的翻转组件，包括：翻转装配架体；夹取机构，具有相传动装配的夹取基础端和夹取输出端；夹取基础端装配设于翻转装配架体，夹取输出端用于夹持带料料盘与空料盘；翻转腔座，转动装配于翻转装配架体对应于夹取机构...

本实用新型公开了一种基于半导体DIP产品的气悬浮式减伤排列送检装置，包括：装配架体，包括安装底架，安装底架固接装配有轨道支架座；定位轨道机构；轨道吹气机构，包括支撑架和吹气气源；支撑架垂直于定位轨道机构的延伸方向固接于安装底架的轨道支架...

本实用新型公开了一种用于半导体DIP产品检验的吹气式送料装置，包括：装配架体；定位轨道机构，固接装配于装配架体；导向料管机构，固接装配于装配架体，导向料管机构与定位轨道机构之间同向延伸布置，且导向料管机构沿其延伸方向的一侧端对应于定位轨...

本发明公开了一种基于DIP封装芯片检验瑕疵品的抓取归纳装置，包括：位移驱动机构，具有直线位移动能输出端；升降机构，传动固接装配于直线位移动能输出端，且升降机构具有升降动能输出端；旋转机构，传动固接装配于升降动能输出端，且旋转机构具有旋转...

本申请公开了一种芯片位置异常的检测方法及系统。该检测方法包括：接收双激光线图像；其中，所述双激光线图像为相机拍摄双激光装置分别照射落在芯片料盘的任一竖排芯片的第一预设位置和第二预设位置上的两条激光线而获得；对所述双激光线图像进行形态学处...

本实用新型公开了一种封装芯片外观检测装置，包括由移送机构和承载座组成的承载移送机构；由依次连接在承载座上的相机、镜头和一对棱镜组成的成像组件；由连接在承载座上的同轴光源和环形高亮光源组成的光源组件以及与移送机构、相机和同轴光源和环形高亮...

本发明涉及工业品检测技术领域，具体是快速实时在线深度学习系统和训练方法，包括领域AI模型单元、项目AI模型单元、项目学习训练单元、领域学习训练单元、样本数据库管理单元、项目数据库单元、领域数据库单元和质量精度控制单元；所述领域AI模型单...

本实用新型公开了一种连接器，包括第一接头，所述第一接头靠近流水线安装，所述第一接头与检测端通信连接；第二接头，所述第二接头安装在产品工装板上，所述产品工装板位于所述流水线上移动，所述第二接头与产品端通信连接；所述第二接头移动至所述第一接...

本实用新型涉及工业自动化的技术领域，特别是涉及一种基于多光谱的半导体智能检测装置，其能够有效改善产品缺陷的检测效果，提高产品检测效率，降低使用局限性；包括工作台、多光谱成像处理器、电机、减速机、主动轴、从动轴和传送带，工作台的底端设置有...

本实用新型涉及缺陷检测附属装置的技术领域，特别是涉及一种快速多面成像用缺陷检测装置，其结构简单，可快速对摄像端的角度进行调节，以提高便捷性；包括底座、第一螺纹杆、第一竖杆、第二螺纹杆和第二竖杆，底座底部固定连接有第一门型板，第一螺纹杆通...

本实用新型涉及相机的技术领域，特别是涉及一种多角度光源配合的相机，其通过取景背景板设置的三组光源反射镜使周围设置好的不同角度的三组光源通过光源反射镜反射进镜头内，通过第一透镜、第二透镜和第三透镜使光源进入相机本体内，通过反光板使光源反射...

本发明提供一种基于人工智能的垃圾分选方法，包括如下步骤：获取待分选垃圾进行粗分选后的粗分选结果；对粗分选结果的垃圾进行图像分割处理，得到单个垃圾图像；利用机器学习对分割处理后的单个垃圾图像进行图像识别处理，得到待分选垃圾的细分选结果。本...

本发明公开了一种基于多传感器融合的多机械手定位方法，包括以下步骤：1.成像传感器位置确认；2.多机械手初始位置确认；3.多机械手实时运动的角度、位移确认；4.多机械手实时位置确认；5.坐标系转换及递归滤波；6.机械手位姿信息更新、相对位...

本发明涉及深度学习技术的技术领域，特别是涉及一种用于深度学习的多层递阶式神经网络架构系统，其在更深的维度，也就是针对检测领域的特点，在深度学习的模型改进方面提出了有效的办法，发明了创新性的整体神经网路架构系统来应对具有复杂特征和相似特征...

本发明涉及工业检测的技术领域，特别是涉及一种工业检测用深度学习的AI智能模型，其可以大大减少了网络学习参数的数量，得到更精简的网络结构；同时在训练过程中也减少对一般深度学习模型大量数据的需求，更适合训练数据难以获取的生产线的自动缺陷检测...

本实用新型公开了一种AOI多功能检测龙门机构，该机构包括机架，机架上设有大理石工作台，大理石工作台上设有大理石支撑柱，大理石支撑柱上设有两平行设置的X轴直线模组，两X轴直线模组的滑块上装配有Y轴直线模组，Y轴直线模组的滑块上装配有Z轴直...

本实用新型公开了一种应用于显微观测的聚焦光路系统，该系统包括白光照明组件，包括白光光源、白光照明镜头；白光成像组件，包括阻红光滤光片、白光成像镜头和第一焦平面探测器；红光照明组件，包括红光光源、红光照明镜头、第一通红光滤光片；红光成像组...

本实用新型公开了一种OLED偏贴精度检测装置，主要解决的技术问题是现有技术中人工检测OLED屏幕贴付精度的效率低下，且引起的误差较大的问题，本实用新型通过一种OLED偏贴精度检测装置，包括至少两组可纵向移动的检测模组，两组所述检测模组分...