本发明公开了一种PCB行业滚轮式线边仓自动搬运管理方法，包括AGV搬入业务、AGV搬出业务，EAP系统通过opc ua标准通讯跟设备连接，设备发送相应事件，EAP根据设备上报事件，来判断是否搬入或者搬出；如果是搬入请求事件，EAP会通过...

本发明公开了一种WB设备自动进出站改造方法，由设备机电控对接进料口、出料口的传感器，电控器自带对外的进料光纤，通过加装PLC，PLC对外与EAP通讯，接收设备的信号，CCD接电控实现读码功能，对外开放socket接口与EAP通讯，最终由...

本发明公开了一种ADC系统自动计算缺陷面积辅助判断产品等级的方法，具体包括以下步骤：(1)AOI数据传输；(2)BC数据中转；(3)获取原始数据；(4)ADC自动缺陷分类；(5)ADC必死Code判定逻辑；(6)结果输出。本发明的有益效...

本发明公开了一种ADC系统通过灰阶图片辅助来判断Code信息的方法，具体包括如下步骤：(1)AOI图片准备，包括AOI灰阶图片收集、AOI高清图片收集、AOI高清图片打标、AOI高清图片打标结果等比例转换成对应灰阶图片的打标结果、AOI...

本发明公开了一种基于MCS新增OHS/OHT软件单元来实现提高工厂自动化搬送效率的方法，包括如下步骤：(1)将OHS/OHT中根据STK之前添加每个轨道单元；(2)客户可以根据设备调试精确的得出经过每段轨道单元的时间；(3)根据客户设备...

本发明公开了一种半导体12寸N2STK气体浓度及气压数据的监测方法，由MCS系统根据晶圆产品要求的充氮时间进行全面监控，并在S晶圆存放超过既定时间自动补氮，具体步骤包括：FOUP晶圆入N2STK,MCS向MES询问晶圆充氮时间和最长补氮...

本发明公开了一种应用于太阳能电池扩散工艺的电池片追溯方法，包括扩散上料追溯方案、扩散下料追溯方案，上料防止设备读取花篮为空，在上料时为了防止设备RFID读取花篮失败，这里通过系统接入AGV数据，系统将会记录上游来料信息，把上游数据记录在...

本发明公开了一种半导体12寸MES系统黄光区联机/单机扫描仪建模方法，包括如下步骤：(1)建立机型，机型的项目内容包含机台名称、机型名称；(2)建立机台能力，机台能力的项目内容包含机台能力名称和机台种类；(3)建立机台；(4)建立机台

本发明公开了一种基于数据库非等待锁机制的自动派工方案，采用数据库非等待锁机制去解决资源争抢的问题，同时通过自定义排序规则实现资源优先级的问题，数据库非等待锁机制包括非等待锁机制的架构模型、资源锁表，包括如下步骤：(1)当设备请求派工时，...

本发明公开了一种半导体封测工艺排程优化方案，包括如下操作步骤：(1)选择合适的分选机、测试机：(2)在排程计算之前需要先组装好参与排程的数据，需要对数据进行一遍预过滤处理；(3)通过约束来限制排程引擎给机台分配批次；(4)通过分数的高低...

本发明公开了一种基于小波变换的太阳能电池外观检测图像压缩方法，包括如下步骤：(1)本申请采用压缩分解较好的haar小波函数进行分解，得到了低频分量A，水平高频分量H，垂直高频分量V和对角高频分量D；(2)由于小波分解后的重要的有用的信息...

本发明提供一种自动计算缺陷影响像素个数和等级的方法，根据缺陷的位置、尺寸信息，确定缺陷在图片中所处区域位置；预设安全边界值Δ，将缺陷所处的区域向外增加安全边界值，获得像素对比范围；像素对比范围内的每一个像素与预设的一个像素的标准模板进行...

本发明提供一种ADC系统自动计算缺陷面积辅助判断产品等级的方法检测产品是否存在缺陷，检测到缺陷时，获取产品缺陷位置的图片；将该产品信息与产品对应的缺陷信息进行数据对应，保存在数据库中；通过解析设定的产品信息，从而获取设定产品的缺陷信息，...

本发明提供一种液晶面板生产缺陷分布图监控分析系统，其特征在于，包括：基础设备单元、生产缺陷数据采集单元、缺陷分布图生成单元、图像识别单元、生产暂停管理单元；其中，基础设备单元，用于为监控分析系统提供硬件支持；生产缺陷数据采集单元，采集液...

本发明提供一种全自动的半导体晶圆制造执行系统，非生产批次NPW模块内储存各种非生产批次模式；非生产批次NPW模块可接收所有非生产批次的待机指令，并且在接收到非生产批次的待机指令时，发出相应的非生产批次的待机指令；设备模块进入相应的非生产...

本发明公开了一种OPC客户端实现主备提高可靠性的控制方法。在OPC客户端与设备PLC之间设置多台OPC服务器，多台OPC服务器配置完全相同；多台OPC服务器同时与设备PLC通讯，OPC服务器读写设备PLC数据；多台OPC服务器同时与OP...

本发明提供一种液晶面板工业生产缺陷自动监控系统，其特征在于：包括信息配置单元、自动监控单元、告警通知单元；其中，信息配置单元用于配置监控信息；自动监控单元基于监控信息采集缺陷数据进行自动监控，并判断出是否进行告警；告警通知单元用于进行自...

本发明提供了一种用于评估半导体设备制造产能的分析系统，包括：产品进出时间获取模块、生产时长计算模块、产能评估模块、信息关联标注模块、影响产能提升因素分析模块；其中，产品进出时间获取模块获取各类型产品在半导体设备中的各生产单元的进出时间；...

本发明提供一种快速分析半导体制造中设备差异根因的系统，包括：生产参数获取模块、数据关联模块、数据库模块、数据汇总展示模块、差异影响比重排序模块、关键参数项数据展示模块；生产参数获取模块用于获取各产品在设备中生产参数项及其参数值；数据关联...

本发明公开了一种半导体晶圆检测工艺中的自动探针状态识别方法。它包括RPA服务器、KVM交换机、图像识别引擎和制造机台；在RPA服务器上增设与图像识别引擎连接的接口，RPA与图像识别引擎连接并进行数据交换；晶圆芯片pad置于测试机探针下方...