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日本分光株式会社专利技术
日本分光株式会社共有7项专利
傅里叶变换红外分光光度计制造技术
本发明提供傅里叶变换红外分光光度计(FTIR),能够顺利且高精度地执行测定光谱的波数校正。FTIR具有红外光源、干涉仪、干涉仪的可动镜的位置参照用的半导体激光器以及计算机,其中,计算机基于所存储的半导体激光器的波长值和由激光检测器得到的...
红外分光光度计制造技术
提供红外分光光度计,能够在避免密闭壳体内的结露的同时安全地执行启动动作。具备:能够开闭的密闭壳体,其收容有光学构件;红外光源,其向密闭壳体的内部照射红外光;除湿剂,其对密闭壳体的内部进行除湿;温湿度传感器,其检测密闭壳体的内部的湿度;光...
红外光谱测定装置和浓度测定装置制造方法及图纸
提供一种红外光谱测定装置和浓度测定装置,能够长时间稳定地测定规定的测定波数范围的红外光谱。红外光谱测定装置具备:傅立叶变换型红外分光光度计(10);试样部(20);试样用制冷机(22);冷滤波器(80);光检测器(30);氦制冷机(40...
示差折光率的测定方法、测定装置以及测定程序制造方法及图纸
使用具备双流类型的示差折光率检测部(RI检测部)的分析装置来使RI检测部的输出信号的噪声减少的方法如下:使用试样用泵(21)向试样用池(51)输送试样液,使用参照用泵(22)向参照用池(52)输送参照液,并通过光检测器(53)检测依次透...
圆二色性测定装置以及圆二色性测定方法制造方法及图纸
不需要基于标准试样进行校准作业的圆二色性测定装置具备:试样部(4),其具有试样;PEM(3),其对向试样部(4)的入射光或来自试样部(4)的出射光的偏振状态进行调制;光检测器(5),其检测来自试样部(4)的出射光的光强度的变化;放大器(...
相位差控制装置制造方法及图纸
本发明涉及一种能够在CD光谱仪中利用的相位差控制装置的响应性改善技术。相位差控制装置具备:分割偏振器(14),其将来自光源(12)的光分割成直线偏振的测定光和直线偏振的参照光;PEM(16),其以与分光测定相对应的方式对测定光和参照光赋...
利用光谱的高速分类进行的实时光谱解析制造技术
本发明涉及一种分光测定中的光谱解析、特别是基于光谱高速分类的光谱解析技术的改良。一种光谱解析装置(10),具备测定对象试样(30)的试样光谱的测定单元(20)和解析该试样光谱的解析单元(40),用于确定对象试样(30)中含有的化合物,所...
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