傅里叶变换红外分光光度计制造技术

本发明专利技术提供傅里叶变换红外分光光度计(FTIR)，能够顺利且高精度地执行测定光谱的波数校正。FTIR具有红外光源、干涉仪、干涉仪的可动镜的位置参照用的半导体激光器以及计算机，其中，计算机基于所存储的半导体激光器的波长值和由激光检测器得到的激光干涉波的检测值对来自试样的红外干涉波的检测信号进行傅里叶变换，从而计算光谱。计算机计算固体的参考试样的光谱，针对该参考试样的光谱在特有的峰的波数域进行插值处理，基于该插值处理后的数据来读取特有的峰的波数，更新在傅里叶变换处理中使用的半导体激光器的波长值，以使该波数的读取值落入以特有的峰的原来的波数为基准的规定的范围。的规定的范围。的规定的范围。

【技术实现步骤摘要】
傅里叶变换红外分光光度计
[0001]本申请要求2022年2月22日申请的日本专利申请2022
‑
025570号的优先权，该日本专利申请被并入于此。


[0002]本专利技术涉及一种具备波数校正功能的傅里叶变换红外分光光度计(FTIR)。

技术介绍

[0003]傅里叶变换红外分光光度计使用干涉仪，以非色散方式检测测定光的干涉波，利用计算机对该测定光的干涉波进行傅里叶变换来获取测定光的光谱数据。通过形成干涉波，能够根据由该干涉波的全部波数成分构成的强度信号并通过傅里叶变换来计算出各波数成分。傅里叶变换分光法适合高速测定，在红外分光光度计的情况下已成为主流。
[0004]在该装置中使用的干涉仪一般是迈克尔逊型干涉仪，由半透镜(分束器等)和两个反射镜(固定镜和可动镜)构成。可动镜使干涉仪的光程差可变，可动镜的位置与光程差为一对一的关系。干涉仪产生与该光程差相应的测定光的干涉波。通过检测该干涉波的强度来获得横轴具有光程差、纵轴具有强度信号的干涉图(干涉曲线)。计算机对干涉图数据进行傅里叶变换来计算光谱数据。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种傅里叶变换红外分光光度计，具备：红外光源；干涉仪，其具有分束器、固定镜以及可动镜，使用来自所述红外光源的红外光产生红外干涉波；红外检测器，其检测透过试样或被试样反射的所述红外干涉波的强度；半导体激光器，其对所述干涉仪照射激光；激光检测器，其检测基于所述激光而由所述干涉仪产生的激光干涉波的强度；存储器，其存储所述半导体激光器的波长值；以及计算机，其使用所述存储器的所述波长值和所述激光检测器的检测信号对所述红外检测器的检测信号进行傅里叶变换，从而计算试样的光谱，所述傅里叶变换红外分光光度计的特征在于，所述计算机执行以下程序：计算固体的参考试样的光谱，针对计算出的所述参考试样的光谱在所述参考试样所特有的至少一个峰的波数域进行插值处理，基于该插值处理后的数据来读取所述至少一个峰的波数，更新所述存储器的所述波长值，以使所述波数的读取值落入以特有的所述峰的原来的波数为基准的规定的范围。2.一种傅里叶变换红外分光光度计，具备：红外光源；干涉仪，其具有分束器、固定镜以及可动镜，使用来自所述红外光源的红外光产生红外干涉波；红外检测器，其检测透过试样或被试样反射的所述红外干涉波的强度；半导体激光器，其对所述干涉仪照射激光；激光检测器，其检测基于所述激光而由所述干涉仪产生的激光干涉波的强度；存储器，其存储所述半导体激光器的波长值；计算机，其使用所述存储器的所述波长值和所述激光检测器的检测信号对所述红外检测器的检测信号进行傅里叶变换，从而计算试样的光谱；帕尔贴元件，其用于进行所述半导体激光器的温度调整；以及所述帕尔贴元件的调温控制器，所述傅里叶变换红外分光光度计的特征在于，所述计算机执行以下程序：计算固体的参考试样的光谱，针对计算出的所述参考试样的光谱在所述参考试样所特有的至少一个峰的波数域进行插值处理，基于该插值处理后的数据来读取所述至少一个峰的波数，使所述帕尔贴元件的所述调温控制器进行动作来调整所述半导体激光器的温度，以使所述波数的读取值落入以特有的所述峰的原来的波数为基准的规定的范围。3.一种傅里叶变换红外分光光度计，具备：红外光源；干...

【专利技术属性】
技术研发人员：胜俣友裕，杉山周巳，
申请(专利权)人：日本分光株式会社，
类型：发明
国别省市：