专利查询
首页
专利评估
登录
注册
日本电子株式会社专利技术
日本电子株式会社共有85项专利
化合物和衍生物化试剂、以及化合物的合成方法技术
化合物和衍生物化试剂、以及化合物的合成方法。[课题]提供:能实现进一步改善具有二烯的化合物(特别是可以举出维生素D代谢物)的检测灵敏度的化合物。[解决方案]提供下述的通式(100)所示的化合物。(该通式(100)中,n为2以上的整数。)))
坐标链接系统和坐标链接方法技术方案
一种坐标链接系统和坐标链接方法,其中,观察装置(10)所具有的装置坐标系(16)上的观察坐标通过变换式(24)变换为假想坐标系(22)上的观察坐标。接着,假想坐标系(22)上的观察坐标通过逆变换式(32)变换为另一观察装置(12)所具有...
带电粒子束装置和设定辅助方法制造方法及图纸
一种带电粒子束装置和设定辅助方法,基于照射条件和试样的元素信息,生成参照像(82、202)。参照像(82、202)包含示出特征X射线产生范围的图形(112)、示出特征X射线产生深度的数值(114)等。伴随着加速电压、倾角或构成试样的元素...
自动分析装置、保冷箱和小袋制造方法及图纸
本发明提供自动分析装置、保冷箱和小袋,同时实现抑制保冷箱的密闭性的降低和提高对检查体的分析造成不良影响的成分的去除率。一种保冷箱,其用于自动分析装置,其中,该保冷箱具备:保冷箱主体,其具有能够收纳容器的收纳空间,该容器容纳检查体或试剂;...
自动分析装置和自动分析装置的控制方法制造方法及图纸
提供一种自动分析装置和自动分析装置的控制方法,不用使用户知道参数,就能够迅速地应对超出用户管理者权限的参数的变更。本发明的自动分析装置具备:码输入部(50),其用于输入包含与检体的测定相关联的参数信息的被编码后的码;解码部(46),其对...
NMR测定系统和试样管居中方法技术方案
一种NMR测定系统和试样管居中方法,其中,旋转机构(24、108)具有轴承机构(56、110)和驱动机构(62、112)。在装载试样单元(22、100)之前,向轴承机构(56、110)供应轴承气体。在将试样单元(22、100)插入的过程...
自动分析装置和自动分析方法制造方法及图纸
本发明提供一种自动分析装置和自动分析方法,能够使用稳定的浓度的检查体提高分析精度,将检查体的废弃量抑制到最小限度来提高检查体的利用效率。自动分析装置具备:保持贮存有检查体的检查体容器的检查体保持部;保持多个分注容器的分注容器保持部;分注...
试样板保持器制造技术
一种试样板保持器,在保持器主体(12)内设置有第1弹簧列(34)和第2弹簧列(36)。在保持器主体(12)内最大能设置3个试样板(16、18)。虽然各试样板(16、18)受到来自第1弹簧列34和第2弹簧列36的上推力,但各试样板(16、...
带电粒子束装置的焦点调整方法和带电粒子束装置制造方法及图纸
提供能够降低磁场透镜的磁滞影响的带电粒子束装置的焦点调整方法。一种包含用于调整焦点的磁场透镜、以及像散校正器的带电粒子束装置的焦点调整方法,包含以下工序:使磁场透镜的励磁电流在焦点搜索范围内变化来取得焦点相互不同的多个第1图像,基于多个...
自动分析装置和自动分析装置的控制方法制造方法及图纸
提供能够减少搅拌棒上的污垢粘附的自动分析装置。自动分析装置(100)包含:搅拌部(140),其具备搅拌棒(142);清洗部(146),其进行搅拌棒(142)的清洗;以及控制部,其控制搅拌部(140)和清洗部(146),控制部进行:第1处...
X射线分析系统和X射线分析方法技术方案
一种X射线分析系统和X射线分析方法,针对反映出价带的电子状态的Lα峰(70C)和Lβ峰(70D)设定3个ROI:ROI‑c、ROI‑d、ROI‑e。用ROI‑a内的累计值将ROI‑c、ROI‑d、ROI‑e内的累计值标准化,从而求出试样...
自动分析装置和自动分析装置的控制方法制造方法及图纸
提供一种能避免经由试剂分注探针或搅拌棒的检体间交叉污染的自动分析装置和自动分析装置的控制方法。自动分析装置具备将试剂分注到反应容器的试剂分注探针、将检体分注到反应容器的检体分注探针、对反应容器内的检体和试剂进行搅拌的搅拌棒、以及存储包含...
自动分析装置制造方法及图纸
提供使用便利性好的自动分析装置。本发明的自动分析装置包含:输入受理部,其受理:用于对检体信息的检索条件进行指定的操作、用于执行检体信息的检索的操作、以及用于对是否仅将测定中的检体的检体信息作为检索对象进行指定的操作;以及显示控制部,其在...
间接加热蒸镀源制造技术
本发明提供一种能够谋求容器的大容量化的间接加热蒸镀源。间接加热蒸镀源(1)具备:容器(内衬(2)),其形成为有底的筒状,且供蒸镀材料(4)填充;容器保持部(保持件(3)),其保持容器;电子源(8),其放出用于对容器进行电子冲击加热的热电...
带电粒子束装置制造方法及图纸
一种带电粒子束装置,其中,拍摄器(30)对由试样载台(20)保持的试样保持器(22)进行拍摄。在拍摄器(30)的前方(对象物侧)设置有发光器阵列(32)和掩模阵列(34)。由发光器阵列(32)产生多个光束。多个光束的多个中央部分被掩模阵...
离子束电流测定装置及计算方法、试样制成装置制造方法及图纸
本发明提供一种离子束电流测定装置及计算方法、试样制成装置。不扰乱离子源内的离子化状态地计算出离子束电流值。本发明的一个方式具备:高压施加电路,其基于电压条件,向离子源的阳极与阴极之间施加电压来向阳极供给输出电流;气体流量调整机构,其调整...
带电粒子束系统和使用扫描电子显微镜的试样测定方法技术方案
一种带电粒子束系统和使用扫描电子显微镜的试样测定方法,基于对试样(30)的三维形状计测的结果,生成表示包含试样(30)的试样单元(26)的三维形状的第1形状数据。另一方面,生成表示存在于试样室(18)内的结构物的三维形状的第2形状数据。...
自动分析装置制造方法及图纸
本发明提供一种在分注探头的浸渍是过量浸渍的情况下能够进行与运用相对应的动作自动分析装置。测量部(1a)具有:容纳单元,其具有容纳有液体的多个容器;分注单元,其具有用于分注液体的分注探头;以及计量部,其对通过分注单元分注的液体进行计量。过...
自动分析装置和记录介质制造方法及图纸
本发明提供一种自动分析装置和记录介质。能够以更高的精度检测出由于在液体表面产生的气泡引起的液面探测的误探测。本发明的一个方式为,在自动分析装置(10)中,特征量提取部(71)从在分注探针(1a)开始下降起直到经过固定时间为止的期间由振荡...
真空冷却装置和离子铣削装置制造方法及图纸
本发明提供能够抑制试样的结露且能够在短时间内加热试样的真空冷却装置和离子铣削装置。离子铣削装置(1)具有试样保持件(3)、真空室(2)、排气部(13)、真空计(15)、加热器(6)、气体导入部(14)以及控制部(10)。排气部(13)将...
首页
<<
1
2
3
4
5
>>
尾页
科研机构数量排行前10
华为技术有限公司
134485
珠海格力电器股份有限公司
99367
中国石油化工股份有限公司
87773
浙江大学
81467
三星电子株式会社
68335
中兴通讯股份有限公司
67403
国家电网公司
59735
清华大学
56623
腾讯科技深圳有限公司
54362
华南理工大学
51829
最新更新发明人
LG电子株式会社
27726
交互数字专利控股公司
2505
日铁化学材料株式会社
428
南京逐陆医药科技有限公司
40
青庭智能科技苏州有限公司
14
索尼互动娱乐股份有限公司
758
思齐乐私人有限公司
12
格莱科新诺威逊私人有限公司
2
北京卡尤迪生物科技股份有限公司
14
微软技术许可有限责任公司
8923